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一种发光二极管性能检测系统及检测方法技术方案

技术编号:24329553 阅读:32 留言:0更新日期:2020-05-29 19:09
本发明专利技术涉及电子加工领域,特别涉及一种发光二极管性能检测系统及检测方法,包括放置箱和检测架,放置箱的顶部开设有第一插槽,第一插槽内插设有旋转盘,旋转盘内对称开设有通槽,通槽均与放置槽对称设置并相连通,旋转盘的外侧开设有齿槽,放置箱的一侧固定连接有旋转电机,旋转电机的输出端固定连接有齿轮,齿轮与齿槽对称设置并相啮合,旋转盘的顶部设有限位块,限位块内开设有限位槽,限位块的底部对称固定连接有第一伸缩杆,第一伸缩杆的一端均固定连接在放置箱的顶部。本发明专利技术可以快速的对发光二极管进行批量检测,提高了检测效率,同时对需要检测的发光二极管进行整理码放。进一步提高了检测效率,适合推广。

A performance testing system and method of LED

【技术实现步骤摘要】
一种发光二极管性能检测系统及检测方法
本专利技术涉及电子检测
,特别涉及一种发光二极管性能检测系统及检测方法。
技术介绍
发光二极管简称LED,其根据化学性质有分为有机发光二极管OLED和无机发光二极管LED,可以高效的将电能转换为光能,因此,是现代社会一种被广泛使用的电子器件。发光二极管在生产完成后,一般都需要进行检测,确认产品的性能和质量,而发光二极管通常体积较小,传统的检测方式费时费力,需要人工手动使用万用表对发光二极管进行检测,非常的不方便,且效率低下。为此,我们提出了一种发光二极管性能检测系统及检测方法,可以快速高效的检测发光二极管的性能,且可以同时对多个发光二极管进行检测,降低了生产成本,提高了生产效率。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术提供了一种发光二极管性能检测系统及检测方法,本专利技术可以快速高效的检测发光二极管的性能,且可以同时对多个发光二极管进行检测,降低了生产成本,提高了生产效率。为了实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案,包括放置箱和检测架,所述的放置箱内对称开设有放置槽,所述放置槽内的一端均开设有凹槽,所述放置槽内的一侧均固定连接有挡板,所述放置槽用于防止发光二极管,所述凹槽配合所述挡板可以防止发光二极管垂直落入放置槽内;所述的放置箱的顶部开设有第一插槽,所述第一插槽内插设有旋转盘,所述旋转盘内对称开设有通槽,所述通槽均与所述放置槽对称设置并相连通,所述旋转盘的外侧开设有齿槽,所述放置箱的一侧固定连接有旋转电机,所述旋转电机的输出端固定连接有齿轮,所述齿轮与所述齿槽对称设置并相啮合,所述旋转盘的顶部设有限位块,所述限位块内开设有限位槽,所述限位块的底部对称固定连接有固定杆,所述固定杆的一端均固定连接在所述放置箱的顶部,所述旋转盘通过旋转可以将发光二极管落入放置槽内;所述的检测架插设在所述放置箱的底部,所述检测架内插设有检测盘并活动连接,所述检测盘内对称开设有若干检测槽,所述检测槽的一端固定连接有固定套环,所述检测槽远离所述固定套环的一端为开放式结构,所述检测架的一侧对称固定连接有滑杆,所述滑杆上插设有活动板,所述活动板的底部对称开设有滑槽,所述滑槽内均插设有活动套环,所述活动板的底部一端固定连接有铜箔,所述铜箔与所述固定套环对称设置并相接触,所述活动板的顶部固定连接有万用表,所述万用表通过导线分别于所述铜箔和所述活动套环相连接。此外,本专利技术还提供了一种发光二极管性能检测方法,由上述发光二极管性能检测系统配合完成,主要包括以下步骤;S1、设备检查:在启用该发光二极管性能检测系统之前,对设备运行进行检查;S2、放置发光二极管:将发光二极管放置在限位槽内,通过旋转盘的旋转,将发光二极管落入放置槽内;S3、检测发光二极管:通过抽拉检测盘,将放置槽内的发光二极管落入检测槽内,操作活动板与检测盘相结合,通过活动套环将发光二极管抵紧在固定套环上,使用万用表进行检测即可;S4、重复操作:将检测好的发光二极管取下后,重复操作S3即可。作为本专利技术的一种优选技术方案,所述的放置箱的顶部对称固定连接有若干凸点,所述旋转盘的底部对称开设有若干卡槽,所述凸点均与所述卡槽对称设置,所述齿槽的高度高于所述齿轮的厚度,所述固定杆均为可伸缩式。作为本专利技术的一种优选技术方案,所述限位槽的两侧对称开设有若干拨片。作为本专利技术的一种优选技术方案,所述的活动板内固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧的一端固定连接在所述活动套环上,所述第一弹簧为中空结构,所述第一弹簧内插设有导线。作为本专利技术的一种优选技术方案,所述的检测架内对称固定连接有伸缩杆,所述伸缩杆远离所述检测架的一端固定连接有L型的卡板,所述卡板的顶部对称开设有若干窗口,所述窗口与所述检测槽对称设置,所述窗口均贯穿所述所述采用窗口均与所述放置槽交错设置,所述伸缩杆的外侧套设有第二弹簧,所述第二弹簧的两端均分别固定连接在所述检测架与所述卡板上。作为本专利技术的一种优选技术方案,所述的固定套环与所述的活动套环相对应的一端均开设有漏斗槽。本专利技术的有益效果在于:1.本专利技术可以快速高效的检测发光二极管的性能,且可以同时对多个发光二极管进行检测,降低了生产成本,提高了生产效率。2.本专利技术设计了旋转盘,旋转盘通过旋转的震动,使限位槽内的发光二极管通过通槽落入放置槽内,实现对发光二极管的整理码放,进一步提高了检测效率。3.本专利技术设计了检测盘,检测盘通过检测槽可以同时承载将若干个发光二极管,通过与活动板的结合实现批量检测发光二极管的目的。4.本专利技术设计了活动板,活动板通过滑槽和活动套环可以实现同时对多个不同长度的发光二极管进行固定,具有较高了灵活性。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是本专利技术的放置箱的主视结构示意图;图2是本专利技术的放置箱的底视结构示意图;图3是本专利技术的放置箱的剖视结构示意图;图4是本专利技术的检测架的主视结构示意图;图5是本专利技术的检测架的底视结构示意图;图6是本专利技术的检测盘的剖视结构示意图;图7是本专利技术的活动板的剖视结构示意图;图8是本专利技术的第一弹簧的局部剖视结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本专利技术。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。如图1至图8所示,一种发光二极管性能检测系统及检测方法,包括放置箱1和检测架2,放置箱1内对称开设有放置槽11,放置槽11内的一端均开设有凹槽12,放置槽11内的一侧均固定连接有挡板13,放置槽11用于放置发光二极管,凹槽12配合挡板13可以防止发光二极管垂直落入放置槽11内;放置箱1的顶部开设有第一插槽14,第一插槽14内插设有旋转盘3,旋转盘3内对称开设有通槽31,通槽31均与放置槽11对称设置并相连通,旋转盘3的外侧开设有齿槽32,放置箱1的一侧固定连接有旋转电机15,旋转电机15的输出端固定连接有齿轮16,齿轮16与齿槽32对称设置并相啮合,旋转盘3的顶部设有限位块4,限位块4内开设有限位槽41,限位块4的底部对称固定连接有固定杆42,固定杆42的一端均固定连接在放置箱1的顶部,旋转盘3通过旋转可以实现对发光二极管的整理,通槽31用于连通放置槽11,旋转电机15通过齿轮16带动旋转盘3进行旋转,限位块4内的限位槽41用于对发光二极管进行限位,用于配合旋转盘3对发光二极管的整理;检测架2插设在放置箱1的底部,检测架2内插设有检测盘21并活动连接,检测盘21内对称开设有若干检测槽22,检测槽22的一端固定连接有固定套环23,检测槽22远离固定套环23的一端为开放式结构,检测架2的一侧对称固定连接有滑杆24,滑杆24上插设有活动板5,活动板5的底部对称开设有滑槽51,滑槽51内均插设有活动套环52,活动板5的底部一端固定连接有铜箔53,铜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光二极管性能检测系统及检测方法,包括放置箱(1)和检测架(2),其特征在于:所述的放置箱(1)内对称开设有放置槽(11),所述放置槽(11)内的一端均开设有凹槽(12),所述放置槽(11)内的一侧均固定连接有挡板(13);/n所述的放置箱(1)的顶部开设有第一插槽(14),所述第一插槽(14)内插设有旋转盘(3),所述旋转盘(3)内对称开设有通槽(31),所述通槽(31)均与所述放置槽(11)对称设置并相连通,所述旋转盘(3)的外侧开设有齿槽(32),所述放置箱(1)的一侧固定连接有旋转电机(15),所述旋转电机(15)的输出端固定连接有齿轮(16),所述齿轮(16)与所述齿槽(32)对称设置并相啮合,所述旋转盘(3)的顶部设有限位块(4),所述限位块(4)内开设有限位槽(41),所述限位块(4)的底部对称固定连接有固定杆(42),所述固定杆(42)的一端均固定连接在所述放置箱(1)的顶部;/n所述的检测架(2)插设在所述放置箱(1)的底部,所述检测架(2)内插设有检测盘(21)并活动连接,所述检测盘(21)内对称开设有若干检测槽(22),所述检测槽(22)的一端固定连接有固定套环(23),所述检测槽(22)远离所述固定套环(23)的一端为开放式结构,所述检测架(2)的一侧对称固定连接有滑杆(24),所述滑杆(24)上插设有活动板(5),所述活动板(5)的底部对称开设有滑槽(51),所述滑槽(51)内均插设有活动套环(52),所述活动板(5)的底部一端固定连接有铜箔(53),所述铜箔(53)与所述固定套环(23)对称设置并相接触,所述活动板(5)的顶部固定连接有万用表(54),所述万用表(54)通过导线分别于所述铜箔(53)和所述活动套环(52)相连接。/n此外,本专利技术还提供了一种发光二极管性能检测方法,由上述发光二极管性能检测系统配合完成,主要包括以下步骤;/nS1、设备检查:在启用该发光二极管性能检测系统之前,对设备运行进行检查;/nS2、放置发光二极管:将发光二极管放置在限位槽(41)内,通过旋转盘(3)的旋转,将发光二极管落入放置槽(11)内;/nS3、检测发光二极管:通过抽拉检测盘(21),将放置槽(41)内的发光二极管落入检测槽(22)内,操作活动板(5)与检测盘(21)相结合,通过活动套环(52)将发光二极管抵紧在固定套环(23)上,使用万用表(54)进行检测;/nS4、重复操作:将检测好的发光二极管取下后,重复操作S3即可。/n...

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管性能检测系统及检测方法,包括放置箱(1)和检测架(2),其特征在于:所述的放置箱(1)内对称开设有放置槽(11),所述放置槽(11)内的一端均开设有凹槽(12),所述放置槽(11)内的一侧均固定连接有挡板(13);
所述的放置箱(1)的顶部开设有第一插槽(14),所述第一插槽(14)内插设有旋转盘(3),所述旋转盘(3)内对称开设有通槽(31),所述通槽(31)均与所述放置槽(11)对称设置并相连通,所述旋转盘(3)的外侧开设有齿槽(32),所述放置箱(1)的一侧固定连接有旋转电机(15),所述旋转电机(15)的输出端固定连接有齿轮(16),所述齿轮(16)与所述齿槽(32)对称设置并相啮合,所述旋转盘(3)的顶部设有限位块(4),所述限位块(4)内开设有限位槽(41),所述限位块(4)的底部对称固定连接有固定杆(42),所述固定杆(42)的一端均固定连接在所述放置箱(1)的顶部;
所述的检测架(2)插设在所述放置箱(1)的底部,所述检测架(2)内插设有检测盘(21)并活动连接,所述检测盘(21)内对称开设有若干检测槽(22),所述检测槽(22)的一端固定连接有固定套环(23),所述检测槽(22)远离所述固定套环(23)的一端为开放式结构,所述检测架(2)的一侧对称固定连接有滑杆(24),所述滑杆(24)上插设有活动板(5),所述活动板(5)的底部对称开设有滑槽(51),所述滑槽(51)内均插设有活动套环(52),所述活动板(5)的底部一端固定连接有铜箔(53),所述铜箔(53)与所述固定套环(23)对称设置并相接触,所述活动板(5)的顶部固定连接有万用表(54),所述万用表(54)通过导线分别于所述铜箔(53)和所述活动套环(52)相连接。
此外,本发明还提供了一种发光二极管性能检测方法,由上述发光二极管性能检测系统配合完成,主要包括以下步骤;
S1、设备检查:在启用该发光二极管性能检测系统之前,对设备运行进行检查;
S2、放置发光二极管:将发光二极管放置在限位槽(41)内,通过旋转盘(3)的旋转,将发...

【专利技术属性】
技术研发人员:俞烽未海
申请(专利权)人:俞烽
类型:发明
国别省市:浙江;33

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