多光轴光电传感器制造技术

能够使用户容易地掌握哪个受光部处于怎样的受光状态。多光轴光电传感器(10)具备多个受光部(110)、配置于所述多个受光部(110)中对应的受光部的附近且显示该受光部的受光状态的显示部(120)、使显示部(220)在与显示部(120)中的显示相同的时刻显示所述受光状态的显示控制部(103)。

Multi axis photoelectric sensor

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】多光轴光电传感器
本专利技术涉及具备显示部的多光轴光电传感器。
技术介绍
目前，已知有检测物体侵入到检测区域的多光轴光电传感器。多光轴光电传感器具备具有多个投光元件的投光器和具有多个受光元件的受光器，通过将多个投光元件和多个受光元件分别相对配置而构成光轴。多光轴光电传感器重复进行各投光元件相对于相对的受光元件以规定的投光周期依次发光，而受光元件受光的投受光动作，并且，基于受光元件的受光信号检测各光轴的遮光，检测物体向检测区域内的侵入。另外，显示向受光器的入光状态的多光轴光电传感器也是众所周知的。例如，在专利文献1中记载了在受光器中具备显示部，判定向受光器的入光状态，并在显示部显示该结果的结构。现有技术文献专利文献专利文献1：日本国公开专利公报“特开2003-298105号公报(2003年10月17日公开)”专利技术所要解决的问题然而，上述的现有技术存在这样的问题，即：由于显示部偏向受光面的端部而配置，因此，用户无法容易地掌握哪个受光元件的受光状态是良好还是不良的情况。
技术实现思路
本专利技术的一方面是鉴于上述问题而创建的，其目的在于，实现能够使用户容易地掌握哪个受光元件(受光部)处于怎样的受光状态的多光轴光电传感器。用于解决问题的技术方案为了解决上述问题，本专利技术的一方面提供一种多光轴光电传感器，其具备投光器及受光器，其特征在于，具备：多个受光部；受光器显示部，其配置于所述多个受光部中、对应的受光部的附近，显示该受光部的受光状态；投光器显示部，其显示所述受光状态；显示同步部，其使所述投光器显示部和所述受光器显示部在相同的时刻显示所述受光状态。专利技术效果根据本专利技术的一方面，实现能够使用户容易地识别哪个受光部的受光状态是怎样的状态的效果。换言之，实现如下效果：用户通过确认显示部，能够容易地识别哪个受光部的受光状态是良好还是不良的情况。另外，即使在投光器显示部中，也在与受光器显示部相同的时刻显示受光部的受光状态，因此，实现用户通过确认投光器及受光器的任一个而能够识别受光部的受光状态的效果。附图说明图1是表示本实施方式的多光轴光电传感器的主要部分结构例的框图。图2是表示多光轴光电传感器的外观例的图。图3是用于说明上述多光轴光电传感器中的1周期的处理内容的图，(a)是表示现有技术中的1周期的光处理内容的图，(b)是用于说明现有技术中包含本实施方式的ABI信息的生成、发送处理的情况下的问题点的图，(c)是表示本专利技术的1周期的处理内容的图。图4是表示上述多光轴光电传感器的处理流程的序列图。图5是表示包含于上述多光轴光电传感器的投光器及受光器的显示部的显示例的图。图6是表示本实施方式的变形例的图。具体实施方式[实施方式1]§1应用例[多光轴光电传感器的外观结构]首先，参照图2，说明本实施方式的多光轴光电传感器10的外观结构。图2是表示多光轴光电传感器10的外观例的图。如图2所示，多光轴光电传感器10具备经由规定的检测区域相对配置的投光器2和受光器1。投光器2作为整体呈柱状，例如12个投光部(投光元件)210在与受光器1的相对面排列成一列状。受光器11作为整体呈柱状，例如12个受光部(受光元件)110在与投光器2的相对面排列成一列状。而且，由相互相对的投光部210和受光部110分别形成光轴。另外，在本实施方式中，在受光器1的相对面上的受光部110的旁边设置有显示部120(受光器显示部)。显示部120被配置为，将排列成一列状的受光部110例如三等分，并分别进行对应。因此，在该情况下，显示部120配置有3个。例如，根据图2所示的例子，受光部110中从上起4个对应于最上面的显示部120，从上起第5个至第8个对应于正中的显示部120，从上起第9个至第12个对应于最下面的显示部120。即，在本实施方式中，多个受光部110排列成一列状，显示部120与上述一列状的列方向平行地设置，以通过一个与两个以上的受光部110对应。此外，显示部120也可以配置于对应的受光部110的附近而不是受光器1的相对面的对应的受光部110的旁边。例如，也可以配置于与相对面垂直的面而不是受光器1的相对面。由此，在用户处于与多光轴光电传感器10的光轴垂直的方向的情况下，能够容易地确认显示部120。同样地，在投光器2的相对面上的投光部210的旁边设置有显示部220(投光器显示部)。显示部220被配置为，将排列成一列状的投光部210例如三等分，并分别进行对应。因此，在该情况下，显示部120配置有3个。此外，显示部220也可以与显示部120同样地配置于对应的投光部210的附近而非投光器2的相对面的对应的投光部210的旁边。投光部210因为使用公知技术构成，所以省略详细的说明，但其具备投光元件，根据后述的投光处理部201的指示，以确定的投光时刻进行投光。作为投光元件的例子，可举出发光二极管(LED)。投光器2所具备的多个投光部210分别以规定的周期依次投光。受光部110因为使用公知技术构成，所以省略详细说明，但其具备受光元件，在受光时将受光信号通知给后述的受光处理部101。作为受光元件的例子，可举出光电二极管。显示部120显示对应的受光部110的受光状态。在本实施方式中，在上述的多光轴光电传感器10的显示部120及显示部220上显示受光部110的受光状态。显示部120及显示部220分别配置于对应的受光部110及投光部210的旁边，因此，用户能够明确地识别哪个受光部110的受光状态为良好或不良。§2结构例[多光轴光电传感器的主要部分结构]接着，参照图1说明多光轴光电传感器10的主要部分结构。图1是表示多光轴光电传感器10的主要部分结构例的框图。如图2所示，多光轴光电传感器10包含受光器1及投光器2。受光器1包含控制部100、受光部110、显示部120、通信部130及ABI信息缓存器140。控制部100统一进行受光器1的各种控制，包含受光处理部101、ABI信息生成部102、显示控制部(显示同步部)103、功能处理部104及ABI信息发送部(显示同步部)105。受光处理部101以与投光器2的投光处理部201的投光处理周期对应的规定的周期进行由受光部110受光的光的受光处理，并将其结果通知给ABI信息生成部102。ABI信息生成部102生成表示由受光处理部101进行的受光处理的结果即受光状态的ABI(AreaBeamIndicator)信息。而且，将生成的ABI信息存储于ABI信息缓存器140。显示控制部103使用ABI信息缓存器140中存储的ABI信息，在显示部120显示受光部110的受光状态。更详细而言，显示控制部103使用投受光处理的周期中的前一个的周期的ABI信息，在显示部120显示受光部110的受光状态。另外，显示控制部103在使用前一个周期的ABI信息在显示部120本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多光轴光电传感器，其具备投光器及受光器，其特征在于，具备：/n多个受光部；/n受光器显示部，其配置于所述多个受光部中、对应的受光部的附近，显示该受光部的受光状态；/n投光器显示部，其显示所述受光状态；/n显示同步部，其使所述投光器显示部和所述受光器显示部在相同的时刻显示所述受光状态。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171127 JP 2017-2268391.一种多光轴光电传感器，其具备投光器及受光器，其特征在于，具备：
多个受光部；
受光器显示部，其配置于所述多个受光部中、对应的受光部的附近，显示该受光部的受光状态；
投光器显示部，其显示所述受光状态；
显示同步部，其使所述投光器显示部和所述受光器显示部在相同的时刻显示所述受光状态。


2.如权利要求1所述的多光轴光电传感器，其特征在于，
所述显示同步部配置于所述受光器。


3.如权利要求1或2所述的多光轴光电传感器，其特征在于，
所述多个受光部排列成一列状，
所述受光器显示部与所述一列状...

【专利技术属性】
技术研发人员：小西康允，菊池启作，山田裕也，西内智，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP