过零检测电路制造技术

一种过零检测电路，包括：过零检测单元，该过零检测单元用于比较分别通过二极管从其间施加AC信号的第一节点和第二节点输入的第一监测目标信号和第二监测目标信号，从而生成第一比较信号；以及逻辑单元，该逻辑单元用于根据所述第一比较信号估计所述AC信号的过零，从而生成过零检测信号。所述过零检测电路优选地包括监测单元，该监测单元用于将所述第一监测目标信号和所述第二监测目标信号调整为适应于输入到所述过零检测单元。所述逻辑单元优选地对所述第一比较信号的周期进行计数，并使用其计数值来估计所述AC信号的过零。

Zero crossing detection circuit

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】过零检测电路
本说明书中公开的专利技术涉及过零检测电路。
技术介绍
图57是示出过零检测电路的传统示例的图。该传统示例的过零检测电路DET是用于检测施加在带电(L)端子和中性(N)端子之间的AC电压Vac的过零(即AC电压Vac和接地电位的交叉点)的电路，并且被安装在家用电器中作为基本上分立的组件(在该图的示例中，总共十一个组件，包括光电耦合器PC、PNP型双极晶体管Qa、电阻器Ra至Rd、二极管Da和Db、齐纳二极管ZD和电容器Ca)。注意，存在作为与上述描述相关的传统技术的示例的专利文献1。现有技术文献专利文献专利文献1：JP特开2017-99178号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题现在，该传统示例的过零检测电路DET存在以下问题：(1)光电耦合器PC具有较大功耗；(2)存在大量离散组件；(3)由于光电耦合器PC的温度特性或其他因素，检测精度较低；以及(4)高压组件具有低的可靠性(在诸如洗衣机的应用中，电阻器Ra的电腐蚀易于发生)。然而，该传统示例的过零检测电路D本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种过零检测电路，其包括：/n过零检测单元，该过零检测单元用于比较分别通过二极管从其间施加有AC信号的第一节点和第二节点输入的第一监测目标信号和第二监测目标信号，从而生成第一比较信号；以及/n逻辑单元，该逻辑单元用于根据所述第一比较信号估计所述AC信号的过零，从而生成过零检测信号。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170731 JP 2017-148233;20170922 JP 2017-182109;201.一种过零检测电路，其包括：
过零检测单元，该过零检测单元用于比较分别通过二极管从其间施加有AC信号的第一节点和第二节点输入的第一监测目标信号和第二监测目标信号，从而生成第一比较信号；以及
逻辑单元，该逻辑单元用于根据所述第一比较信号估计所述AC信号的过零，从而生成过零检测信号。


2.根据权利要求1所述的过零检测电路，其中，所述过零检测电路还包括监测单元，该监测单元用于将所述第一监测目标信号和所述第二监测目标信号调整为适应于输入到所述过零检测单元。


3.根据权利要求1或2所述的过零检测电路，其中，所述逻辑单元对所述第一比较信号的周期进行计数，并且使用所述第一比较信号的周期的计数值来估计所述AC信号的过零。


4.根据权利要求3所述的过零检测电路，其中，
所述过零检测单元将所述第一监测目标信号与预定阈值进行比较，以进一步生成第二比较信号，并且
如果所述第一监测目标信号低于所述阈值，则所述逻辑单元对所述第二比较信号而不是所述第一比较信号的周期进行计数，并且使用所述第二比较信号的周期的计数值来估计所述AC信号的过零。


5.根据权利要求4所述的过零检测电路，其中，当所述第二比较信号的逻辑电平被切换，并且切换之后的所述逻辑电平接着没有保持预定时段时，所述逻辑单元忽略所述逻辑电平的所述切换。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的过零检测电路，所述过零检测电路还包括：
控制单元，该控制单元用于基于所述AC信号的峰值来设置延迟调整量；以及
延迟调整单元，该延迟调整单元用于根据所述延迟调整量来调整所述过零检测信号的延迟时间。


7.根据权利要求6所述的过零检测电路，其中，所述AC信号的所述峰值越低，所述控制单元越增大所述延迟调整量。


8.根据权利要求6或7所述的过零检测电路，其中，所述控制单元基于所述AC信号的所述峰值切换所述过零检测单元的输入偏移。


9.根据权利要求8所述的过零检测电路，其中，当所述AC信号的所述峰值低于预定阈值时，所述控制单元将所述延迟调整量和所述输入偏移都设置为零。


10.根据权利要求6至9中任一项所述的过零检测电路，所述过零检测电路还包括比较单元，该比较单元用于将所述第一监...

【专利技术属性】
技术研发人员：名手智，泽田阳信，山本夏辉，
申请(专利权)人：罗姆股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP