用于存储的方法、电子设备和计算机程序产品技术

本公开的实施例涉及用于存储的方法、电子设备和计算机程序产品。该方法包括在第一时间点，基于闪存设备的质保期、单位时间写次数因子以及已写次数，确定闪存设备的第一剩余寿命。该方法还包括获取在早于第一时间点的第二时间点的闪存设备的第二剩余寿命，第二剩余寿命是在第二时间点基于质保期、单位时间写次数因子以及已写次数而被确定的。该方法还包括基于第一剩余寿命和第二剩余寿命，确定闪存设备的第一寿命衰减速率。此外，该方法还可以基于第一寿命衰减速率，确定闪存设备的第一预测剩余寿命。本公开的实施例可以基于闪存设备的使用趋势来预测其剩余寿命，使得所预测的剩余寿命更加准确。

Methods, electronic devices and computer program products for storage

【技术实现步骤摘要】
用于存储的方法、电子设备和计算机程序产品
本公开的实施例总体涉及存储系统，具体涉及用于存储的方法、电子设备和计算机程序产品。
技术介绍
众所周知，闪存设备的使用寿命是有限的。在经历特定数目的擦写操作之后，闪存设备可能出现故障。闪存设备故障可能造成数据丢失或者针对故障闪存设备的耗时重建。因此，为了避免数据丢失和耗时的重建，期望能够确定闪存设备的剩余寿命，以便于管理员在闪存设备故障前更换闪存设备。
技术实现思路
本公开的实施例提供了用于存储的方法、电子设备和计算机程序产品。在本公开的第一方面，提供了一种用于存储的方法。该方法包括在第一时间点，基于闪存设备的质保期、单位时间写次数因子以及已写次数，确定闪存设备的第一剩余寿命。该方法还包括获取在早于第一时间点的第二时间点的闪存设备的第二剩余寿命，第二剩余寿命是在第二时间点基于质保期、单位时间写次数因子以及已写次数而被确定的。该方法还包括基于第一剩余寿命和第二剩余寿命，确定闪存设备的第一寿命衰减速率。此外，该方法还可以基于第一寿命衰减速率，确定闪存设备的第一预测剩余寿命。在本公开的第二方面，提供了一种电子设备。该电子设备包括至少一个处理单元和至少一个存储器。至少一个存储器被耦合到至少一个处理单元并且存储由至少一个处理单元执行的指令。该指令当由至少一个处理单元执行时，使得电子设备执行以下动作：在第一时间点，基于闪存设备的质保期、单位时间写次数因子以及已写次数，确定闪存设备的第一剩余寿命；获取在早于第一时间点的第二时间点的闪存设备的第二剩余寿命，第二剩余寿命是在第二时间点基于质保期、单位时间写次数因子以及已写次数而被确定的；基于第一剩余寿命和第二剩余寿命，确定闪存设备的第一寿命衰减速率；以及基于第一寿命衰减速率，确定闪存设备的第一预测剩余寿命。在本公开的第三方面，提供了计算机程序产品。该计算机程序产品被有形地存储在非瞬态计算机可读介质上并且包括机器可执行指令。机器可执行指令在被执行时使得机器执行根据本公开的第一方面所描述的方法的任意步骤。提供
技术实现思路
部分是为了以简化的形式来介绍对概念的选择，它们在下文的具体实施方式中将被进一步描述。
技术实现思路
部分无意标识本公开的关键特征或主要特征，也无意限制本公开的范围。附图说明通过结合附图对本公开示例性实施例进行更详细的描述，本公开的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中在本公开示例性实施例中，相同的参考标号通常代表相同部件。图1示出了用于存储的示例环境的示意图；图2示出了分别由当前EOL值和过去的几个EOL值所指示的闪存设备的剩余寿命；图3示出了根据本公开的一个实施例的用于存储的方法的流程图；图4示出了根据本公开的一个实施例的用于存储的另一方法的流程图；以及图5示出了可以用来实施本公开的实施例的示例设备的示意性框图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的优选实施例。虽然附图中显示了本公开的优选实施例，然而应该理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了使本公开更加透彻和完整，并且能够将本公开的范围完整地传达给本领域的技术人员。在本文中使用的术语“包括”及其变形表示开放性包括，即“包括但不限于”。除非特别申明，术语“或”表示“和/或”。术语“基于”表示“至少部分地基于”。术语“一个示例实施例”和“一个实施例”表示“至少一个示例实施例”。术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”。术语“第一”、“第二”等等可以指代不同的或相同的对象。下文还可能包括其他明确的和隐含的定义。众所周知，闪存设备的使用寿命是有限的。在经历特定数目的擦写操作之后，闪存设备可能出现故障。具体而言，闪存设备的存储介质具有独立可擦除的区段，在变得不可靠之前，每个区段可以经受有限数目的擦除循环。不可靠的区段可能造成闪存设备故障。为了避免由于单个区段不可靠而导致的闪存设备故障，实施磨损均衡技术以帮助减少闪存设备的单个区段的过早故障。磨损均衡技术确保闪存设备工作达最长的可能时间，并且不短于质保期，其中没有因用坏了而导致的服务事件。本行业中当前的磨损均衡技术对于用户来说几乎是透明的，其中仅提供闪存设备的寿命终止(endoflife，EOL)信息。多个闪存设备故障可能造成独立盘冗余阵列(RAID)组中的数据丢失。假使只有单个闪存设备故障，针对故障的该单个闪存设备的重建将会花费大量时间(几小时，甚至几天)，这依赖于该单个闪存设备的存储容量。因此，为了避免数据丢失和耗时的重建，期望能够确定闪存设备的剩余寿命，以便于管理员在闪存设备故障前更换闪存设备。图1示出了用于存储的示例环境100的示意图。应当理解，仅出于示例性的目的描述示例环境100的结构和功能而不是暗示对于本公开的范围的任何限制。本公开的实施例可以被体现在不同的结构和/或功能中。如图1所示，示例环境100可以包括存储系统120。存储系统120可以包括用于存储数据的闪存设备121。用户110可以使用存储系统120。例如，用户110可以搜索/查询存储系统120所存储的数据。此外，管理员130可以负责对存储系统120进行维护。例如，管理员130可以在闪存设备121的寿命结束之前更换闪存设备121。在一些实施例中，存储系统120可以是企业级存储系统，并且位于服务器上。在这种情况下，用户110可以是终端用户，其仅可以使用存储系统120提供的服务，而不能执行故障的闪存设备121的更换。闪存设备121的更换只能由管理员130来执行。备选地，在存储系统120安装在终端设备上的情况下，闪存设备121的更换也可以由用户110来执行。存储系统120还可以包括EOL模块123，其可以向用户110或管理员130提供闪存设备121的寿命终止(endoflife，EOL)信息。EOL信息可以指示闪存设备121的剩余寿命。EOL信息是利用闪存设备121的所有存储介质区段的剩余的平均擦除计数而得到的。每个闪存设备121在出厂时具有一些固有参数，诸如质保期和单位时间写次数因子。例如，固态存储器的质保期通常为5年。单位时间写次数因子通常表达为平均每天写次数(WPD)因子，但是其他时间单位的写次数因子也是可能的。例如，闪存设备121的WPD因子可以为0.5WPD、1WPD、25WPD等。质保期5年、1WPD的闪存设备121指示：如果平均每天在闪存设备121的每个存储介质区段上写一次(与闪存设备121容量相等的写操作每天执行一次)，该闪存设备121可以使用5年。作为一个示例，假设闪存设备121的容量为100G，质保期10天，是2WPD的，并且假设从出厂到目前为止已经对闪存设备121写了200G的数据(即，写了两次)，那么闪存设备121的寿命将减少1天。即，EOL信息所指示的剩余寿命将为9天。EOL信息通常以天数为单位，但是可以理解，例如小时的其他时间单位也是可行的。注意，以上具体数值仅是示例性的，而非限制性的。因此，基于闪存设备121的质保期、单本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于存储的方法，包括：/n在第一时间点，基于闪存设备的质保期、单位时间写次数因子以及已写次数，确定所述闪存设备的第一剩余寿命；/n获取在早于所述第一时间点的第二时间点的所述闪存设备的第二剩余寿命，所述第二剩余寿命是在所述第二时间点基于所述质保期、所述单位时间写次数因子以及所述已写次数而被确定的；/n基于所述第一剩余寿命和所述第二剩余寿命，确定所述闪存设备的第一寿命衰减速率；以及/n基于所述第一寿命衰减速率，确定所述闪存设备的第一预测剩余寿命。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于存储的方法，包括：
在第一时间点，基于闪存设备的质保期、单位时间写次数因子以及已写次数，确定所述闪存设备的第一剩余寿命；
获取在早于所述第一时间点的第二时间点的所述闪存设备的第二剩余寿命，所述第二剩余寿命是在所述第二时间点基于所述质保期、所述单位时间写次数因子以及所述已写次数而被确定的；
基于所述第一剩余寿命和所述第二剩余寿命，确定所述闪存设备的第一寿命衰减速率；以及
基于所述第一寿命衰减速率，确定所述闪存设备的第一预测剩余寿命。


2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
获取在早于所述第一时间点和所述第二时间点的第三时间点的所述闪存设备的第三剩余寿命，所述第三剩余寿命是在所述第三时间点基于所述质保期、所述单位时间写次数因子以及所述已写次数而被确定的；
基于所述第一剩余寿命和所述第三剩余寿命，确定所述闪存设备的第二寿命衰减速率；
基于所述第二寿命衰减速率，确定所述闪存设备的第二预测剩余寿命；以及
确定所述第一预测剩余寿命和所述第二预测剩余寿命的平均值。


3.根据权利要求2所述的方法，其中所述平均值是所述第一预测剩余寿命和所述第二预测剩余寿命的加权平均值，并且其中用于所述第一预测剩余寿命的第一权重大于用于所述第二预测剩余寿命的第二权重。


4.根据权利要求2所述的方法，还包括：
确定所述平均值相对于所述第一剩余寿命的比值；以及
基于所述比值与阈值的比较来指示所述闪存设备的磨损水平。


5.根据权利要求1所述的方法，还包括：
基于所述质保期和所述闪存设备的在所述第一时间点之前的上电时间，确定所述闪存设备的剩余上电寿命；以及
响应于所述第一预测剩余寿命大于所述剩余上电寿命，将所述第一预测剩余寿命设置为所述剩余上电寿命。


6.根据权利要求1所述的方法，还包括：
基于所述质保期和所述闪存设备的在所述第一时间点之前的上电时间，确定所述闪存设备的剩余上电寿命；以及
响应于所述第一剩余寿命与所述第二剩余寿命相等，将所述第一预测剩余寿命设置为所述剩余上电寿命。


7.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述闪存设备的第一寿命衰减速率包括：
确定所述第一剩余寿命与所述第二剩余寿命之间的寿命差；
确定所述第一时间点与所述第二时间点之间的时间差；以及
基于所述寿命差和所述时间差的比值，确定所述第一寿命衰减速率。


8.根据权利要求1所述的方法，其中基于所述第一寿命衰减速率确定所述闪存设备的第一预测剩余寿命包括：
基于所述第一剩余寿命和所述第一寿命衰减速率的比值，确定所述第一预测剩余寿命。


9.一种电子设备，包括：
至少一个处理单元；
至少一个存储器，所述至少一个存储器被耦合到所述至少一个处理单元并且存储由所述至少一个处理单元执行的指令，所述指令当由所述至少一个处理单元执行时，使得所述电子设备执行以下动作：
在第一时间点，基于闪存设备的质保期、单位时间写次数因子以及已写次数，确定所述闪存设备的第一剩余寿命；

【专利技术属性】
技术研发人员：张扬，王豪，谭江，
申请(专利权)人：伊姆西IP控股有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国;US