质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法技术

公开了质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法。质谱仪包括离子源、离子阱、离子检测器和气压调节系统，其中，在运行质谱仪期间，气压调节系统经配置在离子源、离子阱和离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压，并且离子检测器经配置根据由离子源生成的离子的质荷比检测离子。

Mass spectrometers and methods of measuring information about samples using mass spectrometers

【技术实现步骤摘要】
质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法本申请是申请日为2012年12月31日，申请号为201711304468.X，专利技术名称为“质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法”的申请的分案申请。申请日为2012年12月31日，申请号为201711304468.X，专利技术名称为“质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法”的申请是申请日为2012年12月31日，申请号为201280078246.X，专利技术名称为“质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法(原名称为紧凑型质谱仪)”的申请的分案申请。
本公开涉及使用质谱测定法的物质鉴定。
技术介绍
质谱仪广泛用于化学物质的检测。在典型质谱仪中，分子或粒子被激发或电离，这些被激发物种往往分解形成更小质量的离子或与其他物种反应形成其他特征离子。离子形成图案可以被系统操作员解译以推断出化合物的身份。
技术实现思路
总的来说，在第一方面，本公开表征包括离子源、离子阱、离子检测器和气压调节系统的质谱仪，其中，在运行质谱仪期间，气压调节系统经配置在离子源、离子阱和离子本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种质谱仪，其包括：/n离子源；/n离子阱；/n离子检测器；以及/n气压调节系统，/n其中，在运行所述质谱仪期间：/n所述气压调节系统被配置为在所述离子源、所述离子阱和所述离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压；以及/n所述离子检测器被配置为根据由所述离子源生成的离子的质荷比检测所述离子。/n

【技术特征摘要】
1.一种质谱仪，其包括：
离子源；
离子阱；
离子检测器；以及
气压调节系统，
其中，在运行所述质谱仪期间：
所述气压调节系统被配置为在所述离子源、所述离子阱和所述离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压；以及
所述离子检测器被配置为根据由所述离子源生成的离子的质荷比检测所述离子。


2.根据权利要求1所述的质谱仪，其中，在运行期间，所述气压调节系统被配置为在所述离子阱和所述离子检测器中维持在100mTorr与100Torr之间的气压。


3.根据权利要求1所述的质谱仪，其中，在运行期间，所述气压调节系统被配置为在所述离子源和所述离子阱中维持在100mTorr与100Torr之间的气压。


4.根据权利要求1所述的质谱仪，其中，在运行期间，所述气压调节系统被配置为在所述离子源和所述离子检测器中维持在100mTorr与100Torr之间的气压。

【专利技术属性】
技术研发人员：安德鲁·J·巴特费伊萨博，克里斯多佛·D·布朗，迈克尔·乔宾，凯文·J·诺普，叶夫根尼·克雷洛夫，斯科特·米勒，
申请(专利权)人：九零八图案公司，
类型：发明
国别省市：美国;US