基板玻璃缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本公开涉及一种基板玻璃缺陷检测方法及装置，该基板玻璃缺陷检测方法包括：将基板玻璃沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；设定第1层检测层至第N/4层检测层为基板玻璃的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为基板玻璃的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为基板玻璃的第三比对区域；对基板玻璃的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。该种检测方法便于判断基板玻璃是否合格、且检测精度高。

Detection method and device of glass defect of base plate

【技术实现步骤摘要】
基板玻璃缺陷检测方法及装置
本公开涉及基板玻璃制造加工领域，具体地，涉及一种基板玻璃缺陷检测方法及装置。
技术介绍
液晶基板玻璃是显示领域的基板，广泛应用于各种显示器中。随着显示领域对像素和对比度要求的提高，液晶基板玻璃的缺陷也要更少更小。液晶基板玻璃的缺陷主要表现为玻璃表面和玻璃内部的气泡、铂金、灰尘、结石等，而液晶基板玻璃的缺陷要求是：工作面缺陷尺寸不大于0.02毫米，内部缺陷尺寸不大于0.05毫米，非工作面缺陷尺寸不大于0.1毫米。由于面检相机要检查整块液晶基板玻璃，只能拍到缺陷大概外形，无法确认缺陷具体尺寸和层次，不能判断所检测液晶基板玻璃是否合格。这就要求在检验液晶基板玻璃时，检验员要对面检发现的缺陷进行复检，判断缺陷大小及层次。由于液晶基板玻璃是透明的，缺陷尺寸较小，利用人工肉眼观察难以判断具体层次及大小且检查效率低。
技术实现思路
本公开的目的是提供一种基板玻璃缺陷检测方法及装置，该基板玻璃缺陷检测方法便于判断基板玻璃是否合格、且检测精度高。为了实现上述目的，本公开提供一种基板玻璃缺陷检测方法，所述基板玻璃缺陷检测方法包括：将基板玻璃沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；设定第1层检测层至第N/4层检测层为所述基板玻璃的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为所述基板玻璃的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为所述基板玻璃的第三比对区域；对所述基板玻璃的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。可选地，所述对所述基板玻璃的缺陷位置处的各检测层进行图像采集包括：通过图像采集设备的变焦来实现对N个检测层的分别检测。可选地，所述基板玻璃的厚度为0.4mm或0.8mm，N为4，或N为8，或N为16。可选地，所述第一比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.02mm，所述第二比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.05mm，所述第三比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.1mm。本公开还提供一种基板玻璃缺陷检测装置，所述基板玻璃检测装置可根据所述的基板玻璃缺陷检测方法对所述基板玻璃进行缺陷检测，其包括控制单元、用于对所述基板玻璃的缺陷位置进行图像采集的可变焦的摄像单元；所述摄像单元包括驱动部、可移动的物侧透镜、固定设置的摄像单元本体、以及与所述摄像单元本体固定连接的像侧透镜，所述驱动部根据所述控制单元发送的控制指令驱动所述物侧透镜沿其中心线方向移动，以实现对所述缺陷位置处N个检测层的聚焦及图像采集；所述控制单元用于对所述摄像单元所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。可选地，所述基板玻璃缺陷检测装置还包括用于对所述基板玻璃的缺陷位置进行照明的光源，所述光源的中心线与所述物侧透镜的中心线重合，以使所述光源发射出的光束沿所述摄像单元的图像采集路径射向所述缺陷位置。可选地，所述光源选用LED发光二极管，以发射出波长在400-800nm之间、光束发散性为37°且辐射面积大于10mm2的可见光。可选地，所述基板玻璃缺陷检测装置还包括测距单元，所述测距单元用于测量该检测装置与所述基板玻璃之间的距离，所述控制单元用于根据所述测距单元测得的距离信息控制所述摄像单元聚焦在所述基板玻璃的缺陷位置处靠近该检测装置的一面。可选地，所述测距单元包括激光发射器、以及用于接收从该激光发射器射出并经所述缺陷位置处靠近该检测装置的一面反射的激光的光电接收器。可选地，所述摄像单元还包括第一反射机构和第二反射机构，所述物侧透镜的中心线用于与所述基板玻璃平行，所述像侧透镜的中心线用于与所述基板玻璃垂直，所述第一反射机构用于将所述缺陷位置的图像信息反射至所述物侧透镜，所述第二反射机构用于将所述物侧透镜接收的所述图像信息反射至所述像侧透镜。可选地，所述第一反射机构和所述第二反射机构分别构造为第一直角三棱镜和第二直角三棱镜，且该第一直角三棱镜和第二直角三棱镜的斜面分别构造为第一反射面和第二反射面。可选地，所述基板玻璃缺陷检测装置还包括光源，所述光源与所述第二直角三棱镜的直角面相邻设置，以使所述光源发射出的光束依次穿过所述第二直角三棱镜、所述物侧透镜后经所述第一反射面射向所述缺陷位置。可选地，所述基板玻璃缺陷检测装置还包括壳体，所述控制单元及所述摄像单元均设置在所述壳体内。在上述技术方案中，将基板玻璃沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，并分别设定第一比对区域、第二比对区域以及第三比对区域，进而对基板玻璃缺陷位置处各个检测层进行图像采集与识别，以将该将该层图像与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准，该种检测方法便于判断基板玻璃是否合格、且检测精度高。本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：图1是本公开一种实施方式的基板玻璃缺陷检测方法的流程图；图2是本公开一种实施方式的基板玻璃缺陷检测装置的结构示意简图。附图标记说明21驱动部22物侧透镜23摄像单元本体24像侧透镜25第一反射机构251第一反射面26第二反射机构261第二反射面3测距单元4光源10壳体100基板玻璃具体实施方式以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。在本公开中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“内、外”是指具体结构轮廓的内和外，所使用的术语如“第一、第二”等仅是为了区分一个要素和另外一个要素，并不具有顺序性和重要性。如图1所示，本公开提供一种基板玻璃缺陷基板玻璃缺陷检测方法，该基板玻璃缺陷检测方法步骤包括：S101，将基板玻璃100沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；S102，设定第1层检测层至第N/4层检测层为基板玻璃100的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为基板玻璃100的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为基板玻璃100的第三比对区域；S103，对基板玻璃100的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；S104，对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。在上述技术方案中，将基板玻璃100沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，并分别设定第一比对区域、第二比对区域以及第三比对区域，进而对基板玻璃100缺陷位置处各个检测层进行图像采集与识别，以将该将该层图像与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准，该种检测方法便于判断基板玻璃是否合格、且本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基板玻璃缺陷检测方法，其特征在于，所述基板玻璃缺陷检测方法包括：/n将基板玻璃(100)沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；/n设定第1层检测层至第N/4层检测层为所述基板玻璃(100)的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为所述基板玻璃(100)的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为所述基板玻璃(100)的第三比对区域；/n对所述基板玻璃(100)的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；/n对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。/n

【技术特征摘要】
1.一种基板玻璃缺陷检测方法，其特征在于，所述基板玻璃缺陷检测方法包括：
将基板玻璃(100)沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；
设定第1层检测层至第N/4层检测层为所述基板玻璃(100)的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为所述基板玻璃(100)的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为所述基板玻璃(100)的第三比对区域；
对所述基板玻璃(100)的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；
对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。


2.根据权利要求1所述的基板玻璃缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述基板玻璃(100)的缺陷位置处的各检测层进行图像采集包括：通过图像采集设备的变焦来实现对N个检测层的分别检测。


3.根据权利要求1所述的基板玻璃缺陷检测方法，其特征在于，所述基板玻璃(100)的厚度为0.4mm或0.8mm，N为4，或N为8，或N为16。


4.根据权利要求1所述的基板玻璃缺陷检测方法，其特征在于，所述第一比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.02mm，所述第二比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.05mm，所述第三比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.1mm。


5.一种基板玻璃缺陷检测装置，其特征在于，所述基板玻璃检测装置可根据权利要求1所述的基板玻璃缺陷检测方法对所述基板玻璃(100)进行缺陷检测，其包括控制单元、用于对所述基板玻璃(100)的缺陷位置进行图像采集的可变焦的摄像单元；
所述摄像单元包括驱动部(21)、可移动的物侧透镜(22)、固定设置的摄像单元本体(23)、以及与所述摄像单元本体(23)固定连接的像侧透镜(24)，所述驱动部(21)根据所述控制单元发送的控制指令驱动所述物侧透镜(22)沿其中心线方向移动，以实现对所述缺陷位置处N个检测层的聚焦及图像采集；
所述控制单元用于对所述摄像单元所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。


6.根据权利要求5所述的基板玻璃缺陷检测装置，其特征在于，所述基板玻璃缺陷检测装置还包括用于对所述基板玻璃(100)的缺陷位置进行照明的光源(4)，所述光源(4)的中心线与所述物侧...

【专利技术属性】
技术研发人员：李青，李赫然，吴松江，苏记华，刘丹，张晓宇，尚建威，付冲，李岗，
申请(专利权)人：郑州旭飞光电科技有限公司，东旭光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41