推荐系统测试方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:24251349 阅读:84 留言:0更新日期:2020-05-22 23:28
本申请公开了一种推荐系统测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取与目标测试模式对应的待测参数,生成与目标测试模式匹配的推荐请求,发送携带待测参数的推荐请求给推荐系统,并接收推荐系统返回的与待测参数对应的待测推荐结果,若待测推荐结果不符合与目标测试模式对应的预期需求,调整与待测参数关联的推荐策略。本方案通过针对不同的测试模式而生成匹配的推荐请求的方式,可以在确定目标测试模式以及对应的待测参数后,生成与所述目标测试模式匹配的推荐请求,进而实现通过多种不同的独立测试方式分别对推荐系统的不同推荐性能进行测试,提升推荐系统的推荐性能的准确性。

Recommended system test methods, devices and electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
推荐系统测试方法、装置及电子设备
本申请涉及计算机
,更具体地,涉及一种推荐系统测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
推荐系统(Recommendersystem)是一种帮助用户快速获取有用信息的复杂系统,通过分析用户的历史行为,对用户画像进行建模,从而主动给用户推荐能够满足他们兴趣和需求的内容。目前的推荐系统产品多样,涉及衣食住行的各个行业,涉及范围广。随着推荐系统数据的巨量递增,如何确保推荐系统准确地向用户推荐用户所感兴趣的内容变得尤为关键。
技术实现思路
鉴于上述问题,本申请提出了一种推荐系统测试方法、装置、电子设备及存储介质,以改善上述问题。第一方面,本申请实施例提供了一种推荐系统测试方法,该方法包括:获取与目标测试模式对应的待测参数;生成与所述目标测试模式匹配的推荐请求;发送携带所述待测参数的所述推荐请求给推荐系统,接收所述推荐系统返回的与所述待测参数对应的待测推荐结果;若所述待测推荐结果不符合与所述目标测试模式对应的预期需求,调整与所述待测参数关联的推荐策略。第二方面,本申请实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种推荐系统测试方法,其特征在于,所述方法包括:/n获取与目标测试模式对应的待测参数;/n生成与所述目标测试模式匹配的推荐请求;/n发送携带所述待测参数的所述推荐请求给推荐系统,接收所述推荐系统返回的与所述待测参数对应的待测推荐结果;/n若所述待测推荐结果不符合与所述目标测试模式对应的预期需求,调整与所述待测参数关联的推荐策略。/n

【技术特征摘要】
1.一种推荐系统测试方法,其特征在于,所述方法包括:
获取与目标测试模式对应的待测参数;
生成与所述目标测试模式匹配的推荐请求;
发送携带所述待测参数的所述推荐请求给推荐系统,接收所述推荐系统返回的与所述待测参数对应的待测推荐结果;
若所述待测推荐结果不符合与所述目标测试模式对应的预期需求,调整与所述待测参数关联的推荐策略。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测参数包括第一待测参数,所述第一待测参数包括用于测试所述推荐系统的推荐功能的准确性的参数,所述目标测试模式包括第一测试模式,所述获取与目标测试模式对应的待测参数,包括:
获取第一测试模式;
获取配置的与所述第一测试模式的测试功能适配的待测参数;
将所述待测参数作为与所述第一测试模式对应的第一测试参数。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述若所述待测推荐结果不符合与所述目标测试模式对应的预期需求,调整与所述待测参数关联的推荐策略,包括:
若所述待测推荐结果不符合与所述第一测试模式对应的预期需求,调整与所述第一待测参数关联的推荐策略,不同的待测推荐参数所关联的推荐策略不同。


4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测参数包括第二待测参数,所述第二待测参数包括用于测试所述推荐系统的推荐功能的抗压性能的参数,所述目标测试模式包括第二测试模式,所述获取与目标测试模式对应的待测参数,包括:
获取第二测试模式;
获取配置的与所述第二测试模式的测试功能适配的待测参数;
将所述待测参数作为与所述第二测试模式对应的第二测试参数。


5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述若所述待测推荐结果不符合与所述目标测试模式对应的预期需求,调整与所述待测参数关联的推荐策略,包括:
若所...

【专利技术属性】
技术研发人员:饶慧林
申请(专利权)人:广州华多网络科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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