机床精度分析方法及装置、精度检测仪、机床加工方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种机床加工精度分析方法及装置、精度检测仪、机床加工方法，机床加工精度分析方法包括以下步骤：获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差；比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合；输出所述稳定精度集合对应的检测方向为最优加工方向。稳定精度集合中的多个加工偏差较为聚集，说明稳定精度集合对应的检测方向上的工件的加工偏差相差不大，在该检测方向上工件表面波动较小，若后续以该检测方向为加工方向，加工出的工件表面较为平整，工件精度较高，如此利用对历史数据的分析来提高加工精度。

Accuracy analysis method and device of machine tool, accuracy detector and machining method of machine tool

【技术实现步骤摘要】
机床精度分析方法及装置、精度检测仪、机床加工方法
本专利技术涉及机床加工
，特别是涉及机床精度分析方法、机床加工方法及精度检测仪。
技术介绍
随着制造业的不断发展，数控机床在生产过程中会产生大量同种加工条件下的数据。目前对于这些数据大多数企业只进行了合格率等简单统计分析，而没有深入挖掘到这些大量数据背后反应出的共性特点，没有利用数据分析来提高机床加工的精度。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种机床精度分析方法及装置、机床加工方法、精度检测仪，以利用数据分析来提高机床对工件的加工精度。一种机床加工精度分析方法，包括以下步骤：获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差；比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合；输出所述稳定精度集合对应的检测方向为最优加工方向。上述机床加工精度分析方法中，若加工偏差集合中的多个加工偏差较为聚焦，说明该加工偏差集合中的加工偏差较为稳定，波动较小，定义该加工偏差跨度较小的集合为稳定精度集合。稳定精度集合中的多个加工偏差较为聚集，说明稳定精度集合对应的检测方向上的工件的加工偏差相差不大，在该检测方向上工件表面波动较小，若后续以该检测方向为加工方向，加工出的工件表面较为平整，工件精度较高，如此利用对历史数据的分析来提高加工精度。在其中一些实施例中，所述获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差的步骤具体为：在所述历史工件表面上预设相互垂直的第一检测线和第二检测线；对所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到第一加工偏差集合，对所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到第二加工偏差集合。在其中一些实施例中，所述比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合的步骤具体为：对所述第一检测线和所述第二检测线分别进行编号；将多个编号及每个所述编号对应的加工偏差集合内的多个加工偏差显示在散点图上；识别出所述散点图中离散程度最为聚集的加工偏差集合为所述稳定精度集合。在其中一些实施例中，所述获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差的步骤具体为：在所述历史工件表面预设多条相互平行的所述第一检测线及多条相互平行的所述第二检测线，其中每条所述第一检测线与每条所述第二检测线相互垂直；对每条所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到多组所述第一加工偏差集合，对每条所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到多组所述第二加工偏差集合。在其中一些实施例中，所述比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合的步骤具体为：统计多组第一加工偏差集合中全部加工偏差的跨度为第一跨度范围，统计多组第二加工偏差集合中全部加工偏差的跨度为第二跨度范围；识别所述第一跨度范围和所述第二跨度范围中跨度较小的一者对应的加工偏差集合为所述稳定精度集合。在其中一些实施例中，所述对所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到第一加工偏差集合，对所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到第二加工偏差集合步骤之后还包括以下步骤：将所述第一检测线分隔为位于所述历史工件表面相对两侧的两段第一子检测线，得到两段所述第一子检测线对应的两组第一子加工偏差集合；识别两组所述第一子加工偏差集合中平均加工偏差较小的一者为第一较佳精度集合；输出所述第一较佳精度集合对应的加工位置为第一最优加工位置。在其中一些实施例中，所述对所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到第一加工偏差集合，对所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到第二加工偏差集合步骤之后还包括以下步骤：沿所述第一检测线延伸的方向，在所述历史工件表面预设多条所述第二检测线,对每条所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到多个所述第二子加工偏差集合；识别多个所述第二子加工偏差集合中平均加工偏差较低的一者为第二较佳精度集合；输出第二较佳精度集合对应的加工位置为第二最优加工位置。在其中一些实施例中，包括以下步骤：提供多块所述历史工件，获取每块所述历史工件表面多个相交方向上对应的多组所述加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上的多个点的加工偏差；比较每块所述历史工件上的多组所述加工偏差集合，识别每块所述历史工件中跨度最小的加工偏差集合为所述稳定精度集合；输出多块所述历史工件的所述稳定精度集合共同对应的检测方向为所述最优加工方向。一种机床加工精度分析装置，包括：获取模块，用于获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差；比较模块，用于比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合；输出模块，用于输出所述稳定精度集合对应的检测方向为最优加工方向。一种精度检测仪，包括控制器和检测器，控制器根据上述方法控制检测器进行工件精度检测。一种机床加工方法，包括以下步骤：获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差；比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合；输出所述稳定精度集合对应的检测方向为最优加工方向；以所述最优加工方向加工待加工工件。附图说明图1为本专利技术一实施例中机床加工精度分析方法的流程示意图；图2为图1所示机床加工精度分析方法中工件的结构示意图；图3为图1所示机床精度分析方法中第一块工件的加工偏差散点图；图4为图1所示机床精度分析方法中第二块工件的加工偏差散点图；图5为图1所示机床精度分析方法中第三块工件的加工偏差散点图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机床加工精度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差；/n比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合；/n输出所述稳定精度集合对应的检测方向为最优加工方向。/n

【技术特征摘要】
1.一种机床加工精度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差；
比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合；
输出所述稳定精度集合对应的检测方向为最优加工方向。


2.根据权利要求1所述的机床加工精度分析方法，其特征在于，所述获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差的步骤具体为：
在所述历史工件表面上预设相互垂直的第一检测线和第二检测线；
对所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到第一加工偏差集合，对所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到第二加工偏差集合。


3.根据权利要求2所述的机床加工精度分析方法，其特征在于，所述比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合的步骤具体为：
对所述第一检测线和所述第二检测线分别进行编号；
将多个编号及每个所述编号对应的加工偏差集合内的多个加工偏差显示在散点图上；
识别出所述散点图中离散程度最为聚集的加工偏差集合为所述稳定精度集合。


4.根据权利要求2所述的机床加工精度分析方法，其特征在于，所述获得历史工件表面位于多个相交方向上的多组加工偏差集合，其中每组所述加工偏差集合包括对应方向上多个点的加工偏差的步骤具体为：
在所述历史工件表面预设多条相互平行的所述第一检测线及多条相互平行的所述第二检测线，其中每条所述第一检测线与每条所述第二检测线相互垂直；
对每条所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到多组所述第一加工偏差集合，对每条所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得到多组所述第二加工偏差集合。


5.根据权利要求4所述的机床加工精度分析方法，其特征在于，所述比较多组所述加工偏差集合，识别出多组所述加工偏差集合中离散程度较为聚集的一者为稳定精度集合的步骤具体为：
统计多组第一加工偏差集合中全部加工偏差的跨度为第一跨度范围，统计多组第二加工偏差集合中全部加工偏差的跨度为第二跨度范围；
识别所述第一跨度范围和所述第二跨度范围中跨度较小的一者对应的加工偏差集合为所述稳定精度集合。


6.根据权利要求2所述的机床加工精度分析方法，其特征在于，所述对所述第一检测线上的多个点进行偏差检测得到第一加工偏差集合，对所述第二检测线上的多个点进行偏差检测得...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕鹤，张博，黎运尧，周永志，
申请(专利权)人：珠海格力智能装备有限公司，珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44