一种增加浊度测量下限的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种增加浊度测量下限的装置，包括光源、比色池、透射光检测器和散射光检测器，所述比色池在光源的透射光位置处设有1个透射光检测器，在光源的90°垂直光路上设有2个散射光检测器，且2个散射光检测器对称设置。本实用新型专利技术的增加浊度测量下限的装置，在光源的垂直光路上对称设置2个散射光检测器，使有用信号增强了一倍，极大地增加了信噪比，即使在测量低浊度时，也非常地稳定可靠。

A device for increasing the lower limit of turbidity measurement

【技术实现步骤摘要】
一种增加浊度测量下限的装置
本技术涉及水样浊度测量
，具体涉及一种增加浊度测量下限的装置。
技术介绍
浊度通常适用于天然水、饮用水和部分工业用水水质测定。由于水中含有泥土、粉砂、微细有机物、无机物、浮游生物等悬浮物和胶体物，这些物质都可以使水质变的浑浊而呈现一定浊度，通常浊度越高，溶液越浑浊；而浊度越低，越不好测量。目前低浊度水样的测试有两种方法，一种是只采用90度散射光来测量，另外一种是采用透射光加散射光的模式来测量低浊度。然而，第一种测量方法对光源，对杂散光的结构设计要求都非常高，设计不好，就会造成低测量值波动；第二种测量方法尽管有所改善，但散射光信号太弱，受杂散光影响大，测低值时也容易波动，从而不容易得到精准稳定的低浊度水样数据。
技术实现思路
本技术的目的在于：针对上述存在的问题，本技术提供一种增加浊度测量下限的装置，在光源的垂直光路上对称设置2个散射光检测器，使有用信号增强了一倍，极大地增加了信噪比，即使在测量低浊度时，也非常地稳定可靠。本技术采用的技术方案如下：本技术的增加浊度测量下限的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种增加浊度测量下限的装置，包括光源、比色池(2)和光检测器，其特征在于，所述光检测器包括透射光检测器和散射光检测器，所述比色池(2)在光源照射的透射光位置处设有1个透射光检测器(3)，在光源照射的90°垂直光路上设有2个散射光检测器，且2个散射光检测器对称设置。/n

【技术特征摘要】
1.一种增加浊度测量下限的装置，包括光源、比色池(2)和光检测器，其特征在于，所述光检测器包括透射光检测器和散射光检测器，所述比色池(2)在光源照射的透射光位置处设有1个透射光检测器(3)，在光源照射的90°垂直光路上设有2个散射光检测器，且2个散射光检测器对称设置。


2.根据权利要求1所述的增加浊度测量下限的装置，其特征在于，所述光源为LE...

【专利技术属性】
技术研发人员：易佑春，林江，
申请(专利权)人：成都新三可仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51