一种非接触式测量圆柱度仪器制造技术

技术编号:24731047 阅读:80 留言:0更新日期:2020-07-01 00:57
本实用新型专利技术属于测量设备技术领域,公开了一种非接触式测量圆柱度仪器,设置有由直线导轨组成的测量架;导轨滑块,活动安装在所述测量架的直线导轨上;激光位移传感器,固定安装在所述导轨滑块上。该装置采用激光位移传感器作为测距传感器,不需要与工件进行直接接触。该装置采用测量仪器运动的方式来进行测量,避免了对大型工件测量时的不易移动的问题。测量速度加快,只需在工件的三个截面进行测量。该装置结构简单,可适应不同尺寸的工件的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种非接触式测量圆柱度仪器
本技术属于测量设备
,尤其涉及一种非接触式测量圆柱度仪器。
技术介绍
目前,业内常用的现有技术是这样的:圆柱度是指任意垂直截面最大尺寸与最小尺寸差为圆柱度,圆柱度误差包含了轴剖面和横剖面两个方面的误差。圆柱度的公差带是两同轴圆柱面间的区域,该两同轴圆柱面间的径向距离即为公差值。现有测量圆柱度的方法有两点法、三点法、三坐标测量法等。两点法:测出各给定横截面内零件回转一周过程指示表的最大示值与最小示值的一半作为圆柱度误差值。三点法:测出各给定横截面内零件回转一周过程指示表的最大示值与最小示值的一半作为圆柱度误差值。三坐标测量法:在三坐标测量机上按要求测量被测零件各横截面轮廓各测点的坐标值,再利用相应的计算机软件计算圆柱度误差值。现有的圆柱都测量法,都是通过旋转被测工件,测量工具固定的方式来测量的。对于大尺寸的工件测量就显得尤为不方便,还有在旋转被测工件时的轴线跳动会影响测量的精度。综上所述,现有技术存在的问题是:现有的圆柱都测量法对于大尺寸的工件测量就显得尤为不方便,还有在旋转被测工件时的轴本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触式测量圆柱度仪器,其特征在于,所述非接触式测量圆柱度仪器设置有由直线导轨组成的测量架;/n导轨滑块,活动安装在所述测量架的直线导轨上;/n激光位移传感器,固定安装在所述导轨滑块上;/n测量架随底座支架直线导轨移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种非接触式测量圆柱度仪器,其特征在于,所述非接触式测量圆柱度仪器设置有由直线导轨组成的测量架;
导轨滑块,活动安装在所述测量架的直线导轨上;
激光位移传感器,固定安装在所述导轨滑块上;
测量架随底座支架直线导轨移动。
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【专利技术属性】
技术研发人员:郝卫东王瑞卿杨道国颜京森曹冬旺谭朝全靳晶森
申请(专利权)人:桂林电子科技大学
类型:新型
国别省市:广西;45

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