一种荧光探测方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种荧光探测方法，包括：通过光锥对荧光进行收集，第一滤光片对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；通过第一探测器对所述第一目标光束进行检测处理；通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。本发明专利技术还公开了一种荧光探测系统及装置。本发明专利技术公开了一种荧光探测方法系统及装置通过设置多个信号通道，以收集空间荧光并对其进行多信号检测。

A fluorescence detection method, system and device

【技术实现步骤摘要】
一种荧光探测方法、系统及装置
本专利技术实施例涉及荧光探测
，尤其涉及一种荧光探测方法、系统及设备。
技术介绍
荧光检测在我们的日常生活中应用非常广泛且重要，如材料学、生物学(叶绿素和类胡卜素)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术。而荧光检测技术其精确度高及灵敏性好，也为各需求领域提供了更加可靠的结果，但目前常用的荧光检测系统通常体积较大、成本高、检查范围单一，限制了其使用范围，因此研制成本低、集成度高、使用范围广泛的荧光检测系统成为当前检测系统发展的重要目的之一。
技术实现思路
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。本专利技术提供了一种荧光探测方法、系统及设备，能够设置多个信号通道，以收集空间荧光并对其进行多信号检测。第一方面，本专利技术实施例提供了一种荧光探测方法，包括：通过光锥对初始荧光进行收集，第一滤光片对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；通过第一探测器对所述第一目标光束进行检测处理；通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。本专利技术实施例能够设置多个信号通道，以收集空间荧光并对其进行多信号检测。根据本专利技术的另一些实施例的荧光探测方法，还包括：第二探测器，所述第二探测器用于对所述第二目标光束进行检测处理；所述通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，还包括：对所述第一滤光反射光束进行滤光处理后所剩余的光束进行反射以生成第二滤光反射光束。根据本专利技术的另一些实施例的荧光探测方法，通过准直器对所述初始荧光进行准直处理；所述准直器包括：光纤、微细管、准直透镜、玻管；所述玻管中设有中空通道，所述微细管与所述中空通道的一端套接；所述光纤与所述微细管套接，所述准直透镜与所述中空通道的另一端套接。根据本专利技术的另一些实施例的荧光探测方法，还包括：若干波分复用器；第一波分复用器包括第一输入端、第一输出端、第一反射输入端；所述第一输入端用于接收所述初始荧光，所述第一输出端用于输出所述初始荧光并接收所述第一滤光反射光束；第二波分复用器包括第二输入端、第二输出端、第二反射输入端；所述第一反射输入端与所述第二输入端连接；所述第二输入端用于接收所述第一滤光反射光束，所述第二输出端用于输出所述第一滤光反射光束并接收所述第二滤光反射光束。第二方面，本专利技术实施例提供了一种装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的荧光探测方法。本专利技术实施例能够设置多个信号通道，以收集空间荧光并对其进行多信号检测。第三方面，本专利技术实施例提供了一种荧光探测系统，包括：光锥、第一滤光片、第一探测器、第二滤光片；所述光锥，用于对初始荧光进行收集；所述第一滤光片，用于对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；所述第一探测器，用于对所述第一目标光束进行检测处理；所述第二滤光片，用于对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。本专利技术实施例能够设置多个信号通道，以收集空间荧光并对其进行多信号检测。根据本专利技术的另一些实施例的荧光探测系统，还包括：第二探测器、第二滤光片；所述第二探测器用于对所述第二目标光束进行检测处理；所述通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，还包括：对所述第一滤光反射光束进行滤光处理后所剩余的光束进行反射以生成第二滤光反射光束。根据本专利技术的另一些实施例的荧光探测系统，通过准直器对所述初始荧光进行准直处理；所述准直器包括：光纤、微细管、准直透镜、玻管；所述玻管中设有中空通道，所述微细管与所述中空通道的一端套接；所述光纤与所述微细管套接，所述准直透镜与所述中空通道的另一端套接。根据本专利技术的另一些实施例的荧光探测系统，还包括：若干波分复用器；第一波分复用器包括第一输入端、第一输出端、第一反射输入端；所述第一输入端用于接收所述初始荧光，所述第一输出端用于输出所述初始荧光并接收所述第一滤光反射光束；第二波分复用器包括第二输入端、第二输出端、第二反射输入端；所述第一反射输入端与所述第二输入端连接；所述第二输入端用于接收所述第一滤光反射光束，所述第二输出端用于输出所述第一滤光反射光束并接收所述第二滤光反射光束。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。图1是本专利技术实施例中一种荧光探测系统的光路示意图；图2是本专利技术实施例中一种荧光探测系统的结构示意图；图3A至图3C是本专利技术实施例中一种光锥的结构示意图；图4是本专利技术实施例中一种光纤准直器的结构示意图；图5是本专利技术实施例中一种荧光探测系统的结构示意图；图6是本专利技术实施例中一种波分复用器的工作原理示意图：图7是本专利技术实施例中一种荧光探测系统的结构示意图。附图标记说明10、初始荧光；11、第一目标光束；12、第二目标光束；13、第三目标光束；14、第四目标光束；15、第五目标光束；21、第一滤光反射光束；22、第二滤光反射光束；23、第三滤光反射光束；24、第四滤光反射光束；30、滤光片；31、第一滤光片；32、第二滤光片；33、第三滤光片；34、第四滤光片；35、第五滤光片；41、第一波分复用器；42、第二波分复用器；43、第三波分复用器；44、第四波分复用器；45、第五波分复用器；50、光锥；51、入射端面；52、旋转侧面；53、出射端面；54、传输光纤；60、准直器；61、光纤；62、微细管；63、准直透镜；64、玻管；70、波分复用器；71、输入光纤；72、反射输入光纤；73、复用传输光纤；80、探测器；81、第一探测器；82、第二探测器；83、第三探测器；84、第四探测器；85、第五探测器；90、腔体。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。在本专利技术的描述中，如果涉及到方位描述，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种荧光探测方法，其特征在于，包括：/n通过光锥对初始荧光进行收集，第一滤光片对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；/n通过第一探测器对所述第一目标光束进行检测处理；/n通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。/n

【技术特征摘要】
1.一种荧光探测方法，其特征在于，包括：
通过光锥对初始荧光进行收集，第一滤光片对所述初始荧光进行滤光处理，以获取第一目标光束并产生第一滤光反射光束；
通过第一探测器对所述第一目标光束进行检测处理；
通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，以获取第二目标光束。


2.根据权利要求1所述的荧光探测方法，其特征在于，还包括：第二探测器，所述第二探测器用于对所述第二目标光束进行检测处理；
所述通过第二滤光片对所述第一滤光反射光束进行滤光处理，还包括：对所述第一滤光反射光束进行滤光处理后所剩余的光束进行反射以生成第二滤光反射光束。


3.据权利要求1所述的荧光探测方法，其特征在于，通过准直器对所述初始荧光进行准直处理；
所述准直器包括：光纤、微细管、准直透镜、玻管；
所述玻管中设有中空通道，所述微细管与所述中空通道的一端套接；
所述光纤与所述微细管套接，所述准直透镜与所述中空通道的另一端套接。


4.根据权利要求3所述的荧光探测方法，其特征在于，还包括：若干波分复用器；
第一波分复用器包括第一输入端、第一输出端、第一反射输入端；
所述第一输入端用于接收所述初始荧光，所述第一输出端用于输出所述初始荧光并接收所述第一滤光反射光束；
第二波分复用器包括第二输入端、第二输出端、第二反射输入端；
所述第一反射输入端与所述第二输入端连接；
所述第二输入端用于接收所述第一滤光反射光束，所述第二输出端用于输出所述第一滤光反射光束并接收所述第二滤光反射光束。


5.一种装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙跃金，韦琪，张峰，陆众，苏习明，陆海龙，
申请(专利权)人：光越科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44