【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】制药设施和药物产品的制造方法
本专利技术涉及一种制药设施,其包括被布置为提供固态的药用物质的处理设备和固体分数传感器,并且此外,本专利技术涉及一种药物产品的制造方法。
技术介绍
固体的孔隙率对其机械性能具有极大的影响,因此在包括制药、化学或食品行业在内的许多行业中具有重要意义。在药品制造中,中间体的孔隙率也影响最终固体剂型的孔隙率,而最终剂型的孔隙率影响其崩解和溶解行为。因此,中间体和最终剂型的孔隙率在药物产品的生物利用度中发挥了重要作用。中间孔隙率在经由辊压对粉末混合物进行干法制粒中和在压片特别重要。在辊压中,首先使用两个旋转辊将粉末混合物压制成带,然后将带磨成颗粒。在辊压期间使用太小的压紧力会导致颗粒易碎和小颗粒的含量高,其中与输入粉末混合物相比,仅有限地改善了流动性和对偏析的预防。另一方面,太大的压紧力会夺走粉末的大部分可压缩性,并阻止进一步压制成片剂。了解带的孔隙率可以很好地指示目标药物样品的颗粒大小和片剂机械性能。在片剂中,过高的孔隙率可能会导致片剂剥落和破裂,而过低的孔隙率可能会对药物从片剂中的释放产生负面影响。通常,在制药设施中,固态中间体和最终产品的孔隙率是通过离线分析确定的。当知道真实密度时,可以通过简单地测量重量和总体积来确定总孔隙率。为了更准确地确定厚度不均匀的样品的体积,通常使用表面扫描激光共焦位移计。另一方面,比重瓶测定法等技术可以在没有任何先验知识的情况下提供孔隙率和孔隙分布的绝对测量值,然而人工成本较高。此外,围绕制造药物产品及其中间体对具有合适的过程分析技术(P ...
【技术保护点】
1.一种制药设施(23),包括布置为提供固态的药用物质(3,4;10)的处理设备(21)、以及固体分数传感器(17),所述固体分数传感器(17)具有/n第一导体元件(5)、第二导体元件(7)、操作空间(15)、能量源(13)和控制器(11),所述能量源(13)布置为借助于所述第一导体元件(6)和所述第二导体元件(8)在所述操作空间(15)中产生电场,所述控制器(11)适于在固态的所述药用物质(3,4;10)位于所述操作空间(15)中的情况下确定所述第一和第二导体元件(5,7)之间的电容,其中/n所述固体分数传感器(17)布置为通过所述处理设备(21)将处于其固态的所述药用物质(3,4;10)接收到所述操作空间(15)中。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170921 EP 17192423.61.一种制药设施(23),包括布置为提供固态的药用物质(3,4;10)的处理设备(21)、以及固体分数传感器(17),所述固体分数传感器(17)具有
第一导体元件(5)、第二导体元件(7)、操作空间(15)、能量源(13)和控制器(11),所述能量源(13)布置为借助于所述第一导体元件(6)和所述第二导体元件(8)在所述操作空间(15)中产生电场,所述控制器(11)适于在固态的所述药用物质(3,4;10)位于所述操作空间(15)中的情况下确定所述第一和第二导体元件(5,7)之间的电容,其中
所述固体分数传感器(17)布置为通过所述处理设备(21)将处于其固态的所述药用物质(3,4;10)接收到所述操作空间(15)中。
2.根据权利要求1所述的制药设施(23),其中,所述处理设备(21)包括适于产生所述药用物质(3,4;10)的片剂(10)的冲头装置(22)。
3.根据权利要求1或2所述的制药设施(23),其中,所述第一导体元件(6)和所述第二导体元件(8)中的一者是所述处理设备(21)的冲头装置(22)的一部分或所述处理设备(21)的片剂卸料通道的一部分。
4.根据权利要求1所述的制药设施(23),其中
所述处理设备(21)包括两个可旋转辊(1,2)以及在所述辊(1,2)之间的压实空间,
所述压实空间具有粉末入口区(24)和带出口区(25),和
所述固体分数传感器(17)布置为与所述压实空间的带出口区(25)相邻,使得离开所述压实空间的、通过所述两个辊(1,2)产生的带(4)被送入所述固体分数传感器的操作空间中。
5.根据权利要求4所述的制药设施(23),其中,所述第二导体元件(7)形成为适于引导带离开所述压实空间的带支承件(26)。
6.根据权利要求4所述的制药设施(23),其中,所述两个辊(5,7)中的一个辊是所述第二导体元件(7)。
7.根据权利要求6所述的制药设施(23),其中,所述第一导体元件(5)弯曲成与所述两个辊(5,7)中的所述一个辊的外表面相对应。
8.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的操作空间(15)是将所述第一导体元件(5)和所述第二导体元件(7)分开的间隙。
9.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中
所述固体分数传感器(17)的控制器(11)包括具有与处于其固态的所述药用物质(3,4;10)基本相同的介电特性的基准药用物质的校准数据,
所述固体分数传感器(17)的控制器(11)的校准数据包括关于所述基准药用物质的组成的组成数据和关于所述基准药用物质的厚度的厚度数据,
所述固体分数传感器(17)的控制器(11)适于将所述校准数据和所确定的电容转换成处于其固态的所述药用物质(3,4;10)的固体分数数据,和
所述控制器(11)适于产生代表所述固体分数数据的固体分数信号。
10.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的能量源(13)连接到所述第一导体元件(5)和所述第二导体元件(7)中的至少一者。
11.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的所述控制器(11)适于调节所述操作空间(15)中的电场强度。
12.根据权利要求9至11中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的控制器(11)具有数据存储装置(14),在所述数据存储装置中存储有校准数据。
13.根据权利要求9至12中任一项所述的制药设施(23),其中,所述校准数据包括所述基准药用物质的介电常数和所述基准药用物质的固体分数比。
14.根据权利要求13所述的制药设施(23),其中,所述校准数据包括成对的介电常数和相应的固体分数比。
15.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的所述第一导体元件(5)和所述固体分数传感器(17)的所述第二导体元件(7)是金属的并且呈板状。
16.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的控制器(11)适于通过电容-数字转换来确定所述电容。
17.根据权利要求16所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的控制器(11)适于应用sigma-delta调制来确定所述电容。
18.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,所述固体分数传感器(17)的控制器(11)适于测量放电时间并通过使用测定的放电时间来确定所述电容。
19.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),其中,使用电荷平衡电路来测量所述电容。
20.根据前述权利要求中任一项所述的制药设施(23),包括位移结构(18),其中,所述固体分数传感器(17)的第一导体元件(5)和所述固体分数传感器(17)的第二导体元件(7)中的至少一者安装在所述位移结...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·西比克,P·沙吕,
申请(专利权)人:豪夫迈·罗氏有限公司,
类型:发明
国别省市:瑞士;CH
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