颗粒物监测仪及其滤带的检测方法技术

本申请涉及一种颗粒物监测仪及其滤带的检测方法。该颗粒物监测仪包括：采样测量单元，用于测量基准滤片的空白计数值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；移动单元，用于移动待检测滤带；数据处理单元，用于对测量得到的基准滤片的空白计数值进行数据处理获得基准值；存储单元，用于存储基准值；比较单元，用于比较基准值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；判断单元，用于根据比较结果判断待检测滤带的质量。本申请颗粒物监测仪能自动判断使用的滤带是否为合格滤带以及滤带的均匀性，避免生产过程中的误差导致的滤带问题，提高β射线法颗粒物监测仪最终的监测准确性。

Particle monitor and its filter belt detection method

【技术实现步骤摘要】
颗粒物监测仪及其滤带的检测方法
本申请总地涉及环境监测领域，具体涉及一种颗粒物监测仪及其滤带的检测方法。
技术介绍
目前大气颗粒物的常用的监测方法有：手工称重法、β射线吸收法、振荡微量天平法。其中的β射线吸收法原理为β射线穿过待测定物质后，其强度衰减程度仅与被穿透物质的质量有关，而与其物理、化学性能无关。β射线吸收法优点是要求样品量很少，可每小时自动得出一个监测数据，实时反映空气中颗粒物浓度的变化情况，并可进行数据传输，有利于远程监测和自动控制，并极大的减少了人工工作量。因此，β射线法已经成为大气环境颗粒物浓度的连续自动监测仪的主要测量方法之一。但在监测过程中，不同品牌的滤带(即β射线颗粒物监测仪用于收集颗粒物的卷膜)参差不齐，质量不一，会导致监测数据的不准确。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种颗粒物监测仪及其滤带的检测方法。本申请提供了一种颗粒物监测仪，包括：采样测量单元，用于测量基准滤片的空白计数值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；移动单元，用于移动所述待检测滤带；数据处理本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种颗粒物监测仪，其特征在于，包括：/n采样测量单元，用于测量基准滤片的空白计数值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；/n移动单元，用于移动所述待检测滤带；/n数据处理单元，用于对测量得到的基准滤片的空白计数值进行数据处理获得基准值；/n存储单元，用于存储所述基准值；/n比较单元，用于比较所述基准值和所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值；/n判断单元，用于根据所述比较结果判断所述待检测滤带的质量。/n

【技术特征摘要】
1.一种颗粒物监测仪，其特征在于，包括：
采样测量单元，用于测量基准滤片的空白计数值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；
移动单元，用于移动所述待检测滤带；
数据处理单元，用于对测量得到的基准滤片的空白计数值进行数据处理获得基准值；
存储单元，用于存储所述基准值；
比较单元，用于比较所述基准值和所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值；
判断单元，用于根据所述比较结果判断所述待检测滤带的质量。


2.根据权利要求1所述的颗粒物监测仪，其特征在于，所述采样测量单元包括：
采样管道，包括采样进口和采样出口；
抽气泵，连接所述采样出口；
β射线源，设置在所述采样管道内；
检测器，设置在所述采样管道内，与所述β射线源相对设置。
控制单元，用于所述颗粒物监测仪的电气控制。


3.根据权利要求1所述的颗粒物监测仪，其特征在于，所述基准值包括第一基准值Nmin和第二基准值Nmax，所述Nmin为所述单位面积质量最低的基准滤片的空白计数值的平均值，所述Nmax为所述单位面积质量最高的基准滤片的空白计数值的平均值。


4.根据权利要求3所述的颗粒物监测仪，其特征在于，所述判断单元包括第一判断单元，用于判断所述待检测滤带的空白斑点的质量，
所述第一判断单元配置为：
当0.9Nmin≤N≤1.1Nmax时，判断所述待测滤带的空白斑点质量合格；
当N＜0.9Nmin或者1.1Nmax＜N时，判断所述待测滤带的空白斑点质量不合格；
其中，N为所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值。


5.根据权利要求3所述的颗粒物监测仪，其特征在于，所述判断单元包括第二判断单元，用于判断所述待检测整卷滤带的质量，
所述第二判断单元配置为：
当连续出现N＜0.7Nmin或者N＞1.3Nmax时，判断所述待检测整卷滤带的质量不合格，
其中，N为所述待检测滤带的空白斑点的空白计数值。


6.一种颗粒物监测仪滤带的检测方法，其特征在于，包括：
对测量得到的基准滤片的空白计数值进行数据处理获得基准值，所述基准滤片为基准滤带的单位面积质量最高的滤片和单位...

【专利技术属性】
技术研发人员：敖小强，罗武文，郭玉龙，李四寿，
申请(专利权)人：北京雪迪龙科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11