测距装置制造方法及图纸

技术编号:24143033 阅读:25 留言:0更新日期:2020-05-13 15:02
本申请提供一种测距装置,该测距装置包括:壳体;设置于壳体中的卷尺,所述卷尺的至少一部分可以从所述壳体的卷尺拉出口拉出;设置于壳体上的激光测距组件,所述激光测距组件的测距方向与所述卷尺的拉出方向相反。本申请实施例提供的测距装置,通过将激光测距组件的测距方向设置为与卷尺的拉出方向相反,使得通过卷尺测距的动作和通过激光测距的动作可以同时进行,提高了测距装置使用的灵活性。

Ranging device

【技术实现步骤摘要】
测距装置
本申请涉及测绘设备
,具体而言,涉及一种测距装置。
技术介绍
卷尺是一种常用的便携测量工具,在一些现有技术中,在卷尺上加入了激光测距装置以方便用户在不同测绘场景下的使用。但是现有技术中,激光测距装置测量方向设置得不合理,严重限制卷尺的使用灵活性。
技术实现思路
为了克服现有技术中的上述不足,本申请的目的之一在于提供一种测距装置,所述测距装置包括:壳体;设置于壳体中的卷尺,所述卷尺的至少一部分可以从所述壳体的卷尺拉出口拉出;设置于壳体上的激光测距组件,所述激光测距组件的测距方向与所述卷尺的拉出方向相反;可选地,所述测距装置还包括:控制组件,所述控制组件用于获取所述卷尺的拉出长度或所述激光测距组件所测得距离;设置于所述壳体上的数显组件,所述数显组件与所述控制组件电连接,所述数显组件用于在所述控制组件的控制下显示所述卷尺的拉出长度或所述激光测距组件所测得距离。可选地,所述测距装置还包括置零电路,所述置零电路用于在检测到所述卷尺收回至所述壳体中时,触发所述控制组件将本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测距装置,其特征在于,所述测距装置包括:/n壳体;/n设置于壳体中的卷尺,所述卷尺的至少一部分可以从所述壳体的卷尺拉出口拉出;/n设置于壳体上的激光测距组件,所述激光测距组件的测距方向与所述卷尺的拉出方向相反。/n

【技术特征摘要】
1.一种测距装置,其特征在于,所述测距装置包括:
壳体;
设置于壳体中的卷尺,所述卷尺的至少一部分可以从所述壳体的卷尺拉出口拉出;
设置于壳体上的激光测距组件,所述激光测距组件的测距方向与所述卷尺的拉出方向相反。


2.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述测距装置还包括:
控制组件,所述控制组件用于获取所述卷尺的拉出长度或所述激光测距组件所测得距离;
设置于所述壳体上的数显组件,所述数显组件与所述控制组件电连接,所述数显组件用于在所述控制组件的控制下显示所述卷尺的拉出长度或所述激光测距组件所测得距离。


3.根据权利要求2所述的测距装置,其特征在于,所述测距装置还包括置零电路,所述置零电路用于在检测到所述卷尺收回至所述壳体中时,触发所述控制组件将所述卷尺的拉出长度置零。


4.根据权利要求3所述的测距装置,其特征在于,所述卷尺的拉出端设置有光学标识;
所述置零电路包括光学检测组件,所述光学检测组件设置于所述卷尺拉出口,所述光学检测组件用于在识别到所述光学标识时触发所述控制组件将所述卷尺的拉出长度置零。


5.根据权利要求4所述的测距装置,其特征在于,所述光学标识的反射率与所述卷尺其他部分的反射率不同;所述光学检测组件包括发光组件及光电转换组件,所述发光组件的发光方向朝向所述卷尺,所述光电转换组件构造成通过检测所述卷尺的反光情况识别所述光学标识。


6.根据权利要求3所述的测距装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:张新文王振兴
申请(专利权)人:深圳市度彼电子有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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