电能的计量方法、装置和电能表制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电能的计量方法、装置和电能表，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，包括：通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。该方式中，利用多个独立的计量芯片，进行相关参数的采样，降低了成本，提高了电能表工作的稳定性。

Measurement methods, devices and meters of electric energy

【技术实现步骤摘要】
电能的计量方法、装置和电能表
本专利技术涉及计量电能
，尤其是涉及一种电能的计量方法、装置和电能表。
技术介绍
相关技术中，三相电能表可以采用一个三相计量芯片，通过三路互感器采样低电压或低电流，然后通过MCU(MicrocontrollerUnit，微控制单元)读取当前电能表计量的电压，电流，功率，电量等参数。由于电能表内部空间的限制，使得体积较大的互感器，不易安装；另外，三相计量芯片的成本较高，且电能表工作的稳定性较低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种电能的计量方法、装置和电能表，以降低成本，提高电能表工作的稳定性。第一方面，本专利技术实施例提供了一种电能的计量方法，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，该方法包括：通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。进一步的，三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样的步骤，包括：通过多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻，对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。进一步的，电能表还内置有MCU；MCU和多个独立的计量芯片通过光耦隔离的方式连接；通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数值的步骤之后，上述方法还包括：利用MCU，从多个独立的计量芯片中，读取相关参数的值。进一步的，利用MCU，从多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值的步骤，包括：利用MCU，通过SPI接口，从多个独立的计量芯片中，读取相关参数的值。进一步的，根据相关参数的值，计量电能表的电能值的步骤，包括：计算三相功率的累加和，得到当前功率；将当前功率乘以用电时间，计量电能表的电能值。进一步的，根据相关参数的值，计量电能表的电能值的步骤之后，上述方法还包括：根据预设的脉冲常数，确定脉冲当量的目标电能；定时读取当前三相功率的累加电能；如果累加电能大于目标电能，计算累加电能与目标电能的差值；将当前累加电能更新为差值；发送脉冲；脉冲的能量为目标电能；继续执行定时读取当前三相功率的累加电能的步骤。进一步的，上述方法还包括：根据接收到的脉冲数量，以及脉冲当量的目标电能，进行电能表计量结果的误差校准和检测。第二方面，本专利技术实施例提供了一种电能的计量装置，该装置应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，该装置包括：参数采样模块，用于通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；电能计量模块，用于根据相关参数的值，计量电能表的电能值。进一步的，三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；参数采样模块，用于通过多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻，对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。第三方面，本专利技术实施例提供了一种电能表，该电能表包括：处理设备和存储装置；存储装置上存储有计算机程序，计算机程序在被处理设备运行时执行如第一方面任一实施方式的电能的计量方法。本专利技术实施例带来了以下有益效果：本专利技术实施例提供了一种电能的计量方法、装置和电能表，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。该方式中，利用多个独立的计量芯片，进行相关参数的采样，降低了成本，提高了电能表工作的稳定性。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种电能的计量方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种锰铜电阻采样的电路图；图3为本专利技术实施例提供的一种计量芯片与MCU隔离通讯的原理图；图4为本专利技术实施例提供的一种发送脉冲的方法流程图；图5为本专利技术实施例提供的一种电能的计量装置的结构示意图；图6为本专利技术实施例提供的一种电能表的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。目前三相电能表通常采用一个三相计量芯片，通过三路互感器进行参数的采样，例如，三相计量芯片可以是ATT7022芯片；通过MCU读取当前电能表计量的电压，电流，功率，电量等参数。但是，电能表内部空间有限，使得体积较大的互感器，不易安装；另外，三相计量芯片的成本较高，且电能表工作的稳定性较低。基于此，本专利技术实施例提供的一种电能的计量方法、装置和电能表，可以降低成本，提高电能表工作的稳定性，该方法可以应用于各种需要计量电能的电能表。为便于对本实施例进行理解，首先对本专利技术实施例所公开的一种电能的计量方法进行详细介绍。实施例一：本实施例提供了一种电能的计量方法，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片；如图1所示，该方法包括如下步骤：步骤S102，通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；上述多个独立的计量芯片可以三个，分别采样对应的三相相关参数，其中，独立的计量芯片也可以称为单相的计量芯片，例如，RN8209C、RN8209D等型号芯片；上述三相相关参数可以是A、B、C三相的功率，电压，电流，相位等参数，最后得到上述多个参数的值。具体的，当电能表开始工作时，用户的用电量可以通过A、B、C三相的电压、电流等参数表现，进而三相电能表可以利用多个独立的计量芯片，分别采样对应的相关参数，得到相关参数的值。步骤S104，根据相关参数的值，计量电能表的电能值。具体的，可以筛选需要的相关参数的值，通过固定的运算方式，计算得到电能表的电能值。例如，可以直接将当前功率和用电时间相乘，得到电能表的电能值；也可以将采样得到的电压和电流相乘得到当前功率，将当前功率和用电时间相乘，得到电能表的电能值。本专利技术实施例提供了一种电能的计量方法、装置和电能表，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，通过多个独立的计量芯片，对三相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电能的计量方法，其特征在于，所述方法应用于电能表，所述电能表内置有多个独立的计量芯片，所述方法包括：/n通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到所述相关参数的值；/n根据所述相关参数的值，计量电能表的电能值。/n

【技术特征摘要】
1.一种电能的计量方法，其特征在于，所述方法应用于电能表，所述电能表内置有多个独立的计量芯片，所述方法包括：
通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到所述相关参数的值；
根据所述相关参数的值，计量电能表的电能值。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；所述多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；
通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样的步骤，包括：
通过所述多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻，对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电能表还内置有MCU；所述MCU和所述多个独立的计量芯片通过光耦隔离的方式连接；
通过所述多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数值的步骤之后，所述方法还包括：利用MCU，从所述多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，利用MCU，从所述多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值的步骤包括：利用MCU，通过SPI接口，从所述多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述相关参数的值，计量电能表的电能值的步骤，包括：
计算三相功率的累加和，得到当前功率；
将所述当前功率乘以用电时间，计量电能表的电能值。


6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑海锋，陈建锋，张亮，钱红斌，牛延谋，
申请(专利权)人：华立科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33