一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法技术方案

本发明专利技术公开了一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法，属于CT检测技术领域，解决了现有技术中CT探测装置成本高、不利于设备的推广应用，降低成本不能保证成像精度等问题。本发明专利技术CT探测器，包括高能探测器和低能探测器，高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个低能探测器下方均设置有一个高能探测器；高能探测器和低能探测器均设置有多排，高能探测器排数大于低能探测器排数，至少部分低能探测器集中分布。本发明专利技术CT探测器部分低能探测器集中排布，降低成本的同时成像精度较高。

【技术实现步骤摘要】
一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法
本专利技术属于CT检测
，特别涉及一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法。
技术介绍
在基于X射线的爆炸物检查技术中，X射线计算机断层扫描成像技术(简称“CT技术”)因其自身特有的优势，在安全检查领域被高度重视。在美国交通安全局(TSA,TransportationSecurityAdministration)唯一认证的EDS(ExplosiveDetectionSystem)型安检设备就是CT设备，可见X射线CT技术在安全检查领域的地位。X射线CT安检技术是通过对CT数据进行重建得到被扫描物体的断层图像，通过对断层图像中的特征数据进行分析，实现对被扫描物体中危险物品的识别。为了提高CT识别的精度，通常采用双能CT成像方式，双能成像的实现方式可以有射线源高低能快速切换，双源成像，双层探测器等多种模式，其中，针对安检应用，双层探测器模式应用最为普遍，按照高低能的排布模式，主要分为“背靠背”和“骑马式”两种。上述两种模式，需要一个低能探测器像素对应一个高能探测器像素，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低能稀疏的CT探测器，其特征在于，包括高能探测器和低能探测器，所述高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个低能探测器下方均设置有一个高能探测器；/n所述高能探测器和低能探测器均设置有多排，高能探测器排数大于低能探测器排数，至少部分低能探测器集中分布；/n所述高能探测器和低能探测器之间设置有铜片，所述铜片用于过滤经过了低能探测器以后的射线。/n

【技术特征摘要】
1.一种低能稀疏的CT探测器，其特征在于，包括高能探测器和低能探测器，所述高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个低能探测器下方均设置有一个高能探测器；
所述高能探测器和低能探测器均设置有多排，高能探测器排数大于低能探测器排数，至少部分低能探测器集中分布；
所述高能探测器和低能探测器之间设置有铜片，所述铜片用于过滤经过了低能探测器以后的射线。


2.根据权利要求1所述的低能稀疏的CT探测器，其特征在于，集中分布的多排低能探测器设置在多排高能探测器的中间位置。


3.根据权利要求2所述的低能稀疏的CT探测器，其特征在于，少数低能探测器设置在多排高能探测器的两侧。


4.根据权利要求1所述的低能稀疏的CT探测器，其特征在于，集中分布的多排低能探测器设置在多排高能探测器的一侧。


5.根据权利要求4所述的低能稀疏的CT探测器，其特征在于，少数低能探测器设置在多排高能探测器的另一侧。


6.根据权利要求1所述的低能稀疏的CT探测器，其特征在于，铜片的厚度为0.3-1mm。


7.根据权利要求1所述的低能稀疏的CT探测器，其特征在于，所述高能探测器和低能探测器均包括闪烁体和二极管。


8.一种CT检测系统，其特征在于，包括C...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐圆飞，李保磊，孙翠丽，丁洁，温子宽，
申请(专利权)人：北京航星机器制造有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11