一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，包括竖直设置的保温套筒，所述保温套筒包括竖直设置的样品放置筒，所述样品放置筒的内部区域为加热腔，所述样品放置筒采用导热绝缘材料制成，所述样品放置筒内表面中部设有晶体固定机构，所述样品放置筒外表面均匀布置有加热丝，形成加热层。本实用新型专利技术通过在样品放置筒的正上方设置光电探测器对加热后的样品晶体的闪烁衰减时间进行检测，发现其闪烁衰减时间从原来的36‑42ns变成了8‑12ns；克服了本领域技术人员认为LYSO晶体闪烁不能用于高重频实验的技术偏见。

An experimental device for shortening the scintillation decay time of lyso crystal

【技术实现步骤摘要】
一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置
本技术涉及闪烁晶体的重频试验装置，具体涉及一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置。
技术介绍
发展超快闪烁衰减、高光产额的无机闪烁体一直是闪烁材料重要的研究方向和热点，经过多年发展，各国科学家已成功研制出不少短余辉，也就是闪烁衰减时间短的无机闪烁体，其衰减时间都远优于传统的闪烁晶体如BGO及NaI(Tl)等。而ZnO、CuI晶体是目前已知最快的两种闪烁晶体，其闪烁衰减时间很短，可以达到亚ns量级，可以满足百MHz重频的X光或高能电子的时间要求。但ZnO晶体的自吸收效应很严重，大量的激发光不能从晶体中辐射出来，导致可以被测量到的闪烁光强度很热；CuI晶体光产额很低自身不稳定，制备好的CuI晶体在密封好的环境下也会迅速发生歧化反应，分解成碘单质和CuI2晶体，截止目前，CuI晶体自身稳定性还未得到解决；这一点限制了这两种晶体在高能X射线和高能电子束的应用。光产额和闪烁光衰减时间是闪烁晶体性能表征的两个重要指标，硅酸钇镥(LYSO:Ce)晶体在x光照射下的闪烁衰减时间为40ns左右，其光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，其特征在于，包括竖直设置的保温套筒，所述保温套筒包括竖直设置的样品放置筒(1)，所述样品放置筒(1)的内部区域为加热腔，所述样品放置筒(1)采用导热绝缘材料制成，所述样品放置筒(1)外表面均匀布置有加热丝，形成加热层(3)。/n

【技术特征摘要】
1.一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，其特征在于，包括竖直设置的保温套筒，所述保温套筒包括竖直设置的样品放置筒(1)，所述样品放置筒(1)的内部区域为加热腔，所述样品放置筒(1)采用导热绝缘材料制成，所述样品放置筒(1)外表面均匀布置有加热丝，形成加热层(3)。


2.根据权利要求1所述的一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，其特征在于，还包括设置于加热层(3)外的保温层(4)，所述保温层(4)采用隔热陶瓷制成。


3.根据权利要求1所述的一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，其特征在于，所述加热丝内外两侧均包裹有绝缘陶瓷片。


4.根据权利要求1所述的一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，其特征在于，所述加热层(3)和样品放置筒(1)之间还设有金属导热层(2)，所述加热丝采用铁铬铝合金制成。


5.根据权利要求4所述的一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，其特征在于，所述金属导...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小丁，江孝国，丁栋舟，侯伟，李一丁，龙全红，魏涛，杨国君，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院流体物理研究所，
类型：新型
国别省市：四川;51