【技术实现步骤摘要】
一种用于微束分析非标靶安装的转换靶套
本技术涉及分析仪器领域，特别是涉及一种用于微束分析非标靶安装的转换靶套。
技术介绍
微束分析包括电子探针(EPMA)、离子探针(SIMS，即二次离子质谱)和激光探针(LA-ICP-MS，即激光销蚀电感耦合等离子质谱)等多种分析技术，已成为当代地质研究等科学领域不可或缺的手段。其试样处理方式之一就是将矿物颗粒等样品以环氧树脂包埋制靶(MOUNT)，并安装在样品台中待测。适用于一般样品台的正常“标准靶”直径通常为1英寸，这种正常标准靶可以直接安装在样品台上进行试样分析。但是，有时因需同时安装标样等原因，使激光探针所制试样靶直径较小，如1厘米；而一个样品往往需要进行电子探针、离子探针等多种分析，小直径的“非标靶”是很难在样品台上安装的。为了解决上述非标靶无法在样品台上正常安装的问题，本领域技术人员在实际操作中，常在样品台的安装孔内以锡箔纸等材料填充后，再通过粘贴导电胶来满足试样表面的导电要求，不仅操作不便，固定不牢，而且存在严重影响样品抽真空效率等弊端。
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种用于微束分析非标靶安装的转换靶套，其特征在于：包括金属套筒装置，所述金属套筒装置用于安装在安装台的安装孔内，所述金属套筒装置内用于装载非标准试样靶，所述非标准试样靶的直径小于标准试样靶的直径，所述标准试样靶的直径等于所述安装孔的孔径。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于微束分析非标靶安装的转换靶套，其特征在于：包括金属套筒装置，所述金属套筒装置用于安装在安装台的安装孔内，所述金属套筒装置内用于装载非标准试样靶，所述非标准试样靶的直径小于标准试样靶的直径，所述标准试样靶的直径等于所述安装孔的孔径。
2.根据权利要求1所述的用于微束分析非标靶安装的转换靶套，其特征在于：所述金属套筒装置为圆柱形金属套筒，所述非标准试样靶的直径等于所述圆柱形金属套筒的内孔直径。
3.根据权利要求2所述的用于微束分析非标靶安装的转换靶套，其特征在于：所述圆柱形金属套筒的顶部外边缘设置一环形台阶。
4.根据权利要求3所述的用于微束分析非标靶安装的转换靶套，其特征在于：所述环形台阶的高度为1mm。
5.根据权利要求2所述的用于微束分析非标靶安装的转换靶套，其特征在于：所述圆柱...
【专利技术属性】
技术研发人员：毛骞，
申请(专利权)人：中国科学院地质与地球物理研究所，
类型：新型
国别省市：北京;11
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