光学测量装置、光学测量方法、计算机程序和记录介质制造方法及图纸

光学测量装置(100，200)被设置有：光源(11)，该光源(11)利用光照射具有在其内侧流动的流体的测量对象；光接收单元(21)，该光接收单元(21)在接收来自利用光照射的测量对象的散射光时输出与散射光的强度相对应的光接收信号；干扰生成单元(31)，该干扰生成单元(31)生成用于使供应给光源的驱动电流波动的干扰信号；以及调节单元(32，33，35，36)，该调节单元(32，33，35，36)基于在干扰信号和以光接收信号为基础生成的信号之间的比较结果来调节驱动电流。

Optical measuring device, optical measuring method, computer program and recording medium

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学测量装置、光学测量方法、计算机程序和记录介质
本专利技术涉及一种用于通过使用光来测量例如测量目标的状态的光学测量装置和光学测量方法、计算机程序以及记录介质。
技术介绍
例如，设计这种类型的装置以防止从光源发射的光的特性变化。例如，专利文献1公开一种工艺/技术，其通过利用作为波长辨别设备的标准器检测激光二极管(LD)的振荡波长并且控制LD驱动电流和LD温度来稳定的LD振荡波长。可替选地，专利文献2公开通过采用使用分子或原子的吸收光谱的分光镜检测LD的振荡波长并且控制LD驱动电流和LD温度来稳定LD的振荡波长的工艺/技术。此外，专利文献3公开一种通过将交流电叠加在供应给激光二极管的直流电上来去除振荡波长的随机模式跳变的工艺/技术。引文列表专利文献专利文献1：日本专利申请特开No.H08-018145专利文献2：日本专利申请特开No.S63-064380专利文献3：日本专利申请特开No.2001-120509
技术实现思路
技术问题在专利文献1和2中描述的工艺/技术中，复杂的光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学测量装置，包括：/n光源，所述光源被配置成利用光照射流体在其中流动的测量目标；/n光接收器，所述光接收器被配置成接收来自所述测量目标的照射光的散射光，并且被配置成输出与所述散射光的强度相对应的光接收信号；/n干扰生成器，所述干扰生成器被配置成生成用于使被供应给所述光源的驱动电流波动的干扰信号；以及/n调节器，所述调节器被配置成基于在基于所述光接收信号生成的信号和所述干扰信号之间的比较结果来调节所述驱动电流。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光学测量装置，包括：
光源，所述光源被配置成利用光照射流体在其中流动的测量目标；
光接收器，所述光接收器被配置成接收来自所述测量目标的照射光的散射光，并且被配置成输出与所述散射光的强度相对应的光接收信号；
干扰生成器，所述干扰生成器被配置成生成用于使被供应给所述光源的驱动电流波动的干扰信号；以及
调节器，所述调节器被配置成基于在基于所述光接收信号生成的信号和所述干扰信号之间的比较结果来调节所述驱动电流。


2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其中，基于所述光接收信号生成的所述信号是指示频率信息的信号，所述频率信息通过对拍频信号执行频率分析而获得，所述拍频信号被包括在所述光接收信号中并且由所述照射光的多普勒频移引起。


3.根据权利要求2所述的光学测量装置，其中，指示所述频率信息的所述信号在通过用于选择性地通过预定频带的频率分量的频率滤波器之后与所述干扰信号进行比较，所述预定频带包括与所述干扰信号相关联的频率。


4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光学测量装置，其中，
所述流体通过泵传输，并且
与所述干扰信号相关联的频率高于由所述泵引起的所述流体的脉动频率。


5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光学测量装置，其中，
所述光源是半导体激光器，并且
所述调节器被配置成基于所述比较结果来调节所述驱动电流，使得所述半导体激光器以单模振荡。


6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的光学测量装置，包括：
温度控制器，所述温度控制器被配置成控制所述光源的温度；和
温度设置设备，所述温度设置设备(i)被配置成在控制所述温度控制器以改变所述光源的所述温度的同时获得所述光源的所述温度与从所述光源发射的所述光的干扰之间的关系，并且(ii)被配置成在对所述测量目标的测量之前，基于获得的所述关系来设置与所述温度控制器相关联的目标温度。


7.根据权利要求1至6中的任意一项所述的光学测量装置，包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：立石洁，佐藤充，近藤正，小野寺涉，村上智也，县麻华里，安达玄纪，
申请(专利权)人：日本先锋公司，日机装株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP