【技术实现步骤摘要】
钴靶坯的制作方法
本专利技术涉及半导体溅射靶材的制备,特别涉及一种钴靶坯的制作方法。
技术介绍
溅射靶材是制造半导体芯片所必须的一种极其重要的关键材料,其原理是采用PVD(物理气相沉积技术),用高压加速气态离子轰击靶材,使靶材的原子被溅射出,以薄膜的形式沉积到硅片上,最终形成半导体芯片中复杂的配线结构。溅射靶材具有金属镀膜的均匀性、可控性等诸多优势,被广泛应用于半导体领域。PVD薄膜质量的好坏主要取决于溅射靶材的纯度、微观结构等因素。随着半导体行业的迅速发展,对溅射靶材的需求越来越大,对溅射靶材的质量要求也日益提高。钴靶材是一种比较典型的金属靶材,它的抗腐蚀性能良好,电磁屏蔽性能优良,可以作为一种能源材料使用,并且,所述钴靶材是磁化一次就能保持磁性的金属。由于所述钴靶材在磁性材料上的明显优势,钴靶材被广泛地应用在PVD中。由于钴材料本身特有的磁性,现有技术中,在制作钴靶坯时,对TMP(热塑性变形加工)工艺控制不好,靶坯的PTF(透磁率)低,而低PTF性能的钴靶材,溅射性能极差,甚至无法溅射起辉,所以必须提高钴靶材的P
【技术保护点】
1.一种钴靶坯的制作方法,其特征在于,包括步骤:/n提供钴锭,将所述钴锭进行热轧工艺,形成初级钴靶坯;/n将热轧工艺后的所述初级钴靶坯进行退火处理;/n将退火处理后的所述初级钴靶坯进行冷轧工艺。/n
【技术特征摘要】
1.一种钴靶坯的制作方法,其特征在于,包括步骤:
提供钴锭,将所述钴锭进行热轧工艺,形成初级钴靶坯;
将热轧工艺后的所述初级钴靶坯进行退火处理;
将退火处理后的所述初级钴靶坯进行冷轧工艺。
2.如权利要求1所述钴靶坯的制作方法,其特征在于,所述热轧工艺控制每次轧制变形量为10%-15%,总轧制变形量大于或等于80%。
3.如权利要求1所述钴靶坯的制作方法,其特征在于,所述退火处理工艺温度为600℃-700℃,保温时间为60min-120min。
4.如权利要求1所述钴靶坯的制作方法,其特征在于,所述冷轧工艺控制变形量为15%-20%。
5.如权利要求1所述钴靶坯的制作方法,其特征在于,还包括步骤:将冷轧工艺后的所述初级钴靶坯进行加工,形成...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚力军,潘杰,王学泽,黄东长,
申请(专利权)人:宁波江丰电子材料股份有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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