【技术实现步骤摘要】
一种雷达物位计
本技术涉及物位计
，尤其是涉及一种雷达物位计。
技术介绍
雷达物位计是一种非接触式物位测量装置，主要由波导、天线、传感器、电子单元组件等部件构成，其工作原理是：雷达物位计通过波导将电磁波传输到天线，再由发射出极窄的电磁波，而该电磁波会在空间中传播，当遇到被测介质表面时，该电磁波的一部分能量会被反射回来，并被同一天线接收；发射电磁波和接收电磁波的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比；通过识别发射电磁波与接收电磁波的时间间隔就可以计算出天线到被测介质表面的距离，从而实现物位测量。然而，在测量过程中，雷达物位计会受到测量介质的很大影响，例如，当雷达物位计的测量介质中具有水蒸气、粉尘(例如：石灰粉)、腐蚀性物质(例如：硫酸、盐酸、氢氧化钠等或冷凝汽体时，如果这些物质附着、覆盖或者腐蚀雷达物位计的天线，那么雷达物位计的电磁波传输路径会受到阻碍或破坏，从而会导致测量结果出现误差，甚至无法正常测量；现有雷达物位计的防护设施是增设防护罩，将伸入储罐内的金属喇叭天线整体罩在防护罩内，这种防护罩采用聚四...
【技术保护点】
1.一种雷达物位计，其特征在于，包括表头、波导装置和锥面填料，所述波导装置内设置有波导通路，所述表头位于所述波导通路入口侧，所述锥面填料位于所述波导通路出口侧，/n所述波导通路包括接收通路和发射通路，所述接收通路仅用于接收电磁波，所述发射通路仅用于发射电磁波；/n所述波导装置的出口内壁截面为上小下大结构，所述锥面填料包括上锥面段，所述上锥面段的形状与所述波导装置的出口内壁的形状相匹配，所述上锥面段能塞入所述波导装置的出口并且与所述波导装置的出口内壁相抵接。/n
【技术特征摘要】
1.一种雷达物位计，其特征在于，包括表头、波导装置和锥面填料，所述波导装置内设置有波导通路，所述表头位于所述波导通路入口侧，所述锥面填料位于所述波导通路出口侧，
所述波导通路包括接收通路和发射通路，所述接收通路仅用于接收电磁波，所述发射通路仅用于发射电磁波；
所述波导装置的出口内壁截面为上小下大结构，所述锥面填料包括上锥面段，所述上锥面段的形状与所述波导装置的出口内壁的形状相匹配，所述上锥面段能塞入所述波导装置的出口并且与所述波导装置的出口内壁相抵接。
2.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，在所述波导装置内设置有隔板，在所述锥面填料上设置有开口槽，所述隔板插入所述开口槽内且所述开口槽与所述隔板相匹配，所述隔板将所述波导通路分为所述接收通路和所述发射通路，所述锥面填料位于所述开口槽两侧的部分分别位于所述接收通路和所述发射通路内。
3.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于，所述波导装置包括过程密封天线，在所述过程密封天线内设置有第一腔室和第二腔室，在所述第一腔室内设置有波导结构，所述波导结构和所述第二腔室相连通形成所述波导通路；
所述表头与所述过程密封天线顶部连接，所述波导结构的顶端向上延伸伸入所述表头内，所述锥面填料与所述过程密封天线底部连接，所述锥面填料与所述第二腔室的内壁相抵接；
在所述过程密封天线的底端还套设有法兰盘，所述法兰盘的底面不高于所述过程密封天线的下端面。
4.根据权利要求3所述的雷达物位计，其特征在于，所述隔板包括波导隔板和天线隔板，所述波导隔板与所述天线隔板在同一平面上，所述波导隔板将所述波导结构分为接收波导和发射波导，所述天线隔板将所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：呼秀山，夏阳，
申请(专利权)人：北京锐达仪表有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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