一种用于构造多波长测试信号的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光通信技术领域，尤其涉及一种用于构造多波长测试信号的装置，包括顺次连接设置的ASE光源和波长选择开关，且被测EDFA设备连接在所述波长选择开关之后；其中，所述ASE光源用于发射宽谱信号，所述波长选择开关用于对所述ASE光源发出的信号进行滤波，从而构建多波长的测试信号，并提供给被测EDFA设备。本实用新型专利技术利用ASE光源和WSS来构造多波长测试信号，具体是先通过ASE光源发射宽谱信号，之后再通过WSS进行滤波，从而构建多波长平坦的测试信号。该装置无需使用多个DWDM光模块，多波长测试信号构建时间短、成本低、结构简单。

A device for constructing multi wavelength test signal

【技术实现步骤摘要】
一种用于构造多波长测试信号的装置
本技术涉及光通信
，尤其涉及一种用于构造多波长测试信号的装置。
技术介绍
密集型光波复用(DenseWavelengthDivisionMultiplexing，简写为DWDM)利用单模光纤的带宽以及低损耗的特性，采用多个波长作为载波，允许各载波信道在光纤内同时传输。随着DWDM技术的广泛应用，多波长掺铒光纤放大器(ErbiumDopedFiberAmplifier，简写为EDFA)也得到了广泛的应用，EDFA使长距离、大容量、高速率的光纤通信成为可能，是DWDM系统及未来高速系统、全光网络不可缺少的重要器件。多波长EDFA在生产过程中需要测试多种参数，例如信号增益、增益平坦度、增益斜率、噪声指数等，而且需要多波长信号源进行上述参数的测试。而传统的多波长信号源需要多个DWDM光模块进行发光，之后进行合波来构建多波长测试信号，由于用到的DWDM光模块数量大，整个多波长测试信号构建时间长、价格高、构造复杂，缺少灵活性。鉴于此，克服上述现有技术所存在的缺陷是本
亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术需要解决的技术问题是：在EDFA生产过程中，传统的多波长信号源需要多个DWDM光模块进行发光，再合波来构建多波长测试信号，由于用到的DWDM光模块数量大，整个多波长测试信号构建时间长、价格高、构造复杂，缺少灵活性。本技术通过如下技术方案达到上述目的：本技术提供了一种用于构造多波长测试信号的装置，包括顺次连接设置的ASE光源和波长选择开关，且被测EDFA设备连接在所述波长选择开关之后；其中，所述ASE光源用于发射宽谱信号，所述波长选择开关用于对所述ASE光源发出的信号进行滤波，从而构建多波长的测试信号，并提供给被测EDFA设备。优选的，当有一个被测EDFA设备时，所述波长选择开关设置一个；所述波长选择开关对所述ASE光源发出的信号进行滤波后，形成一路多波长信号光源输送至所述一个被测EDFA设备。优选的，当有多个被测EDFA设备时，所述波长选择开关设置多个，并分别连接在对应的被测EDFA设备之前；多个波长选择开关分别对所述ASE光源发出的信号进行滤波后，形成多路多波长信号光源分别对应输送至所述多个被测EDFA设备。优选的，所述ASE光源之后连接有分路器，所述分路器的输出端分别与所述多个波长选择开关连接；所述分路器将所述ASE光源的一路信号分成多路宽带ASE信号，之后所述多路宽带ASE信号分别对应进入不同的波长选择开关进行调节，进而输出多路多波长信号光源。优选的，所述波长选择开关采用固定栅格，以便实现固定带宽的多波长测试信号的构建。优选的，所述波长选择开关采用灵活栅格，以便实现不同带宽的多波长测试信号的构建。优选的，在所述波长选择开关中，波长相邻的两个通道之间是信号阻断的。优选的，所述波长选择开关为1×N波长选择开关，N≥1。优选的，所述ASE光源和所述波长选择开关之间通过光纤连接。优选的，所述波长选择开关与所述被测EDFA设备之间通过光纤连接。与传统技术相比，本技术的有益效果是：本技术提供的用于构造多波长测试信号的装置中，利用ASE光源和WSS来构造多波长测试信号，具体是先通过ASE光源发射宽谱信号，之后再通过WSS进行滤波，从而构建多波长平坦的测试信号。该装置无需使用多个DWDM光模块，多波长测试信号构建时间短、成本低、结构简单。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对本技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的一种用于构造多波长测试信号的装置图；图2为本技术实施例提供的另一种用于构造多波长测试信号的装置图；图3为本技术实施例提供的一种经过ASE光源后输出的光谱图；图4为本技术实施例提供的一种经过WSS后输出的光谱图；图5为本技术实施例提供的另一种经过WSS后输出的光谱图。【具体实施方式】为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。在本技术的描述中，术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”、“左”、“右”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术而不是要求本技术必须以特定的方位构造和操作，因此不应当理解为对本技术的限制。在本技术各实施例中，符号“/”表示同时具有两种功能的含义，而对于符号“A和/或B”则表明由该符号连接的前后对象之间的组合包括“A”、“B”、“A和B”三种情况。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面就参考附图和实施例结合来详细说明本技术。本技术实施例提供了一种用于构造多波长测试信号的装置，如图1和图2所示，包括顺次连接设置的放大自发辐射(Amplifiedspontaneousemission，简写为ASE)光源和波长选择开关(WavelengthSelectionSwitch，简写为WSS)，且被测EDFA设备连接在所述波长选择开关WSS之后。所述ASE光源用于发射宽谱信号，所述波长选择开关WSS用于对所述ASE光源发出的信号宽谱进行滤波处理，从而构建多波长的测试信号，并提供给被测EDFA设备。其中，所述波长选择开关WSS为1×N波长选择开关，且N≥1；所述ASE光源和所述波长选择开关WSS之间通过光纤连接，所述波长选择开关WSS与所述被测EDFA设备之间也通过光纤连接。本实施例提供的上述用于构造多波长测试信号的装置中，利用ASE光源和WSS来构造多波长测试信号，先通过ASE光源发射宽谱信号，之后再通过WSS进行滤波，从而构建多波长平坦的测试信号。该装置无需使用多个DWDM光模块，多波长测试信号构建时间短、成本低、结构简单。在应用场景不同时，被测EDFA设备的数量可能不同，则所述波长选择开关WSS的个数也不同，具体如下：结合图1，在一个具体的实施例中，仅有一个被测EDFA设备，此时所述波长选择开关WSS也仅设置一个，且所述ASE光源、所述波长选择开关WSS和所述被测EDFA设备顺次相连。当所述ASE光源发射宽谱信号后，所述波长选择开关WSS对所述ASE光源发出的宽谱信号进行滤波，形成一路多波长信号光源输送至所述一个被测EDFA设备。结合图2，在另一个具体的实施例中，有多个(即n个，且n≥2)被测EDFA设备，分别记为被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于构造多波长测试信号的装置，其特征在于，包括顺次连接设置的ASE光源和波长选择开关，且被测EDFA设备连接在所述波长选择开关之后；/n其中，所述ASE光源用于发射宽谱信号，所述波长选择开关用于对所述ASE光源发出的信号进行滤波，从而构建多波长的测试信号，并提供给被测EDFA设备。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于构造多波长测试信号的装置，其特征在于，包括顺次连接设置的ASE光源和波长选择开关，且被测EDFA设备连接在所述波长选择开关之后；
其中，所述ASE光源用于发射宽谱信号，所述波长选择开关用于对所述ASE光源发出的信号进行滤波，从而构建多波长的测试信号，并提供给被测EDFA设备。


2.根据权利要求1所述的用于构造多波长测试信号的装置，其特征在于，当有一个被测EDFA设备时，所述波长选择开关设置一个；所述波长选择开关对所述ASE光源发出的信号进行滤波后，形成一路多波长信号光源输送至所述一个被测EDFA设备。


3.根据权利要求1所述的用于构造多波长测试信号的装置，其特征在于，当有多个被测EDFA设备时，所述波长选择开关设置多个，并分别连接在对应的被测EDFA设备之前；多个波长选择开关分别对所述ASE光源发出的信号进行滤波后，形成多路多波长信号光源分别对应输送至所述多个被测EDFA设备。


4.根据权利要求3所述的用于构造多波长测试信号的装置，其特征在于，所述ASE光源之后连接有分路器，所述分路器的输出端分别与所述多个波长选择开关连接；
所述分路器将所述ASE...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄丽艳，刘洋，徐健，夏晓文，张传彬，龙函，孙淑娟，李竞，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42