一种参数校验的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于参数校验的方法和装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。

A method and device of parameter checking

【技术实现步骤摘要】
一种参数校验的方法和装置
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种参数校验的方法和装置。
技术介绍
业务系统在处理业务时，通常需要与其他业务系统或数据处理中心进行参数传递。其中，参数校验是业务调用过程中很重要的一个环节。例如，对参数进行非空校验、长度校验；对参数进行加密处理、解密处理；对参数进行加敏处理(即，将参数中的一部分变为例如“*”的通用字符)、脱敏处理(即，将参数中的例如“*”的通用字符变为原始值)，等等。目前，业务系统之间或业务系统与数据处理中心之间通常采用如下方式进行参数传递，例如，在业务中采用硬编码的方式，对该业务的参数进行自行校验；再例如，利用Java的注释机制，在业务中需要进行参数校验的位置添加相应的注释，以校验该参数。在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：现有的参数校验方式不够灵活，例如，当对参数的校验规则反生变化时，往往需要修改业务代码，进而导致重新发布业务。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供一种参数校验的方法及装置，能够对多个业务统一进行参数校验，减少了业务系统的开发工作量，并且可以根据实际需要，在不影响现有业务代码的情况下，灵活改变参数校验规则。为实现上述目的，根据本专利技术实施例的第一方面，提供了一种用于参数校验的方法，其特征在于，包括：配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，还包括：使用JavaSpring框架中的Map类型来配置所述参数校验规则，其中，所述Map类型中的关键字(Key)为所述业务类，所述Map类型中的值(Value)为由所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则组成的另一个Map类型。可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，还包括：根据所接收到的参数校验请求，利用Java反射机制获取所述第一业务类；在所述一个或多个参数校验规则中，查找是否存在关于所述第一业务类的参数校验规则，在存在关于所述第一业务类的参数校验规则的情况下，根据所述校验规则对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，在下列一个或多个情况下，产生对于所述第一业务类的异常，并对所述异常进行处理：在所述一个或多个参数校验规则中不存在关于所述第一业务类的参数校验规则，所述参数校验规则未指示所述第一业务类的一个或多个参数，根据所述校验规则所述第一业务类的一个或多个参数未通过校验。可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，所述应用于所述参数的校验规则包括下列中的一个或多个：所述参数的长度是否超过预定长度，所述参数的值是否在预定范围内、所述参数是否为空值、所述参数是否需要加密、所述参数是否需要解密、是否需要将所述参数中的一部分变为通用字符、是否需要将所述参数中的通用字符变为原始值。可选地，所述用于参数校验的方法，其特征在于，通过面向切面编程(AspectOrientedProgramming，AOP)的方式实现所述方法。为实现上述目的，根据本专利技术实施例的第二方面，提供了一种用于参数校验的装置，其特征在于，包括：参数校验规则配置模块、参数校验请求接收模块和参数校验处理模块，其中，所述参数校验规则配置模块，用于配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；所述参数校验请求接收模块，用于接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；所述参数校验处理模块，用于根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。可选地，所述用于参数校验的装置，其特征在于，还包括：所述参数校验规则配置模块使用JavaSpring框架中的Map类型来配置所述参数校验规则，其中，所述Map类型中的关键字(Key)为所述业务类，所述Map类型中的值(Value)为由所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则组成的另一个Map类型。可选地，所述用于参数校验的装置，其特征在于，还包括：所述参数校验请求接收模块根据所接收到的参数校验请求，利用Java反射机制获取所述第一业务类；所述参数校验处理模块在所述一个或多个参数校验规则中，查找是否存在关于所述第一业务类的参数校验规则，在存在关于所述第一业务类的参数校验规则的情况下，根据所述校验规则对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。可选地，所述用于参数校验的装置，其特征在于，在下列一个或多个情况下，所述参数校验处理模块产生对于所述第一业务类的异常，并对所述异常进行处理：在所述一个或多个参数校验规则中不存在关于所述第一业务类的参数校验规则，所述参数校验规则未指示所述第一业务类的一个或多个参数，根据所述校验规则所述第一业务类的一个或多个参数未通过校验。可选地，所述用于参数校验的装置，其特征在于，所述应用于所述参数的校验规则包括下列中的一个或多个：所述参数的长度是否超过预定长度，所述参数的值是否在预定范围内、所述参数是否为空值、所述参数是否需要加密、所述参数是否需要解密、是否需要将所述参数中的一部分变为通用字符、是否需要将所述参数中的通用字符变为原始值。可选地，所述用于参数校验的装置，其特征在于，其特征在于，通过面向切面编程(AspectOrientedProgramming，AOP)的方式实现所述装置。为实现上述目的，根据本专利技术实施例的第三方面，提供了一种业务数据交互的服务器，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上述用于参数校验的方法中任一所述的方法。为实现上述目的，根据本专利技术实施例的第四方面，提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如上述用于参数校验的方法中任一所述的方法。上述专利技术中的一个实施例具有如下优点或有益效果：由于对多个业务统一进行参数校验，因而减少了各业务系统的开发工作量。此外由于采用了面向切面的编程技术来实现参数校验，使得无需修改原有业务的代码。进一步，由于使用JavaSpring框架中的Map类型来配置参数校验规则，使得可以根据实际需要灵活改变参数校验规则。上述的非惯用的可选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加以说明。附图说明附图用于更好地理解本专利技术，不构成对本专利技术的不当限定。其中：图1是根据本专利技术第一实施例的用于参数校验的方法的流程示意图；图2是根据本专利技术第二实施例的用于参数校验的方法的流程示意图。图3是根据本专利技术第三实施例的用于参数校验的装置的主要模块的示意图；图4是本专利技术实施例可以应用于其中的示例性系统架构图；图5是适于用来实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于参数校验的方法，其特征在于，包括：/n配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；/n接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；/n根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于参数校验的方法，其特征在于，包括：
配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；
接收参数校验请求，所述参数校验请求指示了需要进行参数校验的第一业务类；
根据所述参数校验规则，对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：使用JavaSpring框架中的Map类型来配置所述参数校验规则，其中，所述Map类型中的关键字(Key)为所述业务类，所述Map类型中的值(Value)为由所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则组成的另一个Map类型。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
根据所接收到的参数校验请求，利用Java反射机制获取所述第一业务类；
在所述一个或多个参数校验规则中，查找是否存在关于所述第一业务类的参数校验规则，在存在关于所述第一业务类的参数校验规则的情况下，根据所述校验规则对所述第一业务类的一个或多个参数进行处理。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在下列一个或多个情况下，产生对于所述第一业务类的异常，并对所述异常进行处理：在所述一个或多个参数校验规则中不存在关于所述第一业务类的参数校验规则，所述参数校验规则未指示所述第一业务类的一个或多个参数，根据所述校验规则所述第一业务类的一个或多个参数未通过校验。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述应用于所述参数的校验规则包括下列中的一个或多个：所述参数的长度是否超过预定长度，所述参数的值是否在预定范围内、所述参数是否为空值、所述参数是否需要加密、所述参数是否需要解密、是否需要将所述参数中的一部分变为通用字符、是否需要将所述参数中的通用字符变为原始值。


6.根据权利要求1-5任一所述的方法，其特征在于，通过面向切面编程(AspectOrientedProgramming，AOP)的方式实现所述方法。


7.一种用于参数校验的装置，其特征在于，包括：参数校验规则配置模块、参数校验请求接收模块和参数校验处理模块，其中，
所述参数校验规则配置模块，用于配置一个或多个参数校验规则，所述参数校验规则包括业务类，所述业务类的参数以及应用于所述参数的校验规则；
所述参数校验请求接收模块，用于接收参数校验请求，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：余欢，
申请(专利权)人：北京京东尚科信息技术有限公司，北京京东世纪贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11