一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱探测系统技术方案

技术编号:24406128 阅读:46 留言:0更新日期:2020-06-06 07:12
本发明专利技术涉及一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱探测系统,该系统可以同时监测固体脉冲激光器能量和光束质量,系统包括固体脉冲激光器,比例分光镜,光束质量分析仪,比例分光镜,能量计,聚焦透镜,样品靶材,光纤耦合镜,光纤调整架,带接口的光纤,ICCD光谱仪,光谱仪控制线缆,计算机,激光器控制线缆,该系统通过分析固体脉冲激光器的稳定性,剔除固体脉冲激光器能量或光束质量波动较大时得出的实验结果,可以有效提高元素定量探测的稳定性和准确度。

A laser-induced breakdown spectrum detection system with beam stability analysis

【技术实现步骤摘要】
一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱探测系统
本专利技术涉及一种激光光谱探测系统,具体涉及一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱(Laser-InducedBreakdownSpectroscopy,简称LIBS)探测系统。
技术介绍
激光诱导击穿光谱(LIBS)是一种采用高能脉冲激光照射样品材料,使材料表面形成高温、高密度的等离子体,通过探测等离子体发出的光谱组成及强度,实现材料元素定性和定量分析的光谱检测技术。传统的纳秒LIBS探测方法利用纳秒脉冲激光器作为激励源,在脉冲与样品相互作用时,通过等离子体发射谱线强度来对元素进行定量分析,由于脉冲激光的冲能量或光束质量的波动,会影响等离子体发射谱线强度的稳定性,使LIBS光谱信号重复性较差,严重影响LIBS定量探测精度。为提高LIBS对元素的定量探测稳定性,在已公开的实验中,通过监测激励源能量,提高等离子体发射光谱稳定性,本专利提出一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱(LIBS)探测系统,通过同时监测激励源能量和光束质量,可以进一步降低激励源波动对LIBS进行元素定量分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱探测系统,它包括固体脉冲激光器(1),45°放置的比例分光镜A(2),光束质量分析仪(3),45°放置的比例分光镜B(4),能量计(5),聚焦透镜(6),光纤耦合镜(8),光纤调整架(9),ICCD光谱仪(11),计算机(12),其特征在于:固体脉冲激光器(1)出光口前方设有与出射光路成45°角放置的比例分光镜A(2),45°放置的比例分光镜A(2)旁边有与比例分光镜A(2)反射光路成45°角放置的比例分光镜B(4),45°放置的比例分光镜B(4)前方设有能量计(5),45°放置的比例分光镜A(2)、45°放置的比例分光镜B(4)和能量计(5)光入口...

【技术特征摘要】
1.一种带有光束稳定性分析的激光诱导击穿光谱探测系统,它包括固体脉冲激光器(1),45°放置的比例分光镜A(2),光束质量分析仪(3),45°放置的比例分光镜B(4),能量计(5),聚焦透镜(6),光纤耦合镜(8),光纤调整架(9),ICCD光谱仪(11),计算机(12),其特征在于:固体脉冲激光器(1)出光口前方设有与出射光路成45°角放置的比例分光镜A(2),45°放置的比例分光镜A(2)旁边有与比例分光镜A(2)反射光路成45°角放置的比例分光镜B(4),45°放置的比例分光镜B(4)前方设有能量计(5),45°放置的比例分光镜A(2)、45°放置的比例分光镜B(4)和能量计(5)光入口三者几何中心共线,透过比例分光镜B(4)光进入能量计(5);45°放置的比例分光镜B(4)旁边设有接收比例分光镜B(4)反射光的光束质量分析仪(3),45°放置的比例分光镜A(2)前方设有用于聚集透过比例分光镜A光束的聚焦透镜(6),位于聚焦透镜(6)远离比例分光镜A一侧的聚焦透镜(6)焦点处放置样品靶材(7),聚焦透镜旁边设有光纤耦合镜(8),使用带接...

【专利技术属性】
技术研发人员:周冬建多丽萍金玉奇李留成王元虎李国富于海军唐书凯王增强汪健曹靖
申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所
类型:发明
国别省市:辽宁;21

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