跌倒检测方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种跌倒检测方法以及装置，其中，该装置包括：获取单元，其用于获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；该反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；确定单元，其用于根据该第一预定数量个连续帧内该雷达反射点信息随时间的变化关系确定该检测目标是否跌倒。本实施例中的检测方法无需用户佩戴终端设备，使用体验好，且可以用于私密区域的监控，并且根据多维的反射点信息进行跌倒检测，检测精度更高，误报率低，检测速度更快。

Fall detection methods and devices

【技术实现步骤摘要】
跌倒检测方法和装置
本专利技术涉及信息
，尤其涉及一种跌倒检测方法和装置。
技术介绍
跌倒在人们日常生活中经常发生，因个人身体状况不同，跌倒可能会对身体造成不同程度的伤害。根据世界卫生组织的报道，每年发生的致命跌伤为64.6万次，是仅次于道路交通伤害的第二大非故意伤害死亡的原因。及时检测跌倒事故，对受伤人员进行救助，能防止伤害加重、缓和致命风险。因此，跌倒检测对创建安全宜居的生活环境具有重要意义。目前，常见的跌倒检测方法包括基于可穿戴设备的方法和基于视频的方法。基于可穿戴设备的跌倒检测方法需要用户佩戴终端设备，利用终端设备上的传感器(比如加速度传感器等)信息检测用户是否跌倒。但是，佩戴可穿戴设备可能对身体造成不舒适感，用户使用体验差。基于视频的跌倒检测方法需要在监测区域内安装摄像头，通过图像和视频信息检测是否有人跌倒。但是，这种方法会对人们的隐私造成侵犯，不能应用于对隐私敏感的监测区域。应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本专利技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
目前，在现有技术中，提出了一种基于微波雷达的跌倒检测方法，微波雷达可以向检测目标发射微波信号，经过检测目标反射后，被微波雷达重新接收反射信号，并可以根据该反射信号得到检测目标的高度信息，根据该高度信息进行跌倒检测，例如，高度低于预定值时，表示检测目标跌倒。但专利技术人发现，如果仅考虑高度信息，在一些场景(检测目标发生了蹲下，或坐下等动作)中会导致误检测。本专利技术实施例提出了一种跌倒检测方法和装置，解决现有技术中存在的问题。根据本专利技术实施例的第一个方面，提供了一种跌倒检测装置，其中，该装置包括：获取单元，其用于获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；所述反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；确定单元，其用于根据所述第一预定数量个连续帧内所述雷达反射点信息随时间的变化关系确定所述检测目标是否跌倒。根据本专利技术实施例的第二个方面，提供了一种跌倒检测装置，其中，该装置包括：获取单元，其用于获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；所述反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；计算单元，其用于根据所述第一预定数量个连续帧内所述雷达反射点信息计算特征值；所述特征值包括以下特征中的至少两种：雷达反射面的反射点个数或反射信号强度的相关特征，雷达发射点的高度的相关特征，雷达发射点的速度的相关特征，雷达反射面的反射点轨迹的相关特征；确定单元，其用于根据所述特征值确定所述检测目标是否跌倒。根据本专利技术实施例的第三个方面，提供了一种跌倒检测方法，其中，该方法包括：获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；所述反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；根据所述第一预定数量个连续帧内所述雷达反射点信息随时间的变化关系确定所述检测目标是否跌倒。根据本专利技术实施例的第四个方面，提供了一种跌倒检测方法，其中，该方法包括：获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；所述反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；根据所述第一预定数量个连续帧内所述雷达反射点信息计算特征值；所述特征值包括以下特征中的至少两种：雷达反射面的反射点个数或反射信号强度的相关特征，雷达发射点的高度的相关特征，雷达发射点的速度的相关特征，雷达反射面的反射点轨迹的相关特征；根据所述特征值确定所述检测目标是否跌倒。本专利技术实施例的有益效果在于，基于微波雷达获得的反射点信息中反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种随时间的变化关系确定该检测目标是否跌倒，该方法无需用户佩戴终端设备，使用体验好，且可以用于私密区域的监控，并且根据多维的反射点信息进行跌倒检测，检测精度更高，误报率低，检测速度更快。参照后文的说明和附图，详细公开了本专利技术的特定实施方式，指明了本专利技术的原理可以被采用的方式。应该理解，本专利技术的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本专利技术的实施方式包括许多改变、修改和等同。针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。附图说明参照以下的附图可以更好地理解本专利技术的很多方面。附图中的部件不是成比例绘制的，而只是为了示出本专利技术的原理。为了便于示出和描述本专利技术的一些部分，附图中对应部分可能被放大或缩小。在本专利技术的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。此外，在附图中，类似的标号表示几个附图中对应的部件，并可用于指示多于一种实施方式中使用的对应部件。在附图中：图1是本实施例1中跌倒检测方法流程图；图2是本实施例1中微波雷达收发信号示意图；图3是本实施例1中一帧雷达反射点在X-Y平面内分布示意图；图4是本实施例1中步骤102一实施方式示意图；图5是本实施例1中跌倒过程中反射点强度信息随时间(帧号)的变化示意图；图6是本实施例1中跌倒过程中反射点高度信息随时间(帧号)的变化示意图；图7是本实施例1中跌倒过程中反射点径向速度随时间(帧号)的变化示意图；图8是本实施例1中跌倒过程中反射点水平面坐标(x，y)随时间(帧号)的变化在X-Y平面上的轨迹变化示意图；图9是本实施例1中步骤102一实施方式示意图；图10是本实施例1中跌倒过程中该每一帧的雷达反射点数量随时间(帧号)的变化示意图；图11是本实施例2中跌倒检测方法流程图；图12是本实施例3中跌倒检测装置示意图；图13是本实施例3中确定单元1202示意图；图14是本实施例4中跌倒检测装置示意图；图15是本实施例5中电子设备示意图。具体实施方式参照附图，通过下面的说明书，本专利技术实施例的前述以及其它特征将变得明显。这些实施方式只是示例性的，不是对本专利技术的限制。为了使本领域的技术人员能够容易地理解本专利技术的原理和实施方式，本专利技术实施例以图像压缩处理的重建图像为例进行说明，但可以理解，本专利技术实施例并不限于此，基于其他图像处理的重建图像也在本专利技术的包含范围内。下面参照附图对本专利技术的具体实施方式进行说明。实施例1本实施例1提供一种跌倒检测方法，图1是该方法流程图，如图1所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种跌倒检测装置，其中，所述装置包括：/n获取单元，其用于获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；所述反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；/n确定单元，其用于根据所述第一预定数量个连续帧内所述雷达反射点信息随时间的变化关系确定所述检测目标是否跌倒。/n

【技术特征摘要】
1.一种跌倒检测装置，其中，所述装置包括：
获取单元，其用于获取第一预定数量个连续帧内的属于检测目标的雷达反射点信息；所述反射点信息包括反射点的位置信息、径向速度信息、反射信号强度信息中的至少两种；
确定单元，其用于根据所述第一预定数量个连续帧内所述雷达反射点信息随时间的变化关系确定所述检测目标是否跌倒。


2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射点的位置信息包括：所述反射点到雷达的距离信息，以及所述反射点的空间三维坐标信息中的至少一种。


3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述确定单元包括：
第一计算模块，其用于计算每一帧内属于所述检测目标的多个雷达反射点的平均反射点信息；
第二计算模块，其用于计算所述第一预定数量个连续帧内的平均反射点信息的第一特征值和第二特征值，所述第一特征值表示所述平均反射点信息与时间变化相关的参数，所述第二特征值表示所述第一预定数量个连续帧内位置靠后的第二预定数量个连续帧的平均反射点信息的统计值，和/或表示所述第一预定数量个连续帧内位置靠前的第三预定数量个连续帧的平均反射点信息的统计值与位置靠后的第二预定数量个连续帧的平均反射点信息的统计值的差值；
检测模块，其用于根据所述第一特征值和第二特征值确定所述检测目标是否跌倒。


4.根据权利要求3所述的装置，其中，在所述反射点信息是反射点的空间三维坐标信息中的高度信息，或反射信号强度信息，或径向速度信息时，所述第一特征值是平均反射点信息与时间线性拟合的变化率，和/或平均反射点信息与时间的相关系数；所述第二特征值是位置靠后的第二预定数量个连续帧的平均反射点信息的平均值。


5.根据权利要求3所述的装置，其中，在所述反射点信息是反射点的空间三维坐标信息中的水平面横纵坐标信息时，所述第一特征值是横坐标平均反射点信息和纵坐标平均反射点信息的线性拟合误差，和/或横坐标平均反射点信息和纵坐标平均反射点信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：李红春，丁根明，赵倩，谢莉莉，田军，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP