用于布置半成品的方法技术

技术编号:24721330 阅读:50 留言:0更新日期:2020-07-01 00:45
本发明专利技术涉及一种用于在使用用于半成品(H)的电子控制或调节的存放装置的情况下布置尤其是热塑性的半成品(H)的方法,具有如下步骤:‑通过检测装置(2)检测要存放的半成品(H)的至少一部分轮廓(U),‑在利用在底座上出现的放置边缘补偿所述至少一部分轮廓(U)的情况下确定用于半成品(H)和/或用于存放半成品(H)的存放装置的额定位置(P

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于布置半成品的方法
本专利技术涉及用于布置半成品、尤其是热塑性的半成品的方法以及装置。此外,本专利技术涉及用于在成型设备中制造成形件的成型方法以及包括成型机、尤其是注塑机的用于制造成形件的成型设备。
技术介绍
成型技术总是经常用于制造满足用于轻型结构的要求的成形件。这样的合适用于轻型结构的成型设备因此总是经常在车辆制造中使用。为了可以实现轻型结构,总是经常使用以纤维加强的塑料、尤其是单向纤维加强的塑料(带)的形式的成形件。作为加强纤维在这里主要使用玻璃纤维和碳纤维,其合并在热固性的或热塑性的基底中。因此带沿纤维方向具有纤维的机械特性并且横向于纤维具有基底的显著处于加强纤维的机械特性之下的机械特性。如果考虑这一事实,则可能将材料定制裁剪,其方式为将纤维取向与要求的机械要求适配。在文献WO2009/042225A1和WO2013/016487A1中分别给出用于半成品生产的解决方案。纤维加强的半成品作为原材料起作用,所述纤维加强的半成品从卷轴展开、剪切并且限定地存放在模具表面上。在存放带时,所述带固定在模具表面上并且随后焊接。在此可以实现最本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于在使用用于半成品(H)的被电子控制或调节的存放装置的情况下布置尤其是热塑性的半成品(H)的方法,具有如下步骤:/n-通过检测装置(2)检测要存放的半成品(H)的至少一部分轮廓(U),/n-在利用在底座上出现的放置边缘补偿所述至少一部分轮廓(U)的情况下确定用于半成品(H)和/或用于存放半成品(H)的存放装置的额定位置(P

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171114 AT A50954/20171.用于在使用用于半成品(H)的被电子控制或调节的存放装置的情况下布置尤其是热塑性的半成品(H)的方法,具有如下步骤:
-通过检测装置(2)检测要存放的半成品(H)的至少一部分轮廓(U),
-在利用在底座上出现的放置边缘补偿所述至少一部分轮廓(U)的情况下确定用于半成品(H)和/或用于存放半成品(H)的存放装置的额定位置(PSOLL),并且
-通过所述存放装置在使用额定位置(PSOLL)的情况下存放半成品(H)。


2.按照权利要求1所述的方法,其特征在于,使用包括上侧(O1)、下侧(O2)和侧向边缘(S1,S2,S3,S4)的面状半成品(H)。


3.按照权利要求2所述的方法,其特征在于,由基本上垂直于上侧(O1)或下侧(O2)定向的检测观察方向(B)进行对半成品(H)的至少一部分轮廓(U)的检测。


4.按照权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,这样确定用于半成品(H)和/或用于存放半成品(H)的存放装置的额定位置(PSOLL),即,在存放半成品(H)时,避免在所述半成品(H)和在其之前已经存放的半成品(H)之间的间隙和/或在所述半成品(H)和在其之前已经存放的半成品(H)之间的重叠。


5.按照权利要求1至4之一所述的方法,其特征在于,在检测至少一部分轮廓(U)之前,优选从半成品料仓(15)的取出台(22)通过所述存放装置接纳半成品(H)。


6.按照权利要求1至5之一所述的方法,其特征在于,在检测半成品(H)的至少一部分轮廓(U)时,由所述存放装置保持半成品(H)。


7.按照权利要求1至6之一所述的方法,其特征在于,将检测到的轮廓(U)与存储的轮廓参考范围(R)进行比较和/或将半成品(H)的由检测到的轮廓(U)确定的尺寸与存储的参考尺寸范围进行比较,其中,根据所述比较的结果
-当半成品(H)的检测到的轮廓(U)至少局部处于轮廓参考范围(R)之外或半成品(H)的经确定的尺寸处于参考尺寸范围之外时,将半成品(H)分拣出,

-当半成品(H)的检测到的轮廓(U)处于轮廓参考范围(R)之内或半成品(H)的经确定的尺寸处于参考尺寸范围之内时,提供半成品(H)以在成型方法中使用。


8.按照权利要求1至7之一所述的方法,其特征在于,使用具有加强纤维(V)的半成品(H),其中,由检测装置(2)检测加强纤维(V)的走向并且在由检测装置(2)检测到加强纤维(V)之间的空隙过大时分拣出半成品(H)。


9.按照权利要求1至8之一所述的方法,其特征在于,使用检测装置(2)以用于检测所述至少一部分轮廓(U),其中,相对于至少一个、优选在所述存放装置上构成的参考特征(X)检测轮廓(U)。


10.按照权利要求1至9之一所述的方法,其特征在于,所述存放装置具有处理装置(3)。


11.按照权利要求1至10之一所述的方法,其特征在于,由检测到的轮廓(U)确定半成品(H)优选相对于在所述存放装置上构成的参考特征(X)的位置(P)和/或定向(A)。


12.按照权利要求11所述的方法,其特征在于,由半成品(H)的位置(P)和/或定向(A)确定用于半成品(H)和/或用于存放装置的额定位置(PSOLL)。


13.按照权利要求1至12之一所述的方法,其特征在于,检测装置(2)具有光学测量系统、尤其是相机。


14.按照权利要求13所述的方法,其特征在于,检测装置(2)具有照明装置,其中,使用如下照明装置,在该照明装置中,发射的电磁辐射的频谱分布与半成品(H)的吸收频谱适配,使得优化...

【专利技术属性】
技术研发人员:P·茨维克尔胡贝尔A·内伯杰
申请(专利权)人:恩格尔奥地利有限公司
类型:发明
国别省市:奥地利;AT

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