一种温补衰减器用高频筛选测试夹具制造技术

技术编号:24326552 阅读:93 留言:0更新日期:2020-05-29 18:15
本实用新型专利技术公开了一种温补衰减器用高频筛选测试夹具,包括底座,底座上固定设有基台,底座位于基台后方固定设有支板,支板上设有导轨,基台上设有夹具座,夹具座中部凹设有槽,槽中部固定设有测试限位块,测试限位块中部设有放置槽,导轨上活动滑设有滑块,滑块前侧连接设有活动板,支板顶部位于导轨上方固定设有把手座,把手座另一端中部设有活动槽,活动槽内活动连接设有一圆柱形活动块,圆柱形活动块下方固定设有连接臂,连接臂另一端与活动板相互连接,活动板下方位于测试限位块正上方设有压块,压块下方对应放置槽处设有触头,本实用新型专利技术结构简单,能够实现温补衰减器测试100%高频无损筛选测试,保证衰减器的可靠性及电性能参数的一致性。

A high frequency screening test fixture for Temperature Compensation Attenuator

【技术实现步骤摘要】
一种温补衰减器用高频筛选测试夹具
本技术涉及温补衰减器测试用具领域,尤其涉及一种温补衰减器用高频筛选测试夹具。
技术介绍
温补衰减器是近几年才逐步发展起来的新型微波无源器件,如何确定该产品的高频电性能指标是否满足相应标准要求,是这一类型新产品面对的主要问题,而微波高频筛选测试夹具正是解决是这一产品高频筛选问题的关键点所在。目前实现这一类产品的高频电性能测试,主要是根据产品引出端类型的不同,将产品通过锡焊安装或是金丝键合安装在电路板上进行测试,导致焊装或键合安装测试后的产品报废不能实现发货,这种测试方法的缺点是不能实现产品的高频筛选无损测试。
技术实现思路
本技术的目的在于,克服现有技术的上述缺陷,提供一种温补衰减器用高频筛选测试夹具。为实现上述目的,本技术提供的技术方案如下:一种温补衰减器用高频筛选测试夹具,包括底座,底座上固定设有基台,底座位于基台后方固定设有支板,支板面朝底座方向垂直设有导轨,基台上设有夹具座,夹具座中部凹设有槽,槽中部固定设有测试限位块,测试限位块中部设有放置槽,夹具座位于放置槽下方横向设有微带线,微带线两端向夹具座左侧壁及右侧壁延伸贯通分别连接设有测试连接器,导轨上活动滑设有滑块,滑块前侧连接设有活动板,支板顶部位于导轨上方固定设有把手座,把手座另一端中部设有活动槽,活动槽内活动连接设有一圆柱形活动块,圆柱形活动块前侧固定连接设有€把手,圆柱形活动块下方固定设有连接臂,连接臂另一端与活动板相互连接,活动板下方位于测试限位块正上方设有压块,压块下方对应放置槽处设有触头。<br>进一步的,触头与压块之间设有弹簧柱。进一步的,圆柱形活动块与把手座连接端位于圆柱形活动块偏离圆心一侧。进一步的,测试连接器型号为2.92mm-f。进一步的,连接器分别与矢量网络分析仪连接。本技术的有益之处是:结构简单,能够实现温补衰减器测试100%高频无损筛选测试,保证衰减器的可靠性及电性能参数的一致性,值得广泛推广。附图说明图1是本技术一种温补衰减器用高频筛选测试夹具的立体结构示意图。具体实施方式下面结合附图及较佳实施例就本技术的技术方案作进一步的说明。如图1所示,本技术所述的一种温补衰减器用高频筛选测试夹具,包括底座1,底座1上固定设有基台2,底座1位于基台2后方固定设有支板3,支板3面朝底座1方向垂直设有导轨3,基台2上设有夹具座4,夹具座4中部凹设有槽41,槽41中部固定设有测试限位块42,测试限位块42中部设有放置槽43,夹具座4位于放置槽43下方横向设有微带线44,微带线44两端向夹具座4左侧壁及右侧壁延伸贯通分别连接设有测试连接器45,导轨31上活动滑设有滑块32,滑块32前侧连接设有活动板33,支板3顶部位于导轨31上方固定设有把手座51,把手座51另一端中部设有活动槽52,活动槽52内活动连接设有一圆柱形活动块53,圆柱形活动块53前侧固定连接设有把手54,圆柱形活动块53下方固定设有连接臂55,连接臂55另一端与活动板33相互连接,活动板33下方位于测试限位块42正上方设有压块56,压块56下方对应放置槽43处设有触头57。进一步的,触头57与压块56之间设有弹簧柱(图中未示出)。进一步的,圆柱形活动块53与把手座52连接端位于圆柱形活动块53偏离圆心一侧。进一步的,测试连接器45型号为2.92mm-f。进一步的,测试连接器45分别与矢量网络分析仪连接。以上,本技术结构简单,测试时,将测试连接器与矢量网络分析仪电性连接,将待侧件放置于放置槽43内,按压把手54,由于圆柱形活动块53与把手座52连接端位于圆柱形活动块53偏离圆心一侧,使得把手54在下压过程中带动连接臂55连接的活动板33在导轨31上向下活动,按压过程中触头57将待侧件压紧贴合于放置槽43,由于夹具座4位于放置槽43下方横向设有微带线44,此时,待测件上的电路与微带线44上的电路接触重合导通,矢量网络分析仪即可将测试数据进行显示,本技术可实现温补衰减器100%高频无损筛选测试,保证产品的可靠性及电性能参数的一致性。以上所述的仅是本技术的原理和较佳实施例。应当指出,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本技术原理的前提下,还能做出若干的变型和改进,也应视为属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温补衰减器用高频筛选测试夹具,包括底座,底座上固定设有基台,底座位于基台后方固定设有支板,其特征在于:所述支板面朝底座方向垂直设有导轨,基台上设有夹具座,夹具座中部凹设有槽,槽中部固定设有测试限位块,测试限位块中部设有放置槽,夹具座位于放置槽下方横向设有微带线,微带线两端向夹具座左侧壁及右侧壁延伸贯通分别连接设有测试连接器,导轨上活动滑设有滑块,滑块前侧连接设有活动板,支板顶部位于导轨上方固定设有把手座,把手座另一端中部设有活动槽,活动槽内活动连接设有一圆柱形活动块,圆柱形活动块前侧固定连接设有把手,圆柱形活动块下方固定设有连接臂,连接臂另一端与活动板相互连接,活动板下方位于测试限位块正上方设有压块,压块下方对应放置槽处设有触头。/n

【技术特征摘要】
1.一种温补衰减器用高频筛选测试夹具,包括底座,底座上固定设有基台,底座位于基台后方固定设有支板,其特征在于:所述支板面朝底座方向垂直设有导轨,基台上设有夹具座,夹具座中部凹设有槽,槽中部固定设有测试限位块,测试限位块中部设有放置槽,夹具座位于放置槽下方横向设有微带线,微带线两端向夹具座左侧壁及右侧壁延伸贯通分别连接设有测试连接器,导轨上活动滑设有滑块,滑块前侧连接设有活动板,支板顶部位于导轨上方固定设有把手座,把手座另一端中部设有活动槽,活动槽内活动连接设有一圆柱形活动块,圆柱形活动块前侧固定连接设有把手,圆柱形活动块下方固定设有连接臂,连接臂另一端与活动板相互连接,活动板下方位于测...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱雪婷吕胜权陈庆红陈昌禧韩玉成
申请(专利权)人:中国振华集团云科电子有限公司贵州振华电子信息产业技术研究有限公司
类型:新型
国别省市:贵州;52

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