孔检测仪器制造技术

本实用新型专利技术属于机械制造领域，具体涉及孔检测仪器。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动；探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜，可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴。探测杆、探测头上可设置孔，探测头与被测工件的孔壁能形成环形楔形空间，自动定位于被测孔的中心。光斑稳定，分辨率高，受探测杆变形或绕自身轴线旋转影响小。可测量小直径孔。受外界光的干扰少。油雾或气体能使探测头与孔壁的摩擦磨损减少。

Hole detector

【技术实现步骤摘要】
孔检测仪器
本技术属于机械制造领域，具体涉及孔检测仪器。本技术适用于孔，包括光孔、带有槽的孔、中间大两头小的孔，特别适用于深孔的检测。
技术介绍
总体而言，孔的检测，其技术难度大于针对外部结构的检测。研究人员针对孔的检测，进行了多方面尝试，申请了以下专利。[1]一种孔轴线直线度激光检测装置[P].山西：CN103175488A。[2]一种单激光单PSD储存式深孔直线度检测装置[P].山西：CN203981133U。[3]超声深孔直线度检测装置[P]。山西：CN205228402U。
技术实现思路
本技术的目的：克服现有检测过程中，位于孔内的检测装置相对于孔壁旋转所造成的检测误差；通过多种方法，提高检测精度；探讨非接触式测量，减少摩擦磨损。本技术通过以下技术创新点实现。1.孔检测仪器，其特征在于：包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.孔检测仪器，其特征在于：包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外：光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；所述的支点可以在孔内或孔外。/n

【技术特征摘要】
1.孔检测仪器，其特征在于：包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外：光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；所述的支点可以在孔内或孔外。


2.根据权利要求1所述的孔检测仪器，其特征在于：所述的基准部分有导向体；所述的驱动部分有滑动体；所述的探测部分有探测杆、探测头；探测头是位于孔内的装置，与孔壁接触或与孔壁之间有气膜；所述的光学部分有光发射装置、光线、光接收装置；所述的运算显示部分包括运算器和显示器；探测头位于探测杆上，当人手或驱动部分带动探测部分或带孔工件沿导向体运动时，探测杆随孔的变化和探测头相对基准部分的变化绕支点进行空间内的运动；所发出的光线射向光接收装置；探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收装置上光斑位置发生变化；显示器反映光斑位置或其变化或其变换后的信息，运算器为独立装置或与显示器制作为一体。


3.根据权利要求1所述的孔检测仪器，其特征在于：当光学部分与探测部分位于支点的同一侧时，光斑的变动量大于探测头的变动量；当光学部分与探测部分分别位于支点的两侧、且光接收装置到支点的距离大于探测头到支点的距离时，光斑的变动量大于探测头的变动量；光接收装置有罩盖；所述的光斑位置变换后的信息为孔的直线度或垂直度或平行度或倾斜度或尺寸或粗糙度或其统计数据。


4.根据权利要求1所述的孔检测仪器，其特征在于：探测部分自动适应孔径的变化；所述的支点处有间隙调整装置或没有间隙调整装置，支点为球副或球轴承，或其它结构，所述的其...

【专利技术属性】
技术研发人员：于大国，王峰，赵晓巍，王琦玮，申鹏，马靖，赵明，尹忠伟，王健，李梦龙，刘江，
申请(专利权)人：中北大学，
类型：新型
国别省市：山西;14