一种测量物体转动角度的系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种测量物体转动角度的系统，属于测量技术领域。所述系统包括CCD相机，微结构高分子薄膜，待测物体以及与CCD相机连接的显示器，所述微结构高分子薄膜贴于待测物体表面，所述微结构高分子薄膜朝着放置CCD相机的方向。所述微结构高分子薄膜包括微透镜阵列层、高分子薄膜层和微图形阵列层，微透镜阵列层和微图形阵列层分别设置于高分子薄膜层的上下表面通过在高分子薄膜的上下表面分别制备微透镜阵列和微图形阵列，从而获得微结构高分子薄膜，将该薄膜与待测物体正对着CCD相机的表面贴合，其表面的图形位移可以通过CCD探测。当物体发生转动时，通过探测图形的位移，结合位移大小与转角大小的关系，可以算出物体发生转动的角度。

A system for measuring the rotation angle of an object

【技术实现步骤摘要】
一种测量物体转动角度的系统
本技术属于测量
，具体为一种测量物体转动角度的系统。
技术介绍
精密角度测量是几何量测量的一个重要项目，也是计量科学中发展较为完备的一个分支，在过去的20年中，角度测量的精度也提高了10倍多。角度测量技术分为静态测量和动态测量两种，某些静态测量技术仍然是动态测量的基础，一些动态测角技术可以实现静态测量。目前，很多重要的测控仪器，如陀螺转台、惯导平台、经纬仪、星体跟踪器、雷达、导弹发射架、空间望远镜、高精度数控机床、机器人等系统中一般都需要角度传感器，用于测量物体相对于某基准方位的绝对转角或相对于自身在不同时刻的相对转角。随着测控技术的发展，系统要求的测控精度越来越高。然而，角度测量仍然存在各种各样的问题，主要有：精度不够高或只能在小角度测量时得到高精度，精度提高使产品尺寸和重量过大，全周界绝对角度测量装置的测量精度不高，小型化方面存在技术困难，动态范围小，对关键元件要求苛刻，对环境要求高，可靠性低，不易实现与其它仪器融合等等。
技术实现思路
本技术提出一种测量物体转动角度的系统，用于探测物体发生本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述系统包括CCD相机，微结构高分子薄膜，待测物体以及与CCD相机连接的显示器，所述微结构高分子薄膜贴于待测物体表面，所述微结构高分子薄膜朝着放置CCD相机的方向。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述系统包括CCD相机，微结构高分子薄膜，待测物体以及与CCD相机连接的显示器，所述微结构高分子薄膜贴于待测物体表面，所述微结构高分子薄膜朝着放置CCD相机的方向。


2.如权利要求1所述的一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述待测物体至少有一个平面。


3.如权利要求1所述一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述CCD相机与微结构高分子薄膜的间距为10～30cm。


4.如权利要求1所述一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述微结构高分子薄膜包括微透镜阵列层、高分子薄膜层和微图形阵列层，微透镜阵列层和微图形阵列层分别设置于高分子薄膜层的两个表面。


5.如权利要求1所述一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述微结构高分子薄膜从上至下依次包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：王德麾，黄鹏，谢志梅，姜世平，董小春，
申请(专利权)人：四川芯辰光微纳科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51