一种半导体测试支架制造技术

技术编号:24328776 阅读:22 留言:0更新日期:2020-05-29 18:55
本实用新型专利技术公开了一种半导体测试支架,包括第一底板、第二底板和支撑板,所述支撑板位于第一底板和第二底板一侧,所述支撑板内壁一侧开设有滑动槽,所述滑动槽内部滑动连接有T形滑动块,所述T形滑动块远离支撑板的一端固定连接有测试板,所述第二底板上方固定连接有固定箱,且测试板通过液压杆与固定箱相连,所述测试板内部开设有测试区,所述测试区内部开设有通孔,所述测试板下方固定连接有固定吸盘,所述固定吸盘下方固定连接有伸缩管,本实用新型专利技术涉及半导体测试技术领域。该半导体测试支架,极大的方便了半导体的固定工作,减轻测试人员的工作负担,提升测试效率,同时可以根据需要调节测试的高度,简单方便,使用便捷。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试支架
本技术涉及半导体测试
,具体为一种半导体测试支架。
技术介绍
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在消费电子、通信系统、医疗仪器等领域有广泛应用。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,而硅更是各种半导体材料中,在商业应用上最具有影响力的一种。半导体在生产加工过程中通常需要进行测试工作,以检验半导体的生产质量,在半导体的测试过程中通常会需要用到测试支架,而现有的半导体测试支架在测试时对半导体固定较麻烦,降低测试的效率,另外现有的半导体测试支架在测试使不方便根据需要调节高度,从而造成使用不便的问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本技术提供了一种半导体测试支架,解决了现有的半导体测试支架在测试时半导体固定较麻烦和不方便调节测试高度的问题。为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:一种半导体测试支架,包括第一底板、第二底板和支撑板,所述支撑板位于第一底板和第二底板一侧,所述支撑板内壁一侧开设有滑动槽,所述滑动槽内部滑动连接有T形滑动块,所述T形滑动块远离支撑板的一端固定连接有测试板,所述第一底板上方固定连接有固定箱,且测试板通过液压杆与固定箱相连,所述测试板内部开设有测试区,所述测试区内部开设有通孔,所述测试板下方固定连接有固定吸盘,所述固定吸盘下方固定连接有伸缩管,所述伸缩管另一端螺纹连接有小型抽气泵,且小型抽气泵位于固定箱内部,优选的,所述第一底板和第二底板之间设置有定位板,且定位板与支撑板内壁滑动连接,所述第二底板与定位板之间螺纹连接有紧固螺杆,所述定位板外壁上方和第一底板外壁下方均开设有防滑纹。优选的,所述测试板与固定吸盘之间通过焊接连接。优选的,所述支撑板与测试板之间滑动连接。优选的,所述第一底板和第二底板与支撑板之间均通过焊接连接。有益效果本技术提供了一种半导体测试支架。具备以下有益效果:(1)、该半导体测试支架,通过在支撑板内壁一侧开设有滑动槽,在滑动槽内部滑动连接有T形滑动块,使得T形滑动块另一侧固定连接有测试板,并使得测试板通过液压杆与固定箱相连可以方便调节测试板的高度,便于半导体的测试工作;通过设置的测试区、通孔、固定吸盘、伸缩管和小型抽气泵,可以方便对半导体进行固定,极大的方便了半导体的固定工作,减轻测试人员的工作负担,提升测试效率。(2)、该半导体测试支架,通过在第一底板和第二底板之间设置有定位板,并使得定位板与支撑板内壁滑动连接,通过利用第二底板与定位板之间螺纹连接有紧固螺杆,并在定位板外壁上方和第一底板外壁下方均开设有防滑纹,可以方便该半导体测试支架与测试机床之间的连接,便于固定和安装。附图说明图1为本技术整体结构示意图;图2为本技术测试板结构示意图;图3为本技术定位板结构示意图。图中:1、第一底板;2、支撑板;3、固定箱;4、滑动槽;5、T形滑动块;6、测试板;7、液压杆;8、通孔;9、固定吸盘;10、伸缩管;11、小型抽气泵;12、测试区;13、定位板;14、第二底板;15、紧固螺杆;16、防滑纹。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3,本技术提供一种技术方案:一种半导体测试支架,包括第一底板1、第二底板14和支撑板2,支撑板2位于第一底板1和第二底板14一侧,支撑板2内壁一侧开设有滑动槽4,滑动槽4内部滑动连接有T形滑动块5,T形滑动块5远离支撑板2的一端固定连接有测试板6,第一底板1上方固定连接有固定箱3,且测试板6通过液压杆7与固定箱3相连,测试板6内部开设有测试区12,测试区12内部开设有通孔8,测试板6下方固定连接有固定吸盘9,固定吸盘9下方固定连接有伸缩管10,伸缩管10另一端螺纹连接有小型抽气泵11,且小型抽气泵11位于固定箱3内部,第一底板1和第二底板14之间设置有定位板13,且定位板13与支撑板2内壁滑动连接,第二底板14与定位板13之间螺纹连接有紧固螺杆15,定位板13外壁上方和第一底板1外壁下方均开设有防滑纹16,测试板6与固定吸盘9之间通过焊接连接,支撑板2与测试板6之间滑动连接,第一底板1和第二底板14与支撑板2之间均通过焊接连接,通过第一底板1和定位板13将测试支架与测试机床进行固定,同时通过第二底板14与定位板13之间的紧固螺杆15对定位板13进行紧固,从而可以将测试支架牢牢的固定在测试机床上,方便该半导体测试支架与测试机床之间的连接,便于固定和安装,将需要测试的半导体放置在测试板6上的测试区12,通过调节液压杆7可以根据需要调节测试所需要的高度,便于半导体的测试工作,通过设置的测试板6、测试区12、通孔8、固定吸盘9、伸缩管10和小型抽气泵11,可以方便对半导体进行固定,极大的方便了半导体的固定工作,减轻测试人员的工作负担,提升测试效率。工作时,通过第一底板1和定位板13将测试支架与测试机床进行固定,同时通过第二底板14与定位板13之间的紧固螺杆15对定位板13进行紧固,从而可以将测试支架牢牢的固定在测试机床上,再将需要测试的半导体放置在测试板6上的测试区12,通过调节液压杆7可以根据需要调节测试所需要的高度,同时打开小型抽气泵11可以使得测试板6和固定吸盘9内部呈负压,从而可以对测试区12上方的半导体进行固定,极大的方便了半导体的测试工作。需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。尽管已经示出和描述了本技术的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体测试支架,包括第一底板(1)、第二底板(14)和支撑板(2),所述支撑板(2)位于第一底板(1)和第二底板(14)一侧,其特征在于:所述支撑板(2)内壁一侧开设有滑动槽(4),所述滑动槽(4)内部滑动连接有T形滑动块(5),所述T形滑动块(5)远离支撑板(2)的一端固定连接有测试板(6),所述第一底板(1)上方固定连接有固定箱(3),且测试板(6)通过液压杆(7)与固定箱(3)相连,所述测试板(6)内部开设有测试区(12),所述测试区(12)内部开设有通孔(8),所述测试板(6)下方固定连接有固定吸盘(9),所述固定吸盘(9)下方固定连接有伸缩管(10),所述伸缩管(10)另一端螺纹连接有小型抽气泵(11),且小型抽气泵(11)位于固定箱(3)内部。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试支架,包括第一底板(1)、第二底板(14)和支撑板(2),所述支撑板(2)位于第一底板(1)和第二底板(14)一侧,其特征在于:所述支撑板(2)内壁一侧开设有滑动槽(4),所述滑动槽(4)内部滑动连接有T形滑动块(5),所述T形滑动块(5)远离支撑板(2)的一端固定连接有测试板(6),所述第一底板(1)上方固定连接有固定箱(3),且测试板(6)通过液压杆(7)与固定箱(3)相连,所述测试板(6)内部开设有测试区(12),所述测试区(12)内部开设有通孔(8),所述测试板(6)下方固定连接有固定吸盘(9),所述固定吸盘(9)下方固定连接有伸缩管(10),所述伸缩管(10)另一端螺纹连接有小型抽气泵(11),且小型抽气泵(11)位于固定箱(3)内部。


2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈文
申请(专利权)人:安庆师范大学
类型:新型
国别省市:安徽;34

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