【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像处理装置、图像处理方法以及图像处理程序
本专利技术涉及图像处理装置、图像处理方法以及图像处理程序。
技术介绍
以往，已知有如下技术：在多张图像间计算相关量，根据相关量控制图像的合成比率并进行合成(例如，参照专利文献1)。该技术如下：将拍摄的多张图像中的1张作为基准图像，将其他图像作为参照图像，在基准图像与参照图像间按每个区域计算相关量(差分值)，相关性越高，将参照图像的合成比率控制得越大，相关性越低，将参照图像的合成比率控制得越小(将基准图像的比率控制得越大)。具体而言，判定为相关性高的区域是定位误差小的区域而不进行校正处理，判定为相关性低的区域是存在定位误差的区域，针对高分辨率图像通过滤波处理等校正处理来校正锯齿状的位置偏移伪像。另一方面，在合成多张低分辨率图像而获取高分辨率图像的情况下，重要的是将多张低分辨率图像的信息(像素)配置在分辨率比低分辨率图像高的图像空间上的适当位置，若向适当位置的配置失败，则无法得到分辨率提高效果。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开20...
【技术保护点】
1.一种图像处理装置，其具有：/n位置偏移检测部，其检测按照时间序列获取的由基准图像和1张以上的参照图像构成的多张低分辨率图像间的位置偏移量；/n高分辨率合成部，其根据由该位置偏移检测部检测出的位置偏移量，将所述参照图像的像素信息定位到所述基准图像的位置而在高分辨率图像空间上进行合成，生成高分辨率合成图像；/n定位误差评价部，在由该高分辨率合成部生成所述高分辨率合成图像时，该定位误差评价部评价将所述参照图像定位到所述高分辨率图像空间时的由高分辨率化倍率引起的定位误差；以及/n图像校正部，其根据该定位误差评价部的评价结果，对所述高分辨率合成图像进行校正。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种图像处理装置，其具有：
位置偏移检测部，其检测按照时间序列获取的由基准图像和1张以上的参照图像构成的多张低分辨率图像间的位置偏移量；
高分辨率合成部，其根据由该位置偏移检测部检测出的位置偏移量，将所述参照图像的像素信息定位到所述基准图像的位置而在高分辨率图像空间上进行合成，生成高分辨率合成图像；
定位误差评价部，在由该高分辨率合成部生成所述高分辨率合成图像时，该定位误差评价部评价将所述参照图像定位到所述高分辨率图像空间时的由高分辨率化倍率引起的定位误差；以及
图像校正部，其根据该定位误差评价部的评价结果，对所述高分辨率合成图像进行校正。
2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，
该图像处理装置具有图像获取部，该图像获取部按照时间序列获取多张所述低分辨率图像，
该图像获取部具有：
光学系统，其对来自被摄体的光进行会聚；
摄像元件，其对由该光学系统会聚后的光进行拍摄而获取各所述低分辨率图像；
传感器移位机构，其使所述光学系统与所述摄像元件的相对位置在与光轴方向交叉的方向上移动；以及
传感器移位控制部，其控制该传感器移位机构的移位方向和移位量。
3.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，
所述位置偏移检测部根据由所述传感器移位控制部控制的移位方向和移位量来检测所述低分辨率图像间的位置偏移量。
4.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，
所述位置偏移检测部根据所述基准图像和所述参照图像来计算所述低分辨率图像间的位置偏移量。
5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的图像处理装置，其中，
所述高分辨率合成部根据配置在所述高分辨率空间上的所述像素信息，对未配置该像素信息的像素进行插值。
6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的图像处理装置，其中，
所述定位误差评价部具有：
特征量计算部，其计算所述高分辨率合成图像的任意的包含关注像素的区域的特征量；以及
评价值计算部，其使用由该特征量计算部计算出的所述特征量和所述高分辨率合成图像来计算所述关注像素的误差评价值。
7.根据权利要求6所述的图像处理装置，其中，
所述特征量计算部计算所述高分辨率合成图像中的所述区域的边缘的方向信息来作为所述特征量。
8.根据权利要求6或7所述的图像处理装置，其中，
所述评价值计算部在包含所述关注像素的所述区域中，根据所述误差评价值的运算的对象像素是否是符合由高分辨率化倍率决定的像素周期的像素的信息，来计算所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：梶村康祐，冈泽淳郎，福富武史，
申请(专利权)人：奥林巴斯株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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