细粉尘浓度测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开细粉尘浓度测定装置。根据本发明专利技术的实施例，提供一种利用光散射法而提供精确的细粉尘浓度的测定量的细粉尘浓度测定装置。

Fine dust concentration measuring device

【技术实现步骤摘要】
细粉尘浓度测定装置
本专利技术涉及用于测定细粉尘的浓度的装置(ApparatusforMeasuringConcentrationofFineDust)。
技术介绍
细粉尘会在大脑、眼睛、鼻子、皮肤、肺、心脏等的身体的各种器官中诱发慢性疾病。因此，有必要精确地测定出空气中的细粉尘的浓度。在现有技术中，作为测定细粉尘的浓度的方法，存在直接测定的重量浓度法、间接测定的β射线吸收法或光散射法。其中，光散射法为如下方式：利用光照射物质则冲突的光被散射的原理而测定出被散射的光的量并根据所测定的值来求出细粉尘的浓度。与其他的两种方式不同地，具有能够以较低廉的价格实现，并能够实时测定细粉尘的浓度的优点。光散射法并非直接测定出细粉尘的浓度，而是接收散射光的一部分并基于所接收的散射光的强度而测定出散射光的细粉尘的浓度。但是，传感器仅接收散射光的一部分而测定散射光的强度，因此根据情况即使是相同的浓度，所测定的散射光的强度也会有所不同，从而存在无法确保结果的精确性的问题。根据这种问题的认识，最近正在进行用光散射法测定细粉尘时使传感器所接收的散射光量增加的研究。
技术实现思路
(专利技术所要解决的问题)本专利技术的目的在于，提供一种利用光散射法而提供精确的细粉尘浓度的测定量的细粉尘浓度测定装置。(解决问题所采用的措施)本专利技术的一种实施方式提供一种细粉尘浓度测定装置，所述细粉尘浓度测定装置用于测定出细粉尘的浓度，并包括：光源，其向细粉尘粒子照射光；传感器，其用于感测被所述细粉尘粒子散射的光量而测定出细粉尘的浓度；主体，其用于配置所述传感器；以及反射膜，其使被所述细粉尘粒子散射的光向所述传感器反射。(专利技术的效果)如上所述，根据本专利技术，具有即使利用了光散射法，也能够提供精确的细粉尘浓度的测定量的优点。附图说明图1为示出本专利技术一实施例的细粉尘浓度测定装置的结构的分解立体图。图2为示出本专利技术一实施例的细粉尘浓度测定部的结构的立体图。图3为本专利技术一实施例的传感器的电路图。(附图标记的说明)100：细粉尘浓度测定装置；110：细粉尘浓度测定部；120：支架；125、330：中空部；130：反射膜；310：光源；320:台阶部；340：传感器；350：框架具体实施方式图1为示出本专利技术的一实施例的细粉尘浓度测定装置的结构的分解立体图。参照图1，本专利技术的一个实施例的细粉尘浓度测定装置100包括：细粉尘浓度测定部110、支架(mount)120及反射膜130。细粉尘浓度测定部110用于测定流入到细粉尘浓度测定装置100内的细粉尘的浓度。细粉尘浓度测定部110利用光源而照射光，并测定被细粉尘粒子散射的散射光的强度而测定出细粉尘的浓度。支架120为配置于细粉尘浓度测定部110的特定部分上的构成要素，并用于固定反射膜130。如图1所示，支架120配置于细粉尘浓度测定部110的特定部分上，反射膜130配置于支架120上。反射膜130通过配置在支架120上来固定于细粉尘浓度测定部110的上端，从而起到反射膜的作用。支架120呈与反射膜130、尤其是接触于反射膜130的部分(以下简称为“第一部分”)对应的形状。如图1所示，当反射膜130具有上下表面贯穿的圆锥台形状时，支架120与反射膜130的底面相同地具有圆形状。此外，支架120在第一部分具有中空部125。如上所述，反射膜130配置于支架120上。支架120在第一部分具有中空部125而使散射光或被反射的散射光入射至反射膜130或细粉尘浓度测定部110。反射膜130将被细粉尘粒子散射的散射光向细粉尘浓度测定部110反射。由于被细粉尘粒子散射的散射光向所有方向散射，因此入射到细粉尘浓度测定部110的散射光相当于极少一部分。如此，仅接收极少一部分的散射光而测定细粉尘的浓度的话，细粉尘浓度的测定值的精确度及灵敏度会下降。为了解决这种问题，反射膜130以细粉尘粒子为中心被配置在细粉尘浓度测定部110的相反侧。反射膜130为了反射散射光而具有上表面及下表面被贯穿的圆锥台或多角锥台形状。由于需要细粉尘流入，因此反射膜130的上表面要被贯通，由于需要被反射膜130反射的散射光向细粉尘浓度测定部110入射，因此反射膜130的下表面要被贯通。即使反射膜130的上表面被贯穿，由于支架120配置于细粉尘浓度测定部110并且反射膜130配置于支架120，因此用于测定的含有细粉尘的空气不能够顺利地流入到反射膜130的内部。从而，在反射膜130的上端配置风扇(fan，未图示)等的设备而使细粉尘向反射膜130内的细粉尘浓度测定部110流入。反射膜130的侧面由能够反射光的材料形成，并可具有一定的曲率而能够使反射的散射光更多地向细粉尘浓度测定部110反射。反射膜130的侧面具有曲率，从而在反射膜130向细粉尘浓度测定部110反射的散射光量增加。反射膜130的侧面与加热器(未图示)连接而接收热量、或者接收电流而产生热量。如果风扇(未图示)等的设备不运行的话，则存在流入到反射膜130内的含有细粉尘的空气不能够顺利循环而细粉尘浓度的检测效率会下降的问题。为了解决这种问题，反射膜的侧面接收热量或产生热量而使含有细粉尘的空气循环。图2为示出本专利技术的一个实施例的细粉尘浓度测定部的结构的立体图。参照图2，本专利技术的一个实施例的细粉尘浓度测定部110包括：光源310、台阶部320、中空部330、传感器340、框架350及控制部(未图示)。光源310将用于检测细粉尘浓度的光向细粉尘粒子照射。光源310固定于框架350的一个末端而向细粉尘流入的方向照射光。台阶部320在光源310配置的方向形成于框架350的一部分。通过框架350上形成台阶部320来支架120能够配置于框架350的台阶部320。通过台阶部320在框架350中沿着光源310配置的方向形成来支架120和反射膜130能够配置于适于反射被细粉尘粒子散射的散射光的位置。中空部330形成于框架350的一部分，散射光能够经由中空部330向传感器340入射。传感器340配置于中空部330的下端部，而且框架350具有中空部330而能够使传感器340接收被细粉尘粒子散射的散射光及被反射膜130反射的散射光。中空部330根据传感器340的个数而能够在框架350形成多个。各传感器340的上端形成中空部330而能够使各传感器340接收散射光。传感器340接收散射光或被反射的散射光而感测散射的光量。细粉尘的浓度和所散射的光量成正比。利用这种特性，传感器340接收被细粉尘粒子散射的散射光及被反射膜130反射的散射光而感测散射光的光量，据此测定出细粉尘的浓度。传感器340能够由如图3所示的电路构成。图3为本专利技术的一个实施例的传感器的电路图。向二极管510施加所感测的电流。此时，由于由所接收的散射光产生的电流的大小非常小，因此有必要进行放大。施加于二极管5本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种细粉尘浓度测定装置，用于测定出细粉尘的浓度，其特征在于，包括：/n光源，其向细粉尘粒子照射光；/n传感器，其用于感测被所述细粉尘粒子散射的光量而测定出细粉尘的浓度；/n主体，其用于配置所述传感器；以及/n反射膜，其使被所述细粉尘粒子散射的光向所述传感器反射。/n

【技术特征摘要】
1.一种细粉尘浓度测定装置，用于测定出细粉尘的浓度，其特征在于，包括：
光源，其向细粉尘粒子照射光；
传感器，其用于感测被所述细粉尘粒子散射的光量而测定出细粉尘的浓度；
主体，其用于配置所述传感器；以及
反射膜，其使被所述细粉尘粒子散射的光向所述传感器反射。

【专利技术属性】
技术研发人员：崔永福，
申请(专利权)人：株式会社菲博碧娅，
类型：发明
国别省市：韩国;KR