编织物的节距的非侵入式测量制造技术

本发明专利技术题为“编织物的节距的非侵入式测量”。本发明专利技术所描述的实施方案包括用于检查管状装置的系统，该管状装置包括外表面和位于该外表面下面的空间周期性支撑结构。该系统包括：成像装置，该成像装置被配置成采集来自该外表面的光的反射的图像；以及处理器，该处理器被配置成通过处理该图像来探知该支撑结构的空间频率。还描述了其他实施方案。

【技术实现步骤摘要】
编织物的节距的非侵入式测量
本专利技术整体涉及编织结构诸如用于体内导管轴和其他管状装置中的编织挤出物的制造。
技术介绍
一些管状装置诸如体内导管轴包括内管和外管以及位于这两个管之间的编织骨架结构。编织物为导管赋予稳定性以及其他机械性能。编织物的节距通常以纬纱/英寸(PPI)为单位来测量。
技术实现思路
根据本专利技术的一些实施方案，提供了一种用于检查管状装置的系统，所述管状装置包括外表面和位于外表面下面的空间周期性支撑结构。所述系统包括：成像装置，所述成像装置被配置成采集来自所述外表面的光的反射的图像；以及处理器，所述处理器被配置成通过处理所述图像来探知所述支撑结构的空间频率。在一些实施方案中，所述系统还包括光源，所述光源被配置成利用光照射外表面以便产生反射。在一些实施方案中，处理器被进一步配置成响应于空间频率不同于目标空间频率来控制管状装置的制造，以便使空间频率符合目标空间频率。在一些实施方案中，支撑结构选自由以下组成的支撑结构的组：线圈和编织物。在一些实施方案中，反射被成形为限定正弦曲线，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1. 一种用于检查管状装置的系统，所述管状装置包括外表面和位于所述外表面下面的空间周期性支撑结构，所述系统包括：/n成像装置，所述成像装置被配置成采集来自所述外表面的光的反射的图像；和/n处理器，所述处理器被配置成通过处理所述图像来探知所述支撑结构的空间频率。/n

【技术特征摘要】
20181224 US 16/2318461.一种用于检查管状装置的系统，所述管状装置包括外表面和位于所述外表面下面的空间周期性支撑结构，所述系统包括：
成像装置，所述成像装置被配置成采集来自所述外表面的光的反射的图像；和
处理器，所述处理器被配置成通过处理所述图像来探知所述支撑结构的空间频率。


2.根据权利要求1所述的系统，还包括光源，所述光源被配置成利用所述光照射所述外表面以便产生所述反射。


3.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器被进一步配置成响应于所述空间频率不同于目标空间频率来控制所述管状装置的制造，以便使所述空间频率符合所述目标空间频率。


4.根据权利要求1所述的系统，其中所述支撑结构选自由以下组成的支撑结构的组：线圈和编织物。


5.根据权利要求1所述的系统，其中所述反射被成形为限定正弦曲线，并且其中所述处理器被配置成基于所述正弦曲线的频率来探知所述支撑结构的所述空间频率。


6.根据权利要求5所述的系统，其中所述处理器被进一步配置成在处理所述图像之前：
将所述图像中所表现出的所述正弦曲线的参数与另一图像中所表现出的所述参数进行比较，以及
响应于所述比较，选择所述图像而非所述另一图像来进行所述处理。


7.根据权利要求6所述的系统，其中所述参数包括所述正弦曲线的峰到峰振幅。


8.根据权利要求6所述的系统，其中所述参数包括所述正弦曲线的主频率的能量。


9.根据权利要求1所述的系统，其中所述支撑结构的所述空间频率为第一空间频率，并且其中所述处理器被配置成基于所述反射的强度的第二空间频率来探知所述第一空间频率。


10.一种方法，包括：
利用光源通过光照射管状装置的外表面，所述管状装置包括位于所述外表面下面的空间周期性支撑结构；
在照射所述外表面期间，利用成像装置采集来自所述外表面的所述光的反射的...

【专利技术属性】
技术研发人员：A帕派約安诺，
申请(专利权)人：韦伯斯特生物官能以色列有限公司，
类型：发明
国别省市：以色列;IL