一种磁共振动态匀场方法技术

本发明专利技术公开一种磁共振动态匀场方法，包括依次执行的以下步骤：步骤1、进行静态主动匀场，去除全空间的一阶B0场成分；步骤2、采集三维B0场数据；步骤3、通过采集的三维B0场数据计算出残余的高阶B0场分布；步骤4、逐层拟合层面内的一阶B0场并由此计算层面内两个方向的动态匀场参数；步骤5、从残余的高阶B0场分布中，扣除模拟施加了步骤4中的动态匀场分量，获得残留的高阶B0场；步骤6、对残留的高阶B0场进行相位解卷绕运算；步骤7、逐层计算0阶场，并计算出垂直于层面方向的动态匀场参数；步骤8、在扫描中逐层施加动态匀场参数。本发明专利技术针对高阶B0场较大的磁共振系统，匀场算法更稳定可靠，可以确保空间其他位置磁场波动较小。

A dynamic shimming method of MR

【技术实现步骤摘要】
一种磁共振动态匀场方法
本专利技术涉及核磁共振成像
，尤其涉及一种磁共振动态匀场方法。
技术介绍
在磁共振成像系统中，主磁场的均匀性是磁共振图像质量的关键因素。主磁场的非均匀性会导致磁敏感伪影、压脂效果差、图像变形甚至伪影等。因此，通常采用匀场措施改善特定范围内的磁场均匀性。匀场措施通常包括被动匀场和主动匀场。被动匀场一般通过在磁体内的特定位置放置铁片，是在安装磁体过程中提高磁场均匀性的第一措施。主动匀场是通过调整匀场线圈内的电流，产生特定分布的磁场来抵消主磁场的非均匀性。从匀场线圈的形式上，主动匀场可分为一阶匀场和高阶匀场。高阶匀场需要配置专用高阶匀场线圈，产生空间上呈二阶或更高阶分布的局部磁场，可以抵消主磁场中的高阶分量。而在一些低成本磁共振设备上，不提供高阶匀场线圈，因此只能由梯度线圈实现一阶匀场。在一阶或高阶静态匀场的基础上，主磁场仍然存在局部非均匀性，进一步的，在磁共振二维成像或者三维分块成像中，可以对每一层或者块进行单独的匀场，从而进一步改善主磁场。这种方式一般称为动态匀场或片层匀场。如图1所示，现有技术的动态本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁共振动态匀场方法，其特征在于，包括依次执行的以下步骤：/n步骤1、进行静态主动匀场，去除全空间的一阶B0场成分；/n步骤2、采集三维B0场数据；/n步骤3、通过采集的三维B0场数据计算出残余的高阶B0场分布；/n步骤4、逐层拟合层面内的一阶B0场并由此计算层面内两个方向的动态匀场参数；/n步骤5、从残余的高阶B0场分布中，扣除模拟施加了步骤4中的动态匀场分量，获得残留的高阶B0场；/n步骤6、对残留的高阶B0场进行相位解卷绕运算；/n步骤7、逐层计算0阶场，并计算出垂直于层面方向的动态匀场参数；/n步骤8、在扫描中逐层施加动态匀场参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种磁共振动态匀场方法，其特征在于，包括依次执行的以下步骤：
步骤1、进行静态主动匀场，去除全空间的一阶B0场成分；
步骤2、采集三维B0场数据；
步骤3、通过采集的三维B0场数据计算出残余的高阶B0场分布；
步骤4、逐层拟合层面内的一阶B0场并由此计算层面内两个方向的动态匀场参数；
步骤5、从残余的高阶B0场分布中，扣除模拟施加了步骤4中的动态匀场分量，获得残留的高阶B0场；
步骤6、对残留的高阶B0场进行相位解卷绕运算；
步骤7、逐层计算0阶场，并计算出垂直于层面方向的动态匀场参数；
步骤8、在扫描中逐层施加动态匀场参数。


2.根据权利要求1所述的磁共振动态匀场方法，其特征在于，步骤4中逐层拟合层面内的一阶B0场并由此计算层面内两个方向的动态匀场参数的方法为：根据实际扫描层面的几何位置，逐层取出相应层面的残余高阶B0场数据,并沿层面内两个方向一阶求导，在导数空间拟合零阶成分，由此获得层面内的一阶匀场参数。


3.根据权利要求1所述的磁共振动态匀场方法，其特征在于，步骤2中采集三维B0场数据是基于3D双回波梯度回波序列。


4.根据权利要求1所述的磁共振动态匀场方法，其特征在于，步骤3中通过采集的三维B0场数据计算出残余的高阶B0场分布的方法为：通过傅里叶重建得到不同回波时间的图像M1和M2，由图像M1和M2计算有效掩码区域S，用于消除噪点的影响...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗海，王文周，朱高杰，陈梅泞，黄攀，王世杰，蒋辉，刘霞，
申请(专利权)人：奥泰医疗系统有限责任公司，
类型：发明
国别省市：四川;51