【技术实现步骤摘要】
小角度探头折射角的测定方法
本专利技术涉及一种无损检测技术，具体说，涉及一种小角度探头折射角(26°～45°)快速测定方法。
技术介绍
在使用小角度探头进行常规接触法超声波无损检测时，需要对小角度探头的折射角进行测定，以便后续检测过程中的准确定位。如图1所示，是现有技术中CSK-ⅠA标准试块的结构示意图。现有标准没有明确的小角度探头角度测定方法，一般采用CSK-ⅠA标准试块的圆孔进行小角度探头折射角的测定，但是，测定时单独采用一个试块不能够完成折射角测定，需要多个试块进行辅助测定，导致测量时间较长。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题是提供一种小角度探头折射角的测定方法，检测时利用CSK-ⅠA标准试块中横孔，能够实现小角度探头折射角的快速准确测定。技术方案如下：一种用于小角度探头折射角的测定方法，包括：将被测斜的探头放置于CSK-ⅠA试块的顶面上，使折射声束入射到CSK-ⅠA试块的R100mm圆弧面上；在折射声束方向与CSK-ⅠA试块的侧面保持平行的条件下，前...
【技术保护点】
1.一种小角度探头折射角的测定方法，包括：/n将被测斜的探头放置于CSK-ⅠA试块的顶面上，使折射声束入射到CSK-ⅠA试块的R100mm圆弧面上；在折射声束方向与CSK-ⅠA试块的侧面保持平行的条件下，前后移动探头，使CSK-ⅠA试块的R100mm圆弧面的反射波幅度最高，R100mm圆弧面中心记号作为入射点，用测量入射点至探头前沿的距离即为探头的前沿距离L
【技术特征摘要】
1.一种小角度探头折射角的测定方法，包括：
将被测斜的探头放置于CSK-ⅠA试块的顶面上，使折射声束入射到CSK-ⅠA试块的R100mm圆弧面上；在折射声束方向与CSK-ⅠA试块的侧面保持平行的条件下，前后移动探头，使CSK-ⅠA试块的R100mm圆弧面的反射波幅度最高，R100mm圆弧面中心记号作为入射点，用测量入射点至探头前沿的距离即为探头的前沿距离L0；
将被测探头置于CSK-ⅠA试块的200mm*25mm面上，使折射横波声束入射到横孔，找到反射波幅度最高的位置，横孔的直径为1.5mm...
【专利技术属性】
技术研发人员：毛月娟，宋慧斌，苗逢春，贺志强，孙思昳，袁波，赵存兵，陈沅沅，
申请(专利权)人：内蒙古北方重工业集团有限公司，
类型：发明
国别省市：内蒙;15
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