【技术实现步骤摘要】
一种LED电源板老化测试箱
本技术涉及电源板测试设备
，具体为一种LED电源板老化测试箱。
技术介绍
老化测试箱用来试验电线、电缆、绝缘体或被覆之橡胶试片，以比较试片老化前与老化后之抗拉强度及伸长率，在LED电源板的产品开发和生产过程中，为保证产品质量都要进行老化测试，但是现有的LED电源板老化测试箱，在向测试箱或者从从测试箱中取放电源板的时候，非常不便，特别是当电源板尺寸较小且数量较多时，取放较为浪费时间。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种LED电源板老化测试箱，解决了现有的LED电源板老化测试箱，在向测试箱或者从从测试箱中取放电源板的时候，非常不便，特别是当电源板尺寸较小且数量较多时，较为浪费时间的问题。(二)技术方案为达到以上目的，本技术采取的技术方案是：一种LED电源板老化测试箱，包括测试箱本体，所述测试箱本体内壁的下表面开设有两个第一滑槽，所述第一滑槽的内表面滑动连接有滑块，所述滑块的上表面与框架的下表面固定连接，所述框架的上表面卡...
【技术保护点】
1.一种LED电源板老化测试箱，包括测试箱本体(1)，其特征在于：所述测试箱本体(1)内壁的下表面开设有两个第一滑槽(2)，所述第一滑槽(2)的内表面滑动连接有滑块(3)，所述滑块(3)的上表面与框架(4)的下表面固定连接，所述框架(4)的上表面卡接有两个滑动装置(5)，所述滑动装置(5)滑动连接在第一凹槽(6)内，所述滑动装置(5)的左侧面固定连接三个凸块(7)，所述凸块(7)设置在第二凹槽(8)内，所述第二凹槽(8)开设在第一凹槽(6)内壁的左侧面，所述凸块(7)的左侧面与限位装置(9)的右端搭接；/n所述限位装置(9)的左端穿过通孔(10)并搭接在卡槽(11)内，所述...
【技术特征摘要】
1.一种LED电源板老化测试箱，包括测试箱本体(1)，其特征在于：所述测试箱本体(1)内壁的下表面开设有两个第一滑槽(2)，所述第一滑槽(2)的内表面滑动连接有滑块(3)，所述滑块(3)的上表面与框架(4)的下表面固定连接，所述框架(4)的上表面卡接有两个滑动装置(5)，所述滑动装置(5)滑动连接在第一凹槽(6)内，所述滑动装置(5)的左侧面固定连接三个凸块(7)，所述凸块(7)设置在第二凹槽(8)内，所述第二凹槽(8)开设在第一凹槽(6)内壁的左侧面，所述凸块(7)的左侧面与限位装置(9)的右端搭接；
所述限位装置(9)的左端穿过通孔(10)并搭接在卡槽(11)内，所述通孔(10)开设在框架(4)内壁的右侧面并与第二凹槽(8)相连通，所述卡槽(11)开设在放置板(13)的右侧面，所述限位装置(9)卡接在壳体(12)的左侧面，所述壳体(12)固定连接在框架(4)内壁的右侧面，所述放置板(13)搭接在第二滑槽(14)内，所述第二滑槽(14)开设在支撑板(15)的上表面，所述支撑板(15)固定连接在框架(4)的内表面；
所述滑动装置(5)的顶端与连接板(16)的下表面固定连接，所述连接板(16)的上表面卡接有调节装置(17)，所述调节装置(17)螺纹连接在螺纹孔(18)的内表面，所述螺纹孔(18)开设在框架(4)的上表面。
2.根据权利要求1所述的一种LED电源板老化测试箱，其特征在于：所述滑动装置(5)包括第一滑套(51)，所述第一滑套(51)卡接在框架(4)...
【专利技术属性】
技术研发人员：王申杰，
申请(专利权)人：济南帕沃电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
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