【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测量振动的投射系统
本专利技术涉及用于测量机械元件的振动的系统。本专利技术尤其涉及全息火炬型(theholographictorchtype)设备或装置,其适合于对具有各种形状和尺寸的部件进行快速测量。
技术介绍
结构的振动通常使用具有例如激光的辐射发射的加速设备或振动测量设备来研究或测量。这些已经成为常规的技术提供点状测量,即表示在结构的特定目标点处的结构振动的测量。此外,加速设备是侵入性系统,因为它们需要被集成到或耦合到要测量其振动的结构上。在研究机械结构的振动的领域中,在振幅和相位中获得振动场中空间振动的映射可能是重要的,这需要扫描结构的表面而不仅仅只是一个或多个特别的点。目前数字光学全息技术使得能够非接触地测量机械结构的振动场并能够发现许多应用,例如通过示例的方式,测量人类耳膜的振动响应,或测量扬声器或振动平面的振动响应。然后,可以分析这些结构的振动模式。表征在实际运行状态下的结构需要在时域中进行分析。由水力弹性声学现象引起的面板的振动通过光栅和摩擦构成无法由固定方法研究的
【技术保护点】
1.一种用于通过数字全息技术来测量机械部件(M)的表面(VSURF)的振动的系统(SYS),所述系统包括:/n辐射(L)源(源),所述辐射源在预定的频率范围(LF)中发射,/n第一分离元件(EL1),所述第一分离元件被配置成限定第一入射光线(LB1)和参考光线(RLB),/n模块(DOEM),所述模块用于从所述第一入射光线(LB1)成形第二入射光线(LB2),/n光学元件(OE),所述光学元件被配置成使所述参考光线(RLB)和由所述入射光线(LB2)在所述机械部件(M)的所述表面(VSURF)上的反射产生的辐射(LB2’)进行干涉,/n用于成形所述第二入射光线(LB2)的所 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170324 FR 17003161.一种用于通过数字全息技术来测量机械部件(M)的表面(VSURF)的振动的系统(SYS),所述系统包括:
辐射(L)源(源),所述辐射源在预定的频率范围(LF)中发射,
第一分离元件(EL1),所述第一分离元件被配置成限定第一入射光线(LB1)和参考光线(RLB),
模块(DOEM),所述模块用于从所述第一入射光线(LB1)成形第二入射光线(LB2),
光学元件(OE),所述光学元件被配置成使所述参考光线(RLB)和由所述入射光线(LB2)在所述机械部件(M)的所述表面(VSURF)上的反射产生的辐射(LB2’)进行干涉,...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱利安·波提文,帕斯卡尔·皮卡尔特,凯文·赫加蒂,朱利安·勒默尔,
申请(专利权)人:勒芒大学,国家科学研究中心,法国国立高等电信布列塔尼学院,朱勒凡尔纳技术研究学院,
类型:发明
国别省市:法国;FR
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