磁共振成像中弛豫时间的定量测量制造技术

本发明专利技术提供了磁共振成像系统(100、400)。机器可执行指令(140)使控制磁共振成像系统的处理器(130)利用脉冲序列命令控制(200)磁共振成像系统以采集一系列磁共振数据和噪声磁共振数据。脉冲序列命令被配置用于控制磁共振成像系统以根据用于定量确定弛豫时间的定量磁共振成像协议从对象(118)采集一系列磁共振数据(144)。定量磁共振成像协议被配置用于控制磁共振成像系统以使用多个脉冲序列重复(508)来采集一系列磁共振数据。多个脉冲序列重复中的每个包括磁梯度部分(502)、射频部分(500)和采集部分(504)。定量磁共振成像协议包括多个脉冲序列重复中的至少两个之间的暂停周期(510)，其中，脉冲序列命令被配置用于使用磁梯度部分和采集部分在暂停周期期间采集噪声磁共振数据(146)。射频部分在噪声磁共振数据的采集期间被停用。对机器可执行指令的执行还使处理器使用一系列磁共振数据来重建(202)针对弛豫时间而加权的一系列磁共振图像(148)，并且使用噪声磁共振数据来重建(204)噪声磁共振图像(150)。

Quantitative measurement of relaxation time in MRI

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁共振成像中弛豫时间的定量测量
本专利技术涉及磁共振成像，尤其涉及弛豫时间的定量测量。
技术介绍
大的静态磁场由磁共振成像(MRI)扫描器使用以对准原子的核自旋，作为用于产生患者的身体内的图像的流程的部分。该大的静态磁场被称为B0场或主磁场。对象的各种数量或性质可以使用MRI来空间地测量。例如，可以使用MRI研究对象的各种电性质。被测量的可以定量测量的若干数量是与核磁共振(NMR)信号的衰变有关的弛豫时间。这些弛豫时间在本文中统称为“弛豫时间”。弛豫时间包括纵向(或自旋-晶格)弛豫时间，其也称为自旋晶格弛豫时间或T1弛豫时间。弛豫时间还包括横向弛豫时间，其也称为自旋-自旋弛豫时间或T2弛豫时间。T2*弛豫时间或T2星弛豫时间在本文中也被认为是弛豫时间，并且归因于由于B0场的不均匀性造成的NMR单个的移相，所述不均匀性是由于被检查的样本中分子的存在造成的。美国专利申请US2012/0271147A1公开了示范性系统、方法以及计算机可访问介质可以被提供用于对至少一个解剖结构进行成像。例如，能够将具有快速自旋回波(FSE)的饱和恢复(本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁共振成像系统(100、400)，包括：/n存储器(134)，其用于存储机器可执行指令(140)和脉冲序列命令(142)，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统以根据用于定量确定弛豫时间的定量磁共振成像协议从对象(118)采集一系列磁共振数据(144)，其中，所述定量磁共振成像协议被配置用于控制所述磁共振成像系统以使用多个脉冲序列重复(508)来采集所述一系列磁共振数据，其中，所述多个脉冲序列重复中的每个脉冲序列重复包括磁梯度部分(502)、射频部分(500)和采集部分(504)，其中，所述定量磁共振成像协议包括在所述多个脉冲序列重复中的至少两个脉冲序列重复之间的暂停周...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171016 EP 17196612.01.一种磁共振成像系统(100、400)，包括：
存储器(134)，其用于存储机器可执行指令(140)和脉冲序列命令(142)，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统以根据用于定量确定弛豫时间的定量磁共振成像协议从对象(118)采集一系列磁共振数据(144)，其中，所述定量磁共振成像协议被配置用于控制所述磁共振成像系统以使用多个脉冲序列重复(508)来采集所述一系列磁共振数据，其中，所述多个脉冲序列重复中的每个脉冲序列重复包括磁梯度部分(502)、射频部分(500)和采集部分(504)，其中，所述定量磁共振成像协议包括在所述多个脉冲序列重复中的至少两个脉冲序列重复之间的暂停周期(510)，其中，所述脉冲序列命令被配置用于使用所述磁梯度部分和所述采集部分在所述暂停周期期间采集噪声磁共振数据(146)，其中，所述射频部分在对所述噪声磁共振数据的所述采集期间被停用；
处理器(130)，其用于控制所述磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的执行还使所述处理器：
利用所述脉冲序列命令来控制(200)所述磁共振成像系统以采集所述一系列磁共振数据和所述噪声磁共振数据；
使用所述一系列磁共振数据来重建(202)针对所述弛豫时间而加权的一系列磁共振图像(148)；并且
使用所述噪声磁共振数据来重建(204)噪声磁共振图像(150)。


2.根据权利要求1所述的磁共振图像，其中，对所述机器可执行指令的执行还使所述处理器通过对所述噪声磁共振图像进行空间平均来计算(300)空间相关的噪声图。


3.根据权利要求2所述的磁共振成像系统，其中，所述空间相关的噪声图是通过在体素的核上进行平均来计算的。


4.根据权利要求3所述的磁共振成像系统，其中，所述体素的核包括以下中的任何一项：在50体素与100体素之间，在101体素与400体素之间，在401体素与900体素之间，以及在901体素与1600体素之间。


5.根据权利要求2、3或4所述的磁共振成像系统，其中，所述空间相关的噪声图还通过对所述空间相关的噪声图进行平滑来计算。


6.根据权利要求2至5中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的执行还使所述处理器使用所述空间相关的噪声图和所述一系列磁共振图像来计算(302)空间相关的弛豫时间图(154)和空间相关的误差图(156)，并且其中，所述空间相关的误差图是空间相关的图的可能误差的映射。


7.根据权利要求6所述的磁共振成像系统，其中，所述空间相关的弛豫时间图和所述空间相关的误差图是使用最大似然估计器来计算的。


8.根据权利要求6或7所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的执行还使所述处理器在显示器(132)上显示所述空间相关的弛豫时间图和空间相关的误差图。
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【专利技术属性】
技术研发人员：C·施特宁，J·塞内加，
申请(专利权)人：皇家飞利浦有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰;NL