基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置。本实用新型专利技术包括置于待测光学系统出口位置的平面镜、置于待测光学系统焦面上的焦面探测CCD，以及干涉仪；所述干涉仪的焦点位于所述待测光学系统的焦面上，所述焦面探测CCD安装在垂直设置的电动导轨上，所述平面镜设置在细分多齿分度台上。本实用新型专利技术通用性强，测量不同系统无需更换任何元件或额外增加元件。

Focal length measuring device of long focal length optical system based on self quasi plane mirror

【技术实现步骤摘要】
基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置
：本专利技术涉及一种基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置，属于光学设备

技术介绍
：在高分辨率成像应用或者地面检测装置中，长焦距甚至超长焦距光学系统应用越来越多，一般地，将焦距10米以上被认为是长焦距甚至超长焦距的光学系统。其焦距测量精度尤其重要。常规的精密测角法使用靶标板与经纬仪检测焦距，对长焦距系统测量因靶标板较小，对应的入射角度较小，经纬仪相对测量误差较大；而放大倍率法需要焦距相当量级的光学系统，检测成本较高且通用性不高。因而，传统的焦距测量方法很难应用于长焦距或超长焦距光学系统的焦距测量。
技术实现思路
：本专利技术的目的是针对上述存在的问题提供一种基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置，通过平面镜产生检测所需的平行光，完成长焦距光学系统的焦距测量。上述的目的通过以下的技术方案实现：基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置，包括置于待测光学系统出口位置的平面镜、置于待测光学系统焦面上的焦面探测CCD，以及干涉仪；所述干涉仪的焦点位于所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置，其特征是：包括置于待测光学系统出口位置的平面镜、置于待测光学系统焦面上的焦面探测CCD，以及干涉仪；所述干涉仪的焦点位于所述待测光学系统的焦面上，所述焦面探测CCD安装在垂直设置的电动导轨上，所述平面镜设置在细分多齿分度台上。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置，其特征是：包括置于待测光学系统出口位置的平面镜、置于待测光学系统焦面上的焦面探测CCD，以及干涉仪；所述干涉仪的焦点位于所述待测光学系统的焦面上，所述焦面探测CCD安装在垂直设置的电动导轨上，所述平面镜设置在细分多齿分度台上。


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【专利技术属性】
技术研发人员：李明，朱德燕，孙磊强，
申请(专利权)人：南京英田光学工程股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32