剂量率测量系统技术方案

公开了一种剂量率测量系统，用于特别是在高放射性环境中准确检测辐射。该系统包括用于辐射检测器的检测器模块和配置成接收来自检测器模块的辐射检测事件信号并提供光谱输出和剂量率输出的并行信号分析器。并行信号分析器可以被配置为根据相应的第一和第二测量时间在第一和第二分析通道中并行分析辐射检测事件信号，并基于根据相应的第一和第二测量时间确定的辐射检测事件能量来确定光谱输出和剂量率输出。

Dose rate measurement system

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】剂量率测量系统相关申请的交叉引用本申请是2015年11月13日提交并且题为“DOSERATEMEASUREMENTSYSTEMSANDMETHODS”的美国临时专利申请No.62/255,332的继续申请，其通过引用整体并入本文。本申请是2016年5月25日提交并且题为“SiPM-BASEDRADIATIONDETECTIONSYSTEMSANDMETHODS”的美国专利申请No.15/164,775的部分继续申请，美国专利申请No.15/164,775是2014年11月25日提交并且题为“SiPM-BASEDRADIATIONDETECTIONSYSTEMSANDMETHODS”的国际专利申请No.PCT/US2014/067489的继续申请，国际专利申请No.PCT/US2014/067489要求于2013年11月16日提交并且题为“SiPM-BASEDRADIATIONDETECTIONSYSTEMSANDMETHODS”的美国临时专利申请No.61/909,311的优先权和权益，通过引用将上述所有申请整体并入本文。
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【技术保护点】
1.一种剂量率测量系统，其特征在于，所述系统包括：/n用于辐射检测器的检测器模块，其中，所述检测器模块提供对应于入射电离辐射的辐射检测事件信号；和/n并行信号分析器，所述并行信号分析器包括第一分析通道和第二分析通道，以同时并行接收所述辐射检测事件信号，所述第一分析通道基于对应于所述辐射检测事件信号和第一测量时间的辐射检测事件能量来提供光谱输出，所述第二分析通道基于对应于所述辐射检测事件信号和第二测量时间的辐射检测事件能量来提供剂量率输出，其中，所述第一测量时间与第一分析通道和光谱输出相关联，其中，所述第二测量时间与第二分析通道和剂量率输出相关联并且不同于所述第一测量时间。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20151113 US 62/255,3321.一种剂量率测量系统，其特征在于，所述系统包括：
用于辐射检测器的检测器模块，其中，所述检测器模块提供对应于入射电离辐射的辐射检测事件信号；和
并行信号分析器，所述并行信号分析器包括第一分析通道和第二分析通道，以同时并行接收所述辐射检测事件信号，所述第一分析通道基于对应于所述辐射检测事件信号和第一测量时间的辐射检测事件能量来提供光谱输出，所述第二分析通道基于对应于所述辐射检测事件信号和第二测量时间的辐射检测事件能量来提供剂量率输出，其中，所述第一测量时间与第一分析通道和光谱输出相关联，其中，所述第二测量时间与第二分析通道和剂量率输出相关联并且不同于所述第一测量时间。


2.根据权利要求1所述的剂量率测量系统，其特征在于，所述并行信号分析器：
从辐射检测事件信号确定计数率；
确定所述计数率高于预设阈值；和
减少所述第一测量时间和/或所述第二测量时间。


3.根据权利要求1所述的剂量率测量系统，其特征在于，所述并行信号分析器：
至少部分地基于辐射检测事件信号的计数率和相应的第一测量时间或第二测量时间来确定与第一分析通道或第二分析通道相关联的仪器死区时间；
确定仪器死区时间高于预设阈值；和
减少第一测量时间或第二测量时间以将仪器死区时间降低到所述预设阈值或低于所述预设阈值。


4.根据权利要求1所述的剂量率测量系统，其特征在于，
所述第一分析通道包括光谱脉冲分析器；
所述第二分析通道包括剂量率脉冲分析器；和
所述光谱脉冲分析器和/或剂量率脉冲分析器包括用以分析辐射检测事件信号内的各个脉冲以确定对应于各个脉冲的辐射检测事件的能量的积分器、脉冲形状检测器和/或多极滤波器。


5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：F·梁，H·布兰兹，K·霍斯，L·D·霍伊，J·R·普勒斯顿，
申请(专利权)人：菲力尔探测公司，
类型：新型
国别省市：美国;US