一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台制造技术

技术编号:24536200 阅读:51 留言:0更新日期:2020-06-17 12:45
本实用新型专利技术公开一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,涉及富集分离实验技术领域,包括底盘、中心支撑柱、样品托架盘、富集分离柱托架盘和可调节套管组件,底盘安装于中心支撑柱的底端,可调节套管组件套设于中心支撑柱外部,样品托架盘固定套设于可调节套管组件的底端,富集分离柱托架盘固定套设于可调节套管组件中部,样品托架盘上表面设置有多个直径不完全相同的圆槽,圆槽用于放置样品接收杯,富集分离柱托架盘上设置有多个直径不完全相同的圆孔,圆孔用于放置富集分离柱,一个富集分离柱能够穿过一个圆孔并伸至一个样品接收杯内。该装置结构简单,装配快捷,操作简便,占用空间小,适用于不同规格的富集分离柱和样品接收杯。

A highly adjustable bench for enrichment and separation of trace elements

【技术实现步骤摘要】
一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台
本技术涉及富集分离实验
,特别是涉及一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台。
技术介绍
目前利用ICP–MS测定痕量元素浓度或同位素比值时首先须对复杂基体样品进行富集分离。一方面可以对目标元素进行富集浓缩,提高方法的检出限;另一方面通过分离样品中共存的基体元素,纯化目标元素,避免基体效应对测定结果的影响。目前,富集分离痕量元素普遍采用柱分离法,当样品溶液流经装有离子交换树脂或特效树脂的分离柱时,目标元素被吸附在树脂上,而基体元素随溶液流出分离柱,然后选用适当的清洗液清洗残留的基体或杂质离子,最后利用合适的洗脱液洗脱待测元素,从而使待测元素与基体分离,达到富集和分离纯化的效果。例如TetsuyaYokoyama等(1999年)利用4mmID×4.2cm微型柱装载UTEVA特效树脂分离纯化硅酸盐中铀、钍;何学贤(2001年)利用4mmID×6cm微型柱装载AG1-X8阴离子树脂分离纯化碳酸盐中铀、钍;戴洁(2010年)利用2.4mmID×3.5cm微型柱装载AG1-X8阴离子树脂分离纯化碳酸盐中铅;本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,其特征在于,包括底盘、中心支撑柱、样品托架盘、富集分离柱托架盘和可调节套管组件,所述底盘安装于所述中心支撑柱的底端,所述可调节套管组件套设于所述中心支撑柱外部,所述样品托架盘固定套设于所述可调节套管组件的底端,所述富集分离柱托架盘固定套设于所述可调节套管组件中部,且所述富集分离柱托架盘位于所述样品托架盘上方,通过调整所述可调节套管组件能够调节所述富集分离柱托架盘的高度,所述样品托架盘上表面设置有多个圆槽,所述圆槽用于放置样品接收杯,各所述圆槽的直径不完全相同,所述富集分离柱托架盘上设置有多个圆孔,所述圆孔用于放置富集分离柱,各所述圆孔的直径不完全相...

【技术特征摘要】
1.一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,其特征在于,包括底盘、中心支撑柱、样品托架盘、富集分离柱托架盘和可调节套管组件,所述底盘安装于所述中心支撑柱的底端,所述可调节套管组件套设于所述中心支撑柱外部,所述样品托架盘固定套设于所述可调节套管组件的底端,所述富集分离柱托架盘固定套设于所述可调节套管组件中部,且所述富集分离柱托架盘位于所述样品托架盘上方,通过调整所述可调节套管组件能够调节所述富集分离柱托架盘的高度,所述样品托架盘上表面设置有多个圆槽,所述圆槽用于放置样品接收杯,各所述圆槽的直径不完全相同,所述富集分离柱托架盘上设置有多个圆孔,所述圆孔用于放置富集分离柱,各所述圆孔的直径不完全相同,一个富集分离柱能够穿过一个所述圆孔并伸至一个样品接收杯内。


2.根据权利要求1所述的高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,其特征在于,所述圆槽与所述圆孔一一对应,位置相对应的所述圆槽的直径大于所述圆孔的直径。


3.根据权利要求2所述的高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,其特征在于,所述样品托架盘和所述富集分离柱托架盘均为圆盘,多个所述圆槽沿所述样品托架盘的周向均匀分布,多个所述圆孔沿所述富集分离柱托架盘的周向均匀分布。


4.根据权利要求1所述的高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,其特征在于,所述可调节套筒组件包括第一固定套管、第二固定套管和多个传动套管,所述第一固定套管固定于所述样品托架盘的中部,所述第二固定套管固定于所述富集分离柱托架盘的中部,所述第一固定套管、所述第二固定套管和所述传动套管的上部均设置有第一卡接部,所述第二固定套管和所述传动套管的...

【专利技术属性】
技术研发人员:瞿建国汤震宇
申请(专利权)人:华东师范大学
类型:新型
国别省市:上海;31

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