一种收纳方便的检测盘制造技术

本发明专利技术公开了一种收纳方便的检测盘，包括圆挡盘；圆挡盘包括第一挡盘和第二挡盘；第一挡盘上设置第一检测尺，第二挡盘上设置第二检测尺；第一挡盘中心处设置放置待检测部件的第一凹陷空间，第一检测尺一端位于第一凹陷空间中心位置，第一检测尺的另一端位于第一挡盘的边缘处；第一检测尺上靠近第一凹陷空间的边缘处设置第一定位块；第一定位块向上凸出第一凹陷空间；收纳方便，便于同时多个搬运，搬运效率高，提高检测效率。

A convenient inspection disk

【技术实现步骤摘要】
一种收纳方便的检测盘
本专利技术涉及检测
，具体涉及一种收纳方便的检测盘。
技术介绍
电容器，通常简称其容纳电荷的本领为电容，用字母C表示。定义1：电容器，顾名思义，是‘装电的容器’，是一种容纳电荷的器件。英文名称：capacitor。电容器是电子设备中大量使用的电子元件之一，广泛应用于电路中的隔直通交，耦合，旁路，滤波，调谐回路，能量转换，控制等方面。定义2：电容器，任何两个彼此绝缘且相隔很近的导体(包括导线)间都构成一个电容器。在电容检测过程中，需要用到检测托盘对电容器进行搬运，但是检测盘数量多，不方便收纳盒同时搬运，造成占用空间较大，搬运效率低的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种收纳方便的检测盘，收纳方便，便于同时多个搬运，搬运效率高，提高检测效率。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种收纳方便的检测盘，包括圆挡盘；圆挡盘包括第一挡盘和第二挡盘；第一挡盘上设置第一检测尺，第二挡盘上设置第二检测尺；第一挡盘中心处设置放置待检测部件的第一凹陷空间，第一检测尺一端位于第一凹陷空间中心位置，第一检测尺的另一端位于第一挡盘的边缘处；第一检测尺上靠近第一凹陷空间的边缘处设置第一定位块；第一定位块向上凸出第一凹陷空间；第二挡盘中心处设置放置待检测部件的第二凹陷空间；第二检测尺一端位于第二凹陷空间中心位置，第二检测尺的另一端位于第二挡盘的边缘处；第二检测尺上靠近第二凹陷空间的边缘处设置第二定位块；第二定位块凸出于第二凹陷空间；第一挡盘与第二挡盘同轴设置，第一检测尺与第二检测尺平行；第一挡盘位于第二挡盘上方，第一挡盘的轮廓尺寸为第二挡盘轮廓尺寸的一半；第一挡盘和第二挡盘均成扁圆形状；圆挡盘的圆心区域设有第一磁铁，圆挡盘上设有多处镂空区，圆挡盘最外侧边缘处设有第二磁铁，圆挡盘最外侧边缘处还设有支脚；圆挡盘上设有穿孔。进一步，穿孔的一侧侧壁上设置第一圆孔；穿孔的另一侧壁上设置第二圆孔；第一圆孔和第二圆孔连通；第一圆孔与第二圆孔相对设置；第一圆孔上设置第一挂杆；第二圆孔上设置第二挂杆。进一步，圆挡盘上设置泄水口，泄水口设置在圆挡盘的一侧；泄水口连通圆挡盘的上表面和下表面；泄水口的轴线与水平方向的夹角为45度。本专利技术的技术效果如下：收纳方便，便于同时多个搬运，搬运效率高，提高检测效率。附图说明图1为实施例中检测盘的结构示意图。附图标记：1、圆挡盘；2、第一磁铁；21、镂空区；3、第二磁铁；4、支脚；5、穿孔；51、圆孔；6、泄水口。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例参见图1所示，一种收纳方便的检测盘，包括圆挡盘1；圆挡盘1包括第一挡盘和第二挡盘；第一挡盘上设置第一检测尺，第二挡盘上设置第二检测尺；第一挡盘中心处设置放置待检测部件的第一凹陷空间，第一检测尺一端位于第一凹陷空间中心位置，第一检测尺的另一端位于第一挡盘的边缘处；第一检测尺上靠近第一凹陷空间的边缘处设置第一定位块；第一定位块向上凸出第一凹陷空间；第二挡盘中心处设置放置待检测部件的第二凹陷空间；第二检测尺一端位于第二凹陷空间中心位置，第二检测尺的另一端位于第二挡盘的边缘处；第二检测尺上靠近第二凹陷空间的边缘处设置第二定位块；第二定位块凸出于第二凹陷空间；第一挡盘与第二挡盘同轴设置，第一检测尺与第二检测尺平行；第一挡盘位于第二挡盘上方，第一挡盘的轮廓尺寸为第二挡盘轮廓尺寸的一半；第一挡盘和第二挡盘均成扁圆形状；圆挡盘1的圆心区域设有第一磁铁2，圆挡盘上设有多处镂空区21，圆挡盘1最外侧边缘处设有第二磁铁3，圆挡盘1最外侧边缘处还设有支脚4；圆挡盘1上设有穿孔5。实施例2本实施例在实施例1的基础上进一步优化，穿孔5的一侧侧壁上设置第一圆孔51；穿孔5的另一侧壁上设置第二圆孔；第一圆孔51和第二圆孔连通；第一圆孔51与第二圆孔相对设置；第一圆孔51上设置第一挂杆；第二圆孔上设置第二挂杆。实施例3本实施例在实施例2的基础上进一步优化，圆挡盘1上设置泄水口6，泄水口6设置在圆挡盘1的一侧；泄水口6连通圆挡盘1的上表面和下表面；泄水口的轴线与水平方向的夹角为45度。综上所述，便可以较好的实现本专利技术。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种收纳方便的检测盘，其特征在于，包括圆挡盘；圆挡盘包括第一挡盘和第二挡盘；第一挡盘上设置第一检测尺，第二挡盘上设置第二检测尺；第一挡盘中心处设置放置待检测部件的第一凹陷空间，第一检测尺一端位于第一凹陷空间中心位置，第一检测尺的另一端位于第一挡盘的边缘处；第一检测尺上靠近第一凹陷空间的边缘处设置第一定位块；第一定位块向上凸出第一凹陷空间；/n第二挡盘中心处设置放置待检测部件的第二凹陷空间；第二检测尺一端位于第二凹陷空间中心位置，第二检测尺的另一端位于第二挡盘的边缘处；第二检测尺上靠近第二凹陷空间的边缘处设置第二定位块；第二定位块凸出于第二凹陷空间；/n第一挡盘与第二挡盘同轴设置，第一检测尺与第二检测尺平行；第一挡盘位于第二挡盘上方，第一挡盘的轮廓尺寸为第二挡盘轮廓尺寸的一半；第一挡盘和第二挡盘均成扁圆形状；/n圆挡盘的圆心区域设有第一磁铁，圆挡盘上设有多处镂空区，圆挡盘最外侧边缘处设有第二磁铁，圆挡盘最外侧边缘处还设有支脚；圆挡盘上设有穿孔。/n

【技术特征摘要】
1.一种收纳方便的检测盘，其特征在于，包括圆挡盘；圆挡盘包括第一挡盘和第二挡盘；第一挡盘上设置第一检测尺，第二挡盘上设置第二检测尺；第一挡盘中心处设置放置待检测部件的第一凹陷空间，第一检测尺一端位于第一凹陷空间中心位置，第一检测尺的另一端位于第一挡盘的边缘处；第一检测尺上靠近第一凹陷空间的边缘处设置第一定位块；第一定位块向上凸出第一凹陷空间；
第二挡盘中心处设置放置待检测部件的第二凹陷空间；第二检测尺一端位于第二凹陷空间中心位置，第二检测尺的另一端位于第二挡盘的边缘处；第二检测尺上靠近第二凹陷空间的边缘处设置第二定位块；第二定位块凸出于第二凹陷空间；
第一挡盘与第二挡盘同轴设置，第一检测尺与第二检测尺平行；第一挡盘位于第二挡盘上方，第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴龙，伏小红，钱建龙，
申请(专利权)人：宁波欣洋检测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33