一种零件内框高度检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种零件内框高度检测设备，包括检测表，还包括多个量块，多个量块沿竖直方向依次堆叠，位于最下方的量块的底面、检测表和待测零件放置于同一水平面，位于最上方的量块的顶面与待测零件内框的待测平面处于同一高度，检测表用于检测位于最上方的量块的顶面高度。设备结构简单，且即使内框结构复杂，只要保证堆叠的量块高度与待测平面高度相同，即可准确获取高度，能够完整显示内部结构，提高适用性，外部要求小，同时有效减小误差，提高检测精度和工作效率。

A device for measuring the height of inner frame of parts

【技术实现步骤摘要】
一种零件内框高度检测设备
本技术涉及生产工艺领域，特别是涉及一种零件内框高度检测设备。
技术介绍
在多种工艺制造领域，均需要进行高度检测。现有技术中，一般可以通过千分表等实现高度检测，但是当待测零件较为复杂时，如零件具有内框结构时，检测表无法伸入内框，则无法直接使用千分表检测内框内的待测平面的高度。现有技术中，会采用投影机辅助检测，但是上述方式存在很多缺陷，设备结构复杂，需要设置稳定的投影墙，且内框结构较为复杂时，投影的方式并不能够完整显示内框的内部结构，无法通过投影的防护进行高度检测，适用性低，外部要求较多，同时投影的方式相对误差较大，检测精度低，工作效率低。因此，如何提供一种稳定高效且使用便捷的零件内框高度检测设备是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种零件内框高度检测设备，将多个量块堆叠至与待测平面同等的高度，通过检测表检测量块的高度即可获取待测平面的高度，提高便捷性、稳定性和检测准确性。为解决上述技术问题，本技术提供一种零件内框高度检测设备，包括检测表本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种零件内框高度检测设备，包括检测表(1)，其特征在于，还包括多个量块(2)，多个所述量块(2)沿竖直方向依次堆叠，位于最下方的所述量块(2)的底面、所述检测表(1)和待测零件(3)放置于同一水平面，位于最上方的所述量块(2)的顶面与待测零件(3)内框的待测平面(4)处于同一高度，所述检测表(1)用于检测位于最上方的所述量块(2)的顶面高度。/n

【技术特征摘要】
1.一种零件内框高度检测设备，包括检测表(1)，其特征在于，还包括多个量块(2)，多个所述量块(2)沿竖直方向依次堆叠，位于最下方的所述量块(2)的底面、所述检测表(1)和待测零件(3)放置于同一水平面，位于最上方的所述量块(2)的顶面与待测零件(3)内框的待测平面(4)处于同一高度，所述检测表(1)用于检测位于最上方的所述量块(2)的顶面高度。


2.根据权利要求1所述的零件内框高度检测设备，其特征在于，所述量块(2)为长方体结构，各个所述量块(2)的长度相等，各个所述量块(2)的宽度相等，多个所述量块(2)的高度不同。


3.根据权利要求2所述的零件内框高度检测设备，其特征在于，所述量块(2)的底面和顶面上镶嵌有磁性定位片。


4.根据权利要求2所述的零件内框高度检测设备，其特征在于，所述量块(2)的底面设置有定位凹槽，所述量块(2)的顶面设置有对应的定位凸起。


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【专利技术属性】
技术研发人员：王清涛，陈庆东，
申请(专利权)人：宝利根重庆电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆;50