一种利用等离子体射流减小支杆堵塞效应的稳态压力探针梳制造技术

本发明专利技术属于流场压力测试技术领域，具体涉及一种利用等离子体射流减小支杆堵塞效应的稳态压力探针梳。探针头部包含多个稳态压力探头，与探针梳支杆焊接；引压管封装于探针梳支杆和安装座内部，一端与探针头部的测压孔相通，另一端由安装座尾部引出；探针梳支杆与安装座焊接，其内部包含多个相互独立的结构：引压管通道和等离子体发生腔；电极安装在等离子体发生腔内部，电极引出线缆从安装座尾部引出；等离子体发生腔开设一个射流槽，与探针梳支杆下游相通。本发明专利技术探针梳通过在支杆内部产生等离子体，并通过等离子体发生器工作时产生的吹气和吸气作用控制气流经过支杆后的尾迹，能有效减弱探针梳支杆的堵塞效应，减少支杆对被测流场的干扰。

A stable pressure probe comb using plasma jet to reduce the blockage effect of strut

【技术实现步骤摘要】
一种利用等离子体射流减小支杆堵塞效应的稳态压力探针梳
本专利技术属于流场压力测试
，具体涉及一种利用等离子体射流减小支杆堵塞效应的稳态压力探针梳，适用于叶轮机械内亚音速稳态流场中沿叶片高度方向多点压力的测量。
技术介绍
在叶轮机械如风扇、压气机、涡轮的进出口和级间的亚音速稳态流场测量中，通常采用接触式压力测量装置获取其总压、静压、马赫数、气流角等流场参数。压力测量装置有单点压力探针和多点压力探针梳两种。多点压力探针梳一般由3～5个三孔、四孔或五孔压力探头组成，这些探头需要支杆支撑并插入到被测流场中测量，而支杆在流场中引起的堵塞效应不可避免的会对流场产生干扰，造成流动掺混损失增加、部件性能下降，甚至影响部件的正常运行。特别是当探针梳在小尺寸压气机中测量时，堵塞效应更加严重，甚至会引起失速喘振的发生。在流速较高的被测流场中测量时，探针梳支杆不仅会改变其附近的气流参数，还会在支杆后方产生明显的三维非定常尾迹，这些尾迹会随着叶轮机械的运动向下游传播，甚至也会影响上游的流场。针对探针梳支杆对流场的影响问题通常有如下两种改进方法：一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用等离子体射流减小支杆堵塞效应的稳态压力探针梳，其特征在于：由探针梳支杆(1)、探针头部(2)、安装座(3)、射流槽(4)、引压管(5)、引压管通道(6)、等离子体发生腔(7)、电极(8)、端部绝热绝缘层(9)、侧壁绝热绝缘层(10)和电极引出线缆(11)组成，所述的探针头部(2)包含多个稳态压力探头，与探针梳支杆(1)焊接；引压管(5)封装于探针梳支杆(1)和安装座(3)内部，一端与探针头部(2)的测压孔相通，另一端由安装座(3)尾部引出；所述的探针梳支杆(1)与安装座(3)焊接，其内部包含多个相互独立的结构：引压管通道(6)和等离子体发生腔(7)；所述的电极(8)安装在等离子体发...

【技术特征摘要】
1.一种利用等离子体射流减小支杆堵塞效应的稳态压力探针梳，其特征在于：由探针梳支杆(1)、探针头部(2)、安装座(3)、射流槽(4)、引压管(5)、引压管通道(6)、等离子体发生腔(7)、电极(8)、端部绝热绝缘层(9)、侧壁绝热绝缘层(10)和电极引出线缆(11)组成，所述的探针头部(2)包含多个稳态压力探头，与探针梳支杆(1)焊接；引压管(5)封装于探针梳支杆(1)和安装座(3)内部，一端与探针头部(2)的测压孔相通，另一端由安装座(3)尾部引出；所述的探针梳支杆(1)与安装座(3)焊接，其内部包含多个相互独立的结构：引压管通道(6)和等离子体发生腔(7)；所述的电极(8)安装在等离子体发生腔(7)内部，电极引出线缆(11)从安装座(3)尾部引出；所述的等离子体发生腔(7)开设一个射流槽(4)，与探针梳支杆(1)下游相通；
探针头部(2)长度为2毫米～20毫米，可以为单孔、三孔、四孔、五孔、七孔等压力探头，探头个数为3～5个；
探针梳支杆(1)截面为腰型，前、后半圆直径为3毫米～20毫米，圆心距为2毫米～16毫米，其长度根据不同测量环境而定；
等离子体发生腔(7)内壁为圆柱形，轴线与探针梳支杆(1)后半圆轴线平行，上端与安装座(3)底面齐平，下端与探针梳支杆(1)顶端距离为0.1毫米～2毫米，截面直径为2毫米～6毫米；
等离子体发生腔(7)个数为1～3个；等离子体发生腔(7)为1个时，其截面圆心与探针梳支杆(1)后半圆圆心的距离为0毫米～5毫米；等离子体发生腔(7)为2个时，两个等离子体发生腔(7)截面圆心对称分布，与探针梳支杆(1)后半圆圆心之间的夹角为90°～180°，距离为2毫米～5毫米，两个等离子体发生腔(7)可...

【专利技术属性】
技术研发人员：马宏伟，郭君德，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京;11