光感控制LED灯智能测试设备制造技术

技术编号:24330965 阅读:26 留言:0更新日期:2020-05-29 19:35
光感控制LED灯智能测试设备,包括相互连接的MOS管电子开关模块、内供电模块、MCU单片机控制模块、自动检测模块、测试结果显示模块、光敏管ADC检测模块、30V电压ADC检测模块、驱动电压ADC检测模块、LED控制模块、测试开关、电阻R1、电容C263,所述内供电模块给驱动板提供30V电压,所述MOS管电子开关模块代替手动开关,所述光敏管ADC检测模块用于检测光敏管在亮暗环境下的不同输出电压,所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块用于检测驱动板供电和输出电压,本实用新型专利技术测试流程智能化,解决了目前测试方法存在的无法检测光敏管、人工误操作和误判、需要外接设备和电源、受外部环境影响的问题,给生产检测带来极大方便。

Intelligent testing equipment for LED light with light sense control

【技术实现步骤摘要】
光感控制LED灯智能测试设备
本技术涉及测试装置
,具体涉及一种光感控制LED灯智能测试设备。
技术介绍
随着行业的继续发展,技术的飞跃突破,应用的大力推广,LED的光效也在不断提高,价格不断走低。LED被称为第四代光源,具有节能、环保、安全、寿命长、低功耗、低热、高亮度、防水、微型、防震、易调光、光束集中、维护简便等特点,可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明等领域。在众多LED产品中,通过感应光的亮暗来控制LED灯亮灭的光感控制LED灯成为了公众场所的主要照明。光感控制LED灯的原理如图10所示,光感控制LED灯由三块PCBA组成,包括光敏管板PCBA1、驱动板PCBA2、LED灯板PCBA3。在光的亮暗不同环境下,光敏管感应到的电压信号强弱也不同,信号输出连接到PCBA2的插座J3上面。驱动板PCBA2,外接30V供电,来自光敏管板PCBA1的信号强弱,控制三极管Q1的导通状况。在黑暗的环境下,光敏管输出电压0.65V左右,三极管Q1放大导通,驱动板对外输出18V±1V的电压给LED灯板PCBA3,LED灯板PCBA3上的24个白色LED灯全亮。在光亮的环境下,光敏管输出电压0.20V左右,三极管Q1截止,驱动板对外输出0-1V的电压。24个白色LED灯全灭。在生产过程中,对光敏管板PCBA1主要检测在光的亮暗不同环境下,光敏管感应到的电压信号强弱有无不同,以及光敏管一致性是否良好;对驱动板PCBA2主要检测外部提供的30V电压是否正确,以及在光的亮暗不同环境下,给LED灯板输出的电压是否分别是18V±1V和0-1V;对LED灯板PCBA3主要检测光敏管在暗的环境下,24个白色LED灯要全亮,并且亮度要一致性良好,不能出现有明显的亮度不好现象,光敏管在光亮的环境下,24个白色LED灯要全灭。目前的生产线测试方法,将光敏管板PCBA1放在一个能打开和关闭的暗盒里面,光敏管信号输出接到LED灯驱动板PCBA2的插座J3上,暗盒关闭时,就是暗的环境。打开暗盒,光敏管对着较强的灯光照射,就相当于光亮的环境。这样,在光的亮暗不同环境下,光敏管感应到的电压信号强弱有不同的输出。采用数码管电压表1测量驱动板PCBA2的30V供电电压,采用数码管电压表2测量驱动板PCBA2的LED驱动电压,通过人眼观察来判断LED灯板PCBA3上的24个白色LED灯亮灭是否正常。本专利技术人认为,目前测试方法的主要存在的问题有:光的亮环境是通过打开暗盒靠外部光线照射,这种方式容易受外部光线强弱影响;没有检测光敏管装置,光敏管是否损坏以及一致性不能判断;需要借助于外接两个数码电压表,测量30V供电电压和驱动板输出电压;要用眼睛来判断24个白色LED,人眼容易疲劳和受伤害;LED光是否一致,眼睛容易误判;测试需要一台外部电源和手动开关。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本技术的目的是提供一种光感控制LED灯智能测试设备,解决目前测试方法的缺点:容易受外部光线强弱影响,无法检测光敏管是否损坏及一致性不能判断,需要外接设备,人眼观察LED灯亮灭容易疲劳和受到伤害,人眼判断LED光亮度存在误判,手动切换测试开关存在误操作隐患。为了达到上述目的,本技术所采用的技术方案是:提供一种光感控制LED灯智能测试设备,包括相互连接的MOS管电子开关模块、内供电模块、MCU单片机控制模块、自动检测模块、测试结果显示模块、光敏管ADC检测模块、30V电压ADC检测模块、驱动电压ADC检测模块、LED控制模块、测试开关、电阻R1、电容C263,其中:所述测试开关与所述电容C263并联后与所述电阻R1串联,然后再与所述MCU单片机控制模块相连,用于启动及停止测试流程;所述电阻R1正极连接电源,所述测试开关与所述电容C263并联后一端接地;所述MCU单片机控制模块用于输出及输入控制信号、存储及执行测试程序;所述MOS管电子开关模块用于代替手动开关操作,所述MCU单片机控制模块的控制信号输出至所述MOS管电子开关模块;所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述内供电模块,所述内供电模块与所述MOS管电子开关模块相连,用于给被测驱动板供电;所述自动检测模块用于将LED发光管发出的光处理为电信号并输出至所述MCU单片机控制模块进行检测,以此识别LED发光管有无混色以及光线强弱;所述LED控制模块与被测光敏板所放暗盒的LED灯相连,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述LED控制模块,以控制被测光敏板所放暗盒的LED灯的亮灭;所述光敏管ADC检测模块与被测光敏管相连,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述光敏管ADC检测模块,用于检测光敏管在亮暗环境下的不同输出电压,所述光敏管ADC检测模块的检测结果输入至所述MCU单片机控制模块;所述30V电压ADC检测模块接30V电压输出,所述驱动电压ADC检测模块连接被测驱动板输出,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块,用于检测30V供电电压和驱动板输出电压,所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块的检测结果输入至所述MCU单片机控制模块;所述MCU单片机控制模块将综合处理后的检测结果输出至所述测试结果显示模块显示。进一步地,所述内供电模块包括电阻R25、R26、R27、R28、R220、R350,三极管Q10、Q11,电容C209、C230,电容C212、C246,桥式整流二极管B5,三极管U10;所述电容C246的正极与电源相连,负极接地;所述电阻R27的一端与所述电容C246的正极相连后与电源连接,所述电阻R27的另一端分别与所述电阻R28的一端、所述电容C209的一端、所述三极管U10的脚2相连,所述三极管U10的脚3接地,所述三极管U10的脚1与所述三极管Q10的基极相连,所述三极管Q10的发射极与所述三极管Q11的基极相连,所述三极管Q10的集电极与所述电阻R26的一端相连,所述电阻R26的另一端与所述三极管Q11的集电极相连,所述三极管Q11的发射极与所述电阻R27的一端、所述电容C246的正极相连后再与电源连接;所述三极管U10的脚1另一端与电阻R25的一端相连,所述电阻R25的另一端与所述电阻R220的一端相连,所述电阻R220的另一端分别与所述电阻R350的一端、所述电阻R26的一端相连;所述桥式整流二极管B5的脚1、脚3分别连接电源,所述桥式整流二极管B5的脚2与所述电容C212的正极和所述电容C230的一端相连之后再与所述电阻R350的另一端相连,所述桥式整流二极管B5的脚4与所述电容C212的负极和所述电容C230的另一端相连后接地。进一步地,所述MOS管电子开关模块包括电阻R188、R89、R17、R189、R190、R199、R198、R20、R212、R213、R200,三极管Q1、Q2,发光管U1,稳压二极管D1、D2、D3,MOS管Q6、Q8,MOS管M1,插座J2;所述MOS管M1的D端连接内部30V电压输入,所述MOS管M1的G端与所述稳压二极管D3的正极相本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.光感控制LED灯智能测试设备,其特征是:包括相互连接的MOS管电子开关模块、内供电模块、MCU单片机控制模块、自动检测模块、测试结果显示模块、光敏管ADC检测模块、30V电压ADC检测模块、驱动电压ADC检测模块、LED控制模块、测试开关、电阻R1、电容C263,其中:/n所述测试开关与所述电容C263并联后与所述电阻R1串联,然后再与所述MCU单片机控制模块相连,用于启动及停止测试流程;所述电阻R1正极连接电源,所述测试开关与所述电容C263并联后一端接地;/n所述MCU单片机控制模块用于输出及输入控制信号、存储及执行测试程序;/n所述MOS管电子开关模块用于代替手动开关操作,所述MCU单片机控制模块的控制信号输出至所述MOS管电子开关模块;/n所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述内供电模块,所述内供电模块与所述MOS管电子开关模块相连,用于给被测驱动板供电;/n所述自动检测模块用于将LED发光管发出的光处理为电信号并输出至所述MCU单片机控制模块进行检测,以此识别LED发光管有无混色以及光线强弱;/n所述LED控制模块与被测光敏板所放暗盒的LED灯相连,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述LED控制模块,以控制被测光敏板所放暗盒的LED灯的亮灭;/n所述光敏管ADC检测模块与被测光敏管相连,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述光敏管ADC检测模块,用于检测光敏管在亮暗环境下的不同输出电压,所述光敏管ADC检测模块的检测结果输入至所述MCU单片机控制模块;/n所述30V电压ADC检测模块连接30V电压输出,所述驱动电压ADC检测模块连接被测驱动板输出,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块,用于检测30V供电电压和驱动板输出电压,所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块的检测结果输入至所述MCU单片机控制模块;/n所述MCU单片机控制模块将综合处理后的检测结果输出至所述测试结果显示模块显示。/n...

【技术特征摘要】
1.光感控制LED灯智能测试设备,其特征是:包括相互连接的MOS管电子开关模块、内供电模块、MCU单片机控制模块、自动检测模块、测试结果显示模块、光敏管ADC检测模块、30V电压ADC检测模块、驱动电压ADC检测模块、LED控制模块、测试开关、电阻R1、电容C263,其中:
所述测试开关与所述电容C263并联后与所述电阻R1串联,然后再与所述MCU单片机控制模块相连,用于启动及停止测试流程;所述电阻R1正极连接电源,所述测试开关与所述电容C263并联后一端接地;
所述MCU单片机控制模块用于输出及输入控制信号、存储及执行测试程序;
所述MOS管电子开关模块用于代替手动开关操作,所述MCU单片机控制模块的控制信号输出至所述MOS管电子开关模块;
所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述内供电模块,所述内供电模块与所述MOS管电子开关模块相连,用于给被测驱动板供电;
所述自动检测模块用于将LED发光管发出的光处理为电信号并输出至所述MCU单片机控制模块进行检测,以此识别LED发光管有无混色以及光线强弱;
所述LED控制模块与被测光敏板所放暗盒的LED灯相连,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述LED控制模块,以控制被测光敏板所放暗盒的LED灯的亮灭;
所述光敏管ADC检测模块与被测光敏管相连,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述光敏管ADC检测模块,用于检测光敏管在亮暗环境下的不同输出电压,所述光敏管ADC检测模块的检测结果输入至所述MCU单片机控制模块;
所述30V电压ADC检测模块连接30V电压输出,所述驱动电压ADC检测模块连接被测驱动板输出,所述MCU单片机控制模块输出控制信号至所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块,用于检测30V供电电压和驱动板输出电压,所述30V电压ADC检测模块和所述驱动电压ADC检测模块的检测结果输入至所述MCU单片机控制模块;
所述MCU单片机控制模块将综合处理后的检测结果输出至所述测试结果显示模块显示。


2.根据权利要求1所述的光感控制LED灯智能测试设备,其特征是:所述内供电模块包括电阻R25、R26、R27、R28、R220、R350,三极管Q10、Q11,电容C209、C230,电容C212、C246,桥式整流二极管B5,三极管U10;所述电容C246的正极与电源相连,负极接地;所述电阻R27的一端与所述电容C246的正极相连后与电源连接,所述电阻R27的另一端分别与所述电阻R28的一端、所述电容C209的一端、所述三极管U10的脚2相连,所述三极管U10的脚3接地,所述三极管U10的脚1与所述三极管Q10的基极相连,所述三极管Q10的发射极与所述三极管Q11的基极相连,所述三极管Q10的集电极与所述电阻R26的一端相连,所述电阻R26的另一端与所述三极管Q11的集电极相连,所述三极管Q11的发射极与所述电阻R27的一端、所述电容C246的正极相连后再与电源连接;所述三极管U10的脚1另一端与电阻R25的一端相连,所述电阻R25的另一端与所述电阻R220的一端相连,所述电阻R220的另一端分别与所述电阻R350的一端、所述电阻R26的一端相连;所述桥式整流二极管B5的脚1、脚3分别连接电源,所述桥式整流二极管B5的脚2与所述电容C212的正极和所述电容C230的一端相连之后再与所述电阻R350的另一端相连,所述桥式整流二极管B5的脚4与所述电容C212的负极和所述电容C230的另一端相连后接地。


3.根据权利要求1所述的光感控制LED灯智能测试设备,其特征是:所述MOS管电子开关模块包括电阻R188、R89、R17、R189、R190、R199、R198、R20、R212、R213、R200,三极管Q1、Q2,发光管U1,稳压二极管D1、D2、D3,MOS管Q6、Q8,MOS管M1,插座J2;所述MOS管M1的D端连接内部30V电压输入,所述MOS管M1的G端与所述稳压二极管D3的正极相连后再与所述电阻R200的一端相连,所述电阻R20的一端分别接地、与所述电阻R213的一端相连,所述电阻R213的另一端与所述插座J2的接口2相连后,再与所述稳压二极管D3的负极和所述MOS管M1的S端的连接点相连,所述插座J2的接口1分别与所述电阻R200的另一端、所述电阻R212的一端相连,所述电阻R212的另一端分别与所述电阻R20的另一端、所述电阻R198的一端相连,所述电阻R198的另一端与所述电阻R199的一端相连,所述电阻R199的另一端与所述MOS管Q8的源极相连,所述MOS管Q8的漏极与电源相连后再依次与所述稳压二极管D1的正极和所述电阻R190的一端相连,所述MOS管Q8的栅极依次与所述稳压二极管D1的负极和所述电阻R190的另一端相连,所述MOS管Q6的源极接地,所述MOS管Q6的漏极与所述电阻R198的另一端相连,所述MOS管Q6的栅极与所述稳压二极管D2的正极相连后再与所述三极管Q2的集电极相连,所述三极管Q2的发射极分别与所述电阻R189的一端、所述稳压二极管D2的负极相连后接地,所述电阻R189的另一端与所述三极管Q2的基极相连后再与所述电阻R17的一端相连,所述发光管U1分别与所述电阻R17的另一端、电源、所述电阻R89的一端、所述三极管Q1的集电极相连,所述电阻89的另一端连接电源,所述三极管Q1的基极与所述电阻R188的一端相连,所述电阻R188的另一端连接单片机接口PA6,所述三极管Q1的发射极接地。


4.根据权利要求1所述的光感控制LED灯智能测试设备,其特征是:所述LED控制模块包括电阻R34...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐国红
申请(专利权)人:深圳天邦达科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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