放射线检测器和放射线检测系统技术方案

本发明专利技术提供放射线检测器和放射线检测系统。放射线检测器(1a)用于适当地分离放射线的低能量成分信息和高能量成分信息，并包括：传感器面板(2)，其包括二维布置的多个第一光电转换元件部(23)和第二光电转换元件部(24)；第一闪烁体(31)，其被布置为与传感器面板(2)的一面重叠；第二闪烁体(32)，其被布置为与传感器面板(2)的一面相对的一侧上的面重叠；以及遮光部(26)，其被布置在有效像素区域(22)中布置了多个第一光电转换元件部(23)和第二光电转换元件部(24)的区域的外部,并且在第一闪烁体(31)和第二闪烁体(32)之间。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】放射线检测器和放射线检测系统
本专利技术涉及一种放射线检测器和放射线检测系统。
技术介绍
在放射线图像拍摄中，已知一种能量减法，即：使用不同的能量成分拍摄多个放射线图像，并对所拍摄的多个放射线图像进行差分运算，以使得能够例如辨别放射线图像中成像的被摄体。作为通过一次放射线照射获得不同能量成分的放射线图像而不会引起位置偏移的配置，专利文献1公开了如下配置：在基板的一面和另一面上布置用于在放射线入射时发射光的波长转换部，通过第一光电二极管检测通过基板的一面上布置的波长转换部发射的光，通过第二光电二极管检测通过另一面上布置的波长转换部发射的光。专利文献1还公开了如下配置：允许放射线从基板的一面侧进入，以便通过第一光电二极管检测低能量成分，通过第二光电二极管检测高能量成分。在专利文献1中描述的X射线检测元件中，还将波长转换部布置在布置有第一光电二极管和第二光电二极管的区域的外部。通过这种配置，通过基板的一面上布置的波长转换部发射的光可以透过基板进入另一面上布置的波长转换部，并且可以由基板和波长转换部之间的界面反射，从而进入第二光电二极管。结果是本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射线检测器，所述放射线检测器包括：/n传感器面板，其包括二维布置的多个光电转换元件部；/n第一闪烁体，其被布置为与所述传感器面板的一面重叠；/n第二闪烁体，其被布置为与所述传感器面板的一面相对的一侧上的面重叠；以及/n遮光部，其被布置在布置了所述多个光电转换元件部的区域的外部，并且在所述第一闪烁体和所述第二闪烁体之间。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170914 JP 2017-1765731.一种放射线检测器，所述放射线检测器包括：
传感器面板，其包括二维布置的多个光电转换元件部；
第一闪烁体，其被布置为与所述传感器面板的一面重叠；
第二闪烁体，其被布置为与所述传感器面板的一面相对的一侧上的面重叠；以及
遮光部，其被布置在布置了所述多个光电转换元件部的区域的外部，并且在所述第一闪烁体和所述第二闪烁体之间。


2.根据权利要求1所述的放射线检测器，
其中，从垂直于所述传感器面板的表面的方向看，所述第一闪烁体外围位于布置了所述多个光电转换元件部的区域外围之外，以及
其中，将所述遮光部布置在从布置了所述多个光电转换元件部的区域外围到所述第一闪烁体外围的范围内。


3.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，将所述遮光部布置在从布置了所述多个光电转换元件部的区域外围到所述传感器面板外围的范围内。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的放射线检测器，所述放射线检测器还包括多个其他光电转换元件部，在布置了所述多个光电转换元件部的区域的外部与所述多个光电转换元件部分离地布置所述多个其他光电转换元件部，
其中，所述多个其他光电转换元件部的各个均包括遮光层，以及
其中，所述多个其他光电转换元件部的各个的所述遮光层至少形成所述遮光部的一部分。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的放射线检测器，
其中，所述多个光电转换元件部的各个均包括用于将入射光转换为电信号的光电转换层和与所述光电转换层重叠布置的遮光层，以及
其中，所述遮光部由与所述遮光层的材料相同的材料形成。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的放射线检测器，
其中，将所述多个光电转换元件部布置在所述传感器面板的基板的一面上，
其中，将所述第一闪烁体布置为与所述传感器面板上布置了所述多个光电转换元件部的一侧重叠，以及
其中，将所述遮光部布置在所述传感器面板和所述第一闪烁体之间。

【专利技术属性】
技术研发人员：井上正人，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP