【技术实现步骤摘要】
一种原子荧光光度计用进样试管架
本技术涉及试管架
,尤其涉及一种原子荧光光度计用进样试管架。
技术介绍
原子荧光光谱分析是基态原子吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态,而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光的过程,在利用原子荧光分光光度计检测的过程中,需要测试多组样品,进而需要用到放置多组样品的进样试管架。现有的进样试管架由于试管架上开设的孔径大小一致,在对不同粗细大小的试管进行放置时容易倾斜晃动,而且试管的长度不一致,在对试管进行放置时经常出现高低不平的现象,不利于对试管内添加检测物,另外,现有的试管架放置在桌面时未对其进行固定,在外力作用下容易发生倾倒,使得试管内的待检测物质洒出。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种原子荧光光度计用进样试管架。为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种原子荧光光度计用进样试管架,包括底座,所述底座上端侧壁开设有第一凹槽,所述底座下端侧壁固定连接有多个吸盘,多个所述吸盘均与第一凹槽连通,所 ...
【技术保护点】
1.一种原子荧光光度计用进样试管架,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)上端侧壁开设有第一凹槽(4),所述底座(1)下端侧壁固定连接有多个吸盘(5),多个所述吸盘(5)均与第一凹槽(4)连通,所述第一凹槽(4)侧壁对称滑动连接有滑板(6),所述底座(1)上端侧壁固定连接有固定块(2),所述滑板(6)上端侧壁与固定块(2)下端侧壁滑动连接,所述固定块(2)侧壁开设有第二凹槽(3),所述底座(1)上安装有驱动滑板(6)移动的驱动装置,所述固定块(2)上安装有对试管进行放置的放置装置。/n
【技术特征摘要】
1.一种原子荧光光度计用进样试管架,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)上端侧壁开设有第一凹槽(4),所述底座(1)下端侧壁固定连接有多个吸盘(5),多个所述吸盘(5)均与第一凹槽(4)连通,所述第一凹槽(4)侧壁对称滑动连接有滑板(6),所述底座(1)上端侧壁固定连接有固定块(2),所述滑板(6)上端侧壁与固定块(2)下端侧壁滑动连接,所述固定块(2)侧壁开设有第二凹槽(3),所述底座(1)上安装有驱动滑板(6)移动的驱动装置,所述固定块(2)上安装有对试管进行放置的放置装置。
2.根据权利要求1所述的一种原子荧光光度计用进样试管架,其特征在于,所述驱动装置包括转动连接在底座(1)侧壁的丝杠(17),所述丝杠(17)贯穿底座(1)侧壁并延伸至第一凹槽(4)内,所述丝杠(17)上螺纹连接有丝杠螺母(9),所述滑板(6)相对侧壁转动连接有第一横杆(7),所述丝杠螺母(9)侧壁对称转动连接有第二横杆(8),所述第二横杆(8)远离丝杠螺母(9)的一端与第一横杆(7)远离滑板(6)的一端转动连接。
3.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁德水,许杰,方文慧,
申请(专利权)人:中技联科学仪器有限公司,
类型:新型
国别省市:安徽;34
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