一种SFP光模块测试板制造技术

本实用新型专利技术提供一种SFP光模块测试板，用于测试SFP光模块的高频性能，所述SFP光模块测试板包括电源电路、外围电路、IIC总线电路与射频电路，所述外围电路、IIC总线电路与射频电路均连接通信，所述电源电路用于为所述SFP光模块测试板提供电源，所述外围电路用于显示所述SFP光模块测试板的工作状态，所述IIC总线电路用于与计算机连接通信，所述射频电路用于将所述SFP光模块与测试设备连接通信。本实用新型专利技术的SFP光模块测试板具有能够节约测试成本、极大提高测试效率的益处。

A kind of testing board for optical module of SFP

【技术实现步骤摘要】
一种SFP光模块测试板
本技术属于通信器件测试设备
，具体涉及一种SFP光模块测试板。
技术介绍
近年来，随着技术的进步和政策的推动，光接入网进入了快速发展的轨道，而SFP光模块作为以太网物理层中核心器件起到关键性作用。器件性能测试对器件有着很大的作用，只有更加精确的表征器件的各方面特性，才能指导器件得到更良好的应用。光电子器件的高频性能测试包括两个方面，小信号频率响应特性测试和大信号动态特性测试，小信号频率响应描述的是器件在不同频率下的传输特性和反射特性，其反应器件的线性响应度；大信号测试是器件在不同速率下的传输特性，其反应器件的非线性特性。目前对于SFP光模块测试技术需要标准SFP光模块和交换机配套进行，并用计算机测试软件查看SFP光模块信息。可以看出这种测试方法较为繁琐，效率不高，特别是在实验室使用矢量网络分析仪和误码仪等测试仪器测试它的高频特性时，更是无法满足测试要求。因此，对于现有SFP光模块测试技术有待于做进一步的改进。
技术实现思路
本技术之目的提供了一种SFP光模块测试板，其能够节约测试成本，极大提高测试效率。本技术提供一种SFP光模块测试板，用于测试SFP光模块的高频性能，所述SFP光模块测试板包括电源电路、外围电路、IIC总线电路与射频电路，所述外围电路、IIC总线电路与射频电路均连接通信；所述电源电路用于为所述SFP光模块测试板提供电源；所述外围电路用于显示所述SFP光模块测试板的工作状态；所述IIC总线电路用于与计算机连接通信，通过计算机中测试软件可以查看SFP光模块信息；所述射频电路用于将所述SFP光模块与测试设备连接通信。优选地，所述电源电路采用AMS1117系列稳压芯片设计的LDO(低压差线性稳压)电路。优选地，所述SFP光模块测试板的印刷板电路板材采用FR4板材。优选地，所述外围电路包括LED指示灯，所述LED指示灯用于指示所述SFP光模块测试板的工作状态。优选地，所述IIC总线电路包括IIC总线接口。优选地，所述射频电路包括发射端射频电路和接收端射频电路。优选地，所述发射端射频电路包括发射端SMA接口，所述接收端射频电路包括接收端SMA接口。优选地，所述射频电路中的差分线采用包地设计。优选地，所述射频电路中的差分线采用圆弧段过度设计。优选地，所述测试设备包括脉冲码形发生器与示波器。本技术的SFP光模块测试板相对于现有技术具有以下有益技术效果：1、本技术的SFP光模块测试板电路设计简单，成本低廉，SFP光模块只需要插在SFP光模块测试板上，并对SFP光模块测试板进行供电，就能让SFP光模块正常工作。2、本技术的SFP光模块测试板中的射频电路采用SMA接口，寿命长，性能优越，可靠性高，广泛用于微波设备和数字通信设备中，从而可以实现利用示波器与脉冲码形发生器等测试设备，方便快捷地对SFP光模块进行性能测试。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅用于解释本技术的构思。图1为本技术的SFP光模块测试板的结构示意图；图2为本技术的SFP光模块测试板的应用示意图一；图3为本技术的SFP光模块测试板的应用示意图二。附图标记汇总：1、电源电路2、外围电路3、IIC总线电路4、射频电路具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本技术进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本技术的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本技术的概念。本技术的实施例的目的旨在克服现有技术存在的不足和缺陷，本技术提供一种SFP光模块测试板，用于测试SFP光模块的高频性能，如图1所示，本技术的SFP光模块测试板包括电源电路1、外围电路2、IIC总线电路3与射频电路4，外围电路2、IIC总线电路3与射频电路4均连接通信，电源电路1用于为SFP光模块测试板提供电源。其中，外围电路2用于显示SFP光模块测试板的工作状态，IIC总线电路3用于与计算机连接通信，通过计算机可以查看SFP光模块信息，射频电路4用于将SFP光模块与测试设备连接通信。需要说明的是，本技术中SFP光模块测试板上设置有SFP光模块插座，在SFP光模块进行高频性能测试时，只需要将SFP光模块插入本技术SFP光模块测试板上的SFP光模块插座中，即可进行SFP光模块信号检测。在本技术的进一步实施例中，SFP光模块测试板中的电源电路1采用AMS1117系列稳压芯片设计的LDO(低压差线性稳压)电路，这样设计是为了将输入的直流5V转为工作所需的3.3V电压，并且所产生的电源噪声小，此芯片具有限流和过热自动关断保护的功能，而且电压精度较高，电路设计简单，体积小。在本技术的进一步实施例中在SFP光模块测试板中的射频电路4设计涉及到信号完整性考虑，在layout部分采用优化的设计方案，这样可以得到较高的频率响应，以及较大的带宽。本技术选用成本较低的FR4板材作为SFP光模块测试板的PCB(印刷电路板)板材。进一步地，本技术的射频电路4包括发射端射频电路和接收端射频电路，并且发射端射频电路包括发射端SMA接口，接收端射频电路包括接收端SMA接口。在对SFP光模块进行高频性能测试时，SFP光模块测试板的发射端射频电路中的发射端SMA接口与SFP光模块发射端连接，SFP光模块测试板的接收端射频电路中的接收端SMA接口与SFP光模块接收端连接。其中，射频电路4中的发射端射频电路和接收端射频电路均采用差分线设计，但是发射端射频电路与接收端射频电路的两组差分线需要保证每组差分线对具有完全一样的阻抗并且布线的长度也完全一致。此外在走线拐角处，摒弃现有的135度直拐角的处理方法，利用45度圆弧段过度的设计替代，这样在高频信号情况下，对于信号完整性来说更加有优势。同时，为了控制阻抗和降低串扰，对于射频电路4的所有差分信号线采用包地处理。在本技术的进一步实施例中，SFP光模块测试板中的外围电路2包括LED指示灯，LED指示灯用于指示SFP光模块测试板的工作状态。正常工作情况下，LED灯亮(绿色)。当然，外围电路2还可以包括与工作状态指示灯相关的配套电路，并不仅仅局限于LED指示灯。在本技术的进一步实施例中，IIC总线电路3包括IIC总线接口，通过IIC总线接口将SFP光模块测试板与计算机连接通信。在本技术的进一步实施例中，测试设备包括脉冲码形发生器与示波器。或者，测试设备还可以根据SFP光模块需要检测的其他信号选用其他测试设备，例如矢量网络分析仪、误码仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SFP光模块测试板，其特征在于，用于测试SFP光模块的高频性能，所述SFP光模块测试板包括电源电路、外围电路、IIC总线电路与射频电路，所述外围电路、IIC总线电路与射频电路均连接通信；/n所述电源电路用于为所述SFP光模块测试板提供电源；/n所述外围电路用于显示所述SFP光模块测试板的工作状态；/n所述IIC总线电路用于与计算机连接通信；/n所述射频电路用于将所述SFP光模块与测试设备连接通信。/n

【技术特征摘要】
1.一种SFP光模块测试板，其特征在于，用于测试SFP光模块的高频性能，所述SFP光模块测试板包括电源电路、外围电路、IIC总线电路与射频电路，所述外围电路、IIC总线电路与射频电路均连接通信；
所述电源电路用于为所述SFP光模块测试板提供电源；
所述外围电路用于显示所述SFP光模块测试板的工作状态；
所述IIC总线电路用于与计算机连接通信；
所述射频电路用于将所述SFP光模块与测试设备连接通信。


2.根据权利要求1所述的SFP光模块测试板，其特征在于，所述电源电路采用AMS1117系列稳压芯片设计的LDO电路。


3.根据权利要求1所述的SFP光模块测试板，其特征在于，所述SFP光模块测试板的PCB材料采用FR4板材。


4.根据权利要求1所述的SFP光模块测试板，其特征在于，所述外围电路包括LED指示灯，所述LED...

【专利技术属性】
技术研发人员：王之浩，王智，李智勇，何人鑫，叶振煜，
申请(专利权)人：北京交通大学，
类型：新型
国别省市：北京;11