一种工业炉内温度比色测温装置制造方法及图纸

技术编号:24355938 阅读:71 留言:0更新日期:2020-06-03 02:33
本实用新型专利技术涉及一种工业炉内温度比色测温装置,包括:耐高温导光晶体管、光学耦合设备和测温组件,所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内,另一端连接所述光学耦合设备,所述光学耦合设备通过光纤连接所述测温组件;所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管,所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒,所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物。本实用新型专利技术提供的工业炉内温度比色测温装置,通过光学耦合设备替代传统的分光装置,不仅结构简单,而且成本低、装配简单。

A colorimetric temperature measuring device for industrial furnace

【技术实现步骤摘要】
一种工业炉内温度比色测温装置
本技术涉及温度测量设备领域,尤其涉及一种工业炉内温度比色测温装置。
技术介绍
工业测温,高温段温度测量通常采用的方法,是比色测温法,其测温范围较大,且抗干扰能力强,对于比色测温法而言,通常需要采用分光装置,且探测器前需加滤光装置。分光装置采用一根光纤进行光通量的传导,后面有若干个半反半透镜片和光学镜片组合成分光系统将光通量分成两路。此种分光装置结构复杂、成本高,不利于推广使用。
技术实现思路
本技术为解决现有的比色测温装置分光装置结构复杂、成本高的问题,所采用的技术方案是:一种工业炉内温度比色测温装置,包括:耐高温导光晶体管、光学耦合设备和测温组件,所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内,另一端连接所述光学耦合设备,所述光学耦合设备通过光纤连接所述测温组件;所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管,所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒,所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物;所述测温组件包括:信号处理设备、两个滤光片和两个光电探测器,两个所述光电探测器均与信号处理设备相连接,所述光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工业炉内温度比色测温装置,其特征在于,包括:耐高温导光晶体管、光学耦合设备和测温组件,所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内,另一端连接所述光学耦合设备,所述光学耦合设备通过光纤连接所述测温组件;/n所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管,所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒,所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物;/n所述测温组件包括:信号处理设备、两个滤光片和两个光电探测器,两个所述光电探测器均与信号处理设备相连接,所述光学耦合设备连接一Y型光纤的主光纤,所述Y型光纤的两根分光纤分别依次连接一所述滤光片、所述光电探测器。/n

【技术特征摘要】
1.一种工业炉内温度比色测温装置,其特征在于,包括:耐高温导光晶体管、光学耦合设备和测温组件,所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内,另一端连接所述光学耦合设备,所述光学耦合设备通过光纤连接所述测温组件;
所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管,所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒,所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物;
所述测温组件包括:信号处理设备、两个滤光片和两个光电探测器,两个所述光电探测器均与信号处理设备相连接,所述光学耦合设备连接一Y型光纤的主光纤,所述Y型光纤的两根分光纤分别依次连接一所述滤光片、所述光电探测器。


2.根据权利要求1所述的工业炉内温度...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐立君刘欢陈福新马坤武李建娇王彦峰
申请(专利权)人:长春蓝拓科技有限公司
类型:新型
国别省市:吉林;22

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