电能的计量方法、装置和电能表制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电能的计量方法、装置和电能表，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，包括：通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。该方式中，利用多个独立的计量芯片，进行相关参数的采样，降低了成本，提高了电能表工作的稳定性。

Measurement methods, devices and meters of electric energy

【技术实现步骤摘要】
电能的计量方法、装置和电能表
本专利技术涉及计量电能
，尤其是涉及一种电能的计量方法、装置和电能表。
技术介绍
相关技术中，三相电能表可以采用一个三相计量芯片，通过三路互感器采样低电压或低电流，然后通过MCU(MicrocontrollerUnit，微控制单元)读取当前电能表计量的电压，电流，功率，电量等参数。由于电能表内部空间的限制，使得体积较大的互感器，不易安装；另外，三相计量芯片的成本较高，且电能表工作的稳定性较低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种电能的计量方法、装置和电能表，以降低成本，提高电能表工作的稳定性。第一方面，本专利技术实施例提供了一种电能的计量方法，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，该方法包括：通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。进一步的，三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；通过多个独立的计量芯片，对三相相关本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电能的计量方法，其特征在于，所述方法应用于电能表，所述电能表内置有多个独立的计量芯片，所述方法包括：/n通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到所述相关参数的值；/n根据所述相关参数的值，计量电能表的电能值。/n

【技术特征摘要】
1.一种电能的计量方法，其特征在于，所述方法应用于电能表，所述电能表内置有多个独立的计量芯片，所述方法包括：
通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到所述相关参数的值；
根据所述相关参数的值，计量电能表的电能值。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；所述多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；
通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样的步骤，包括：
通过所述多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻，对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电能表还内置有MCU；所述MCU和所述多个独立的计量芯片通过光耦隔离的方式连接；
通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数值的步骤之后，所述方法还包括：利用MCU，从所述多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，利用MCU，从所述多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值的步骤包括：利用MCU，通过SPI接口，从所述多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述相关参数的值，计量电能表的电能值的步骤，包括：
计算三相功率的累加和，得到当前功率；
将所述当前功率乘以用电时间，计量电能表的电能值。


6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑海锋，陈建锋，张亮，钱红斌，牛延谋，
申请(专利权)人：华立科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33