一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，该方法利用太阳模拟器模拟光源，对星敏感器的探测器进行辐照，该方法包括以下步骤：(1)对所述太阳模拟器的照度进行测量，以确定所述太阳模拟器的照度；(2)使所述的星敏感器光轴与太阳模拟器形成指定的夹角；(3)太阳模拟器对星敏感器进行辐照；(4)星敏感器的探测器拍摄得到图像，利用所述图像的图像信噪比确定所述探测器受辐照后的损伤程度。本发明专利技术可以解决复杂光照环境照射星敏感器时，如何对星敏感器的探测器损伤程度进行测量的问题，还可以检测不同入射角度的光照对星敏感器探测器的损伤程度。

A test method for the damage of star sensor detector by strong light irradiation

【技术实现步骤摘要】
一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法
本专利技术涉及星敏感器
，具体涉及一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法。
技术介绍
随着航天事业的发展，星敏感器在空间飞行器姿态确定方面得到了广泛的应用。星敏感器以惯性空间的恒星为探测对象，通过星图匹配实现高精度的三轴姿态测量，是目前为止测量精度最高且漂移最小的姿态测量设备，广泛应用于卫星、洲际导弹、飞船等航空航天飞行器的高精度姿态确定。随着航天测绘以及空间天文观测的快速发展和能力提升，对星敏感器的精度要求越来越高，提出了秒级甚至亚秒级的高精度需求。在高精度星敏感器的技术研究过程中，关于电子学噪声抑制、星点提取、星图识别算法、姿态估算算法以及系统误差补偿等方面作了大量的工作，对提高星敏感器的精度提出了许多有实际意义的方法。然而对复杂光照环境带来影响的研究还不够系统，还未进行充分的实验验证。光电敏感器工作在复杂的光照环境中，主要针对空间弱小运动目标成像，背景杂光影响严重。杂光对系统的影响，轻者，使得目标的信噪比降低，对比度下降，从而影响整个系统的探测或识别能力；重者，被探测的目标信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，该方法利用太阳模拟器模拟光源，对星敏感器的探测器进行辐照，该方法包括以下步骤：/n(1)对所述太阳模拟器的照度进行测量，以确定所述太阳模拟器的照度；/n(2)使所述的星敏感器的光轴与太阳模拟器形成指定的夹角；/n(3)太阳模拟器对星敏感器进行辐照；/n(4)星敏感器的探测器拍摄得到图像，利用所述图像的图像信噪比确定所述探测器受辐照后的损伤程度。/n

【技术特征摘要】
1.一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，该方法利用太阳模拟器模拟光源，对星敏感器的探测器进行辐照，该方法包括以下步骤：
(1)对所述太阳模拟器的照度进行测量，以确定所述太阳模拟器的照度；
(2)使所述的星敏感器的光轴与太阳模拟器形成指定的夹角；
(3)太阳模拟器对星敏感器进行辐照；
(4)星敏感器的探测器拍摄得到图像，利用所述图像的图像信噪比确定所述探测器受辐照后的损伤程度。


2.根据权利要求1所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，所述太阳模拟器的照度通过微光成像测量系统进行测量。


3.根据权利要求2所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，照度测量时，所述的微光成像测量系统安装在四轴转台上，旋转所述的四轴转台，测量若干点位的太阳模拟器的照度，根据不同点位太阳模拟器照度综合计算得到太阳模拟器照度。


4....

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宵，余路伟，毛晓楠，张磊，吕进剑，徐亚娟，武斌，陆建，史哓，韩圣升，
申请(专利权)人：上海航天控制技术研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31